Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Исаенкова Лабораторная работа Рентгенографическое 2007

.pdf
Скачиваний:
109
Добавлен:
16.08.2013
Размер:
838.35 Кб
Скачать

нальным компонентам тензора деформаций εij. Во избежание путаницы γ названы «техническими» сдвиговыми деформациями, а ε23, ε31 и ε12 тензорными сдвиговыми деформациями. Следует заметить, что матрица технических деформаций

 

ε

x

γ

xy

γ

 

 

 

Рис. 5.2. Построение,

 

 

 

 

zx

(5.29)

 

γxy

εy

γyz

иллюстрирующее смысл

 

γzx

γyz

εz

 

 

компоненты γxy «технических»

 

 

 

сдвиговых деформаций

не образует тензора.

5.2. Ориентационно-зависимые свойства монокристалла

При использовании тензоров напряжения и деформации закон Гука в обобщенной форме имеет вид:

σij = Cijklεkl

(5.30)

или

 

εij = Sijkl σkl,

(5.31)

где коэффициенты упругой жесткости Cijkl и упругой податливости Sijkl образуют тензоры четвертого ранга. Тензор четвертого ранга имеет 34 = 81 независимую компоненту. Однако число компонентов тензора упругости из-за симметрии тензоров деформации и напряжения сокращается с 81 до 36, а из-за термодинамических соображений число их уменьшается до 21. Дальнейшее уменьшение связано с симметрией кристалла, так что в кубической сингонии их всего три.

Коэффициенты упругости Cijkl и Sijkl (5.30) и (5.31) удобнее записать с помощью матричных обозначений вместо тензорных

(табл. 5.1).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 5.1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тензорные

11

22

33

23

 

32

31

 

13

12

 

21

 

обозначения

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Матричные

1

2

3

 

4

 

5

 

 

6

 

обозначения

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

21

Теперь (5.30) и (5.31) можно записать как

 

σj = cijεj

(i, j = 1, 2, …, 6);

(5.32)

εj = sij σi

(i, j = 1, 2, …, 6).

(5.33)

Матрицы cij и sij являются взаимно-обратными, т.е. cijsjk = δik, где δik − единичная матрица.

Вследствие симметрии кристалла некоторые из компонентов cij и sij становятся равными нулю или равными друг другу, а число независимых среди неравных нулю коэффициентов уменьшается.

Матрицы коэффициентов упругости для кристаллов кубической сингонии имеют вид:

 

c11

c12

c12

0

 

0

 

0

 

s11

s12

s12

0

0

 

0

 

 

c12

c11

c12

0

 

0

 

0

 

s12

s11

s12

0

0

 

0

 

 

c12

c12

c11

0

 

0

 

0

 

s12

s12

s11

0

0

 

0

, (5.34)

 

0

0

0

c44

0

 

0

 

0

0

0

s44

0

 

0

 

0

0

0

0

c44

 

0

 

0

0

0

0

s44

 

0

 

 

0

0

0

0

 

0

c44

 

0

0

0

0

0

s44

а для кристаллов гексагональной сингонии

 

 

 

 

 

 

 

c11

c12

c13

0

0

 

0

 

 

 

s11

s12

s13

0

0

0

 

 

 

 

c12

c11

c13

0

0

 

0

 

 

 

s12

s11

s13

0

0

0

 

 

 

 

c13

c13

c33

0

0

 

0

 

 

 

s13

s13

s33

0

0

0

 

 

 

(5.35)

0

0

0

c44

0

 

0

 

 

 

0

0

0

s44

0

0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0

0

0

0

c44

0

 

 

 

0

0

0

0

s44

0

 

 

 

 

0

0

0

0

0

 

 

1

(c - c )

0

0

0

0

0

1

(s - s )

 

2

2

 

 

 

 

 

 

 

11

12

 

 

 

 

 

 

11

 

12

Если использовать более привычные величины: E − модуль Юнга, G − модуль сдвига и ν − коэффициент Пуассона, получим

s

=

1

, s

= −

ν

, s

44

=

1

.

(5.36)

 

 

 

11

 

E

12

 

E

 

G

 

 

 

 

 

 

 

 

В кубических кристаллах вводят параметр упругой анизотропии

А = 2с44/(с11 с12) = 2(s11 s12)/s44.

(5.37)

Тензорное представление физических свойств, в частности, крайне необходимо для описания анизотропных материалов. Это означает, что если мы вырежем испытываемый образец с ориентацией его осей g из анизотропного материала (рис. 5.3), то свойства, например, коэффициенты податливости Sijkl в уравнении (5.33), бу-

дут зависеть от ориентации g выбранного образца

 

εij = Sijkl(g) σkl,

(5.38)

22

где ориентация g задаётся эйлеровскими углами ϕ1, Φ, ϕ2. При приложении к телу внешних напряжений σ в разных направлениях тела пройдет разная деформация, определяемая тензором ε. Заметим, что уравнение (5.38) справедливо как для мо- но-, так и для поликристаллических материалов.

Переход от одной системы координат KА к другой KВ можно описать матрицей перехода:

Рис. 5.3. Испытываемый образец с ориентацией g {ϕ1, Φ, ϕ2}

g

g

g

 

 

11

12

13

 

 

g = g21

g22

g23

(5.39)

 

g32

 

 

 

g31

g33

 

Соответствующие изменения коэффициентов податливости, т.е. компоненты тензора четвёртого ранга Sijkl, можно представить в виде

Sijkl(g) = Smnop0 gim gjn gko glp,

(5.40)

где Smnop0 коэффициенты податливости, определенные в исходной

системе координат KА. Если предположить, что рассматриваемое тело монокристаллическое, то оси системы координат KА выбирают параллельными осям кристалла, например, [100], [010], [001] для кубических кристаллов.

Заслуживает внимания упрощенное изображение анизотропии физических свойств. Если из тела вырезать образец в направлении m = [mnp] = {θ, φ}, то величина, обратная модулю Юнга, в выбран-

ном направлении запишется следующим образом

 

(5.41)

ε11

= s11ij (mnp) σij = s11ij

(θ, ϕ) σij

в системе координат, в которой ось

x1

параллельна направлению

[mnp]. Свойства, зависящие от направления, можно представить поверхностью. Для свойств, описываемых тензорами второго ранга (таких как электропроводность), поверхность будет выглядеть эллипсоидом, а для тензоров четвёртого ранга, например, для обрат-

23

ного модуля Юнга

–1

(θ,ϕ)

(5.42),

[E(θ, φ)]

= s1111

представляет собой поверхность четвёртой степени.

На рис. 5.4 показаны поверхности модуля Юнга для ряда металлов. Такая поверхность не полностью характеризует анизотропию упругих свойств. Для полного описания ани-

а б зотропию модуля Юнга необходимо дополнить ориентационной зависимостью модулей сдвига.

Чтобы определить модуль Юнга

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в произвольном направлении, зада-

 

 

 

 

в

 

 

 

 

 

 

 

 

г

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ваемом направляющими косинуса-

Рис. 5.4. Поверхность модуля Юнга

ми l1, l2, l3,

 

требуется преобразо-

монокристаллов различных металлов:

 

а – золота; б – алюминия;

 

 

вать систему координат так, чтобы

в – магния; г – цинка

 

 

 

 

 

ось

x1располагалась вдоль вы-

бранного направления, тогда

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

E(l1, l2, l3) = 1/s'11.

 

 

 

 

 

 

Для кубических кристаллов

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1

2

2

2

2

2

2

 

=

 

 

 

 

 

 

 

= s11 2 (s11

s12 2

s44 ) (l1 l2

+ l2 l3

+ l1 l3 ) ,

(5.43)

s11

 

El l

 

l

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

для гексагональных кристаллов

 

 

 

 

 

 

 

 

1

 

 

2

2

 

 

 

 

4

 

2

2

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

 

= (1 l3 )

 

s11

+ l3 s33 + l3 (1 l3 ) (2s13 + s44 ) .

(5.44)

 

 

 

 

 

 

 

 

s11

El l

l

 

 

 

 

 

 

3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1 2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Отметим, что для кубической сингонии модуль Юнга не является изотропным. Для ГЦК металлов модуль Юнга увеличивается при движении от <100> к <111>, тогда как у ОЦК металлов, за исключением тантала, модуль Юнга при движении от <100> к <111> уменьшается. Наиболее изотропным является вольфрам, а среди

ГЦК металлов − алюминий (табл. 5.2).

 

Для изотропных материалов параметр упругой

анизотропии

А = 1, откуда вытекает соотношение

 

G =

E

 

 

,

(5.45)

2(1)

24

и упругие свойства изотропного тела характеризуют всего два коэффициента упругости с11 и с12 или s11 и s12. Упругие характеристики некоторых гексагональных монокристаллов приведены в табл. 5.3.

Таблица 5.2

 

Металл

 

с11,

 

с12,

 

с44,

E001,

E011,

E111,

E

A

 

 

 

 

ГПа

 

ГПа

 

ГПа

ГПа

ГПа

ГПа

ГПа

 

 

 

Al

108

61

28

63

72

76

70

1,23

 

 

 

Cu

168

121

75

67

130

191

127

3,21

 

 

 

Ag

124

93

46

43

83

120

81

3,04

 

 

 

Au

186

157

42

43

81

116

78

2,87

 

 

 

Ni

246

147

125

130

223

294

214

2,54

 

 

 

Pb

50

42

15

11

24

40

24

4,12

 

 

 

V

228

119

43

146

124

117

128

0,78

 

 

 

Nb

246

139

29

152

92

82

105

0,51

 

 

 

Ta

267

161

82

142

191

215

183

1,58

 

 

 

Cr

350

67

101

328

266

250

280

0,71

 

 

 

Mo

460

176

110

344

326

316

327

0,91

 

 

 

W

501

198

151

420

414

412

415

0,98

 

 

 

α-Fe

231

135

116

132

220

283

211

2,41

 

 

 

UO2

395

121

64

338

199

175

230

0,47

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица 5.3

 

 

 

с11,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Металл

 

с12,

 

с13,

с33,

с44,

с66,

Еср,

с/а

 

 

 

ГПа

 

ГПа

 

ГПа

ГПа

ГПа

ГПа

ГПа

 

 

 

 

Re

 

613

 

270

 

206

683

162

171

462

1,62

 

 

 

Ti

 

162

 

92

 

69

181

47

35

114

1,59

 

 

 

Be

 

292

 

27

 

14

336

162

133

311

1,57

 

 

 

Cd

 

114

 

40

 

60

51

20

38

63

1,62

 

 

 

Co

 

307

 

165

 

105

36

76

71

216

1,62

 

 

 

Hf

 

181

 

77

 

66

197

56

52

143

1,58

 

 

 

Mg

 

53

 

26

 

21

61

16

17

44

1,62

 

 

 

Zn

 

165

 

31

 

50

62

40

67

102

1,86

 

 

 

α-Zr

 

144

 

73

 

66

165

32

36

97

1,59

 

 

 

BeO

 

470

 

168

 

119

494

153

151

394

1,58

 

 

25

Рис. 5.5. Анизотропия поликристаллического материала, определяемая некоторой средней ориентацией соответствующих свойств монокристаллов

5.3. Анизотропия упругих свойств поликристаллических материалов

В технике главным образом используются поликристаллические материалы. К тому же, очень часто они ещё и многофазны. Далее для простоты изложения будем рассматривать однофазные поликристаллические материалы. Их свойства, прежде всего, определяются свойствами отдельных кристаллов и способом их объединения (агрегирования) в поликристалл. Объединение кристаллов можно описать, учитывая их размер, форму, кристаллографическую ориентацию и взаимодействие друг с другом.

Физические свойства отдельных кристаллов должны зависеть от параметров их агрегирования. Например, дислокационная субструктура и, следовательно, пластичность кристаллов зависит от их ориентации, как это наблюдается для кристаллитов холоднокатаного металлического листа. В первом приближении, мы считаем, что все кристаллы характеризуются одинаковыми свойствами. Тогда свойство поликристалла схематично можно представить рис. 5.5.

В поликристаллическом материале каждый кристалл оказывается в стесненных условиях (например, внешние напряжения) и реагирует на него в соответствии со своими физическими свойствами (тензор упругости). Так как кристаллы контактируют

друг с другом реакция одного кристалла может оказать влияние на всех своих соседей (т.е. деформация одного кристаллита влечёт за собой возникновение напряжений в соседних кристаллах). В некоторых случаях это взаимодействие кристаллов пренебрежимо мало. Это касается, например, парамагнитных свойств. В таком случае каждый кристалл испытывает только внешнее воздействие. В других случаях, например, упругие и пластические свойства, взаимодействие кристаллов существенно, и поэтому его необходимо учитывать.

26

5.3.1. Усреднение свойств без учёта взаимодействия зерен между собой

Рассмотрим простой случай отсутствия взаимодействия соседних кристаллов. Тогда каждый кристалл оказывается под воздействием одного и того же внешнего влияния, т.е. напряжения σkl определяются выражением (5.38). Тогда отклик εij зависит только от коэффициентов податливости Sijkl(g), где g – кристаллографическая ориентация отдельного кристалла. «Отклики» всех кристаллов необходимо усреднить, так чтобы определить среднее свойство. Для этого необходимо воспользоваться функцией распределения кристаллитов по ориентациям (ФРО), которая определяет относительную объёмную долю кристаллитов с ориентацией g (рис. 5.6):

 

dV/V

= f (g) .

(5.46)

 

dg

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 5.6. Ориентационное распределение кристаллитов

в поликристаллическом материале: KА – система координат образца;

KВ – система координат кристалла (зерна)

Тогда свойство поликристаллического агрегата представляет собой среднее взвешенное значение коэффициентов монокристалла:

 

 

ijkl = Sijkl (g) f (g)dg .

(5.47)

S

Рассмотрим макроскопическое свойство в некотором направлении образца y = [y1 y2 y3] = {αβ}. Если известно свойство монокристалла S(hkl) в некотором кристаллографическом направлении, а dΩ - элемент телесного угла, то свойство в выбранном направлении m запишется следующим образом:

 

S

(αβ) = S(hkl)A(hkl,αβ)dΩ ,

(5.48)

где

27

Рис. 5.7. Относительное расположение функций анизотропии свойств
для разных образцов

A(hkl ,αβ) =

dV/V

= A(h, y)

(5.49)

dΩ

 

 

 

является функцией распределения нормалей [hkl] кристаллов и выражается через ФРО как

A(h, y) =

1

f (g)dγ .

(5.50)

 

 

2π h|| y

 

Заслуживает внимания тот факт, что функция анизотропии монокристалла S(θγ) = S(hkl) должна удовлетворять симметрии кристалла, тогда как усреднённое свойство должно характеризовать симметрию образца.

Обе симметрии полностью независимы друг от друга. Без детального рассмотрения текстуры, можно только сказать, что функция свойств поликристалла S(αβ) будет располагаться где-то между максимальными и минимальными величинами функции свойств монокристалла, как схематически показано на рис. 5.7.

5.3.2. Расчёт анизотропии свойств поликристалла с учётом взаимодействия зёрен между собой

Чаще всего взаимодействием кристаллов пренебречь нельзя, т.е. каждый кристаллит «чувствует» влияние соседних зёрен. Взаимодействие с соседними зёрнами выражается в изменении напряжений σ , действующих на рассматриваемый кристаллит, на величину Δσ. Последняя величина отличается для каждого кристалла. Она может зависеть от ориентации рассматриваемого кристаллита g, а также от формы, размера, способа распределения зёрен и ориентации соседних зёрен. Тогда среднее значение деформации (отклика) для всех зёрен можно записать следующим образом:

28

εij = Sijkl (g)[σkl

+

σkl (g, t)] f (g)dg .

(5.51)

Если выразить в матричной форме

 

 

 

~

σkl

,

(5.52)

εij = Sijkl

то понятно, что

 

 

 

 

 

~

 

 

 

 

 

Sijkl

,

(5.53)

Sijkl

где Sijkl – простое усреднение в соответствии с уравнением (5.48). Так как σkl (g, t) из выражения (5.51) зависит от большого числа

параметров t помимо ориентации рассматриваемого кристаллита g,

~

истинная средняя величина S зависит именно от этих структурных параметров, в числе которых текстура. Несколько теорий~ предло-

жено для оценки истинного среднего значения величин Sijkl . При-

ближение к истинному значению упругих свойств можно получить следующим образом: закон Гука можно сформулировать двумя способами:

 

 

 

 

 

εij = Sijkl(g) σkl,

(5.54)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

σij = Cijkl (g) εkl,

(5.55)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Cijkl = [Sijkl]−1.

(5.56)

 

 

 

 

Усреднение свойств по ориентаци-

 

 

 

 

ям приводит к следующим выражени-

 

 

 

 

ям:

= Sijkl (g) f (g)dg ,

(5.57)

 

 

 

 

 

 

 

ijklR

 

 

 

 

S

 

 

 

 

 

 

ijklV

= Cijkl (g) f (g)dg .

(5.58)

 

 

 

 

C

 

 

 

 

Уравнение (5.57) верно, если все

 

 

 

 

кристаллиты

испытывают одно

и

то

 

а) Ройсс

б) Фойгт

 

же напряжение, которое равно внеш-

Рис. 5.8. Экстремальные случаи

нему напряжению σ (теория Ройсса).

 

зёренной структуры:

Уравнение (5.58) верно в случае ра-

а – пластиноподобные кристал-

венства средней деформации

ε

во

 

лы; б – карандашеподобные

всех кристаллитах (теория Фойгта).

 

 

 

кристаллы

Первый случай реализуется во всех кристаллах, которые представляют собой плоские пластины, перпендикулярные направлению воздействия напряжений (рис. 5.8, а), а второй – соответствует кристаллам, вытянутым в направлении воздействия напряжений

29

(рис. 5.8, б). В действительности такие случаи не встречаются. Зёрна чаще бывают равноосными. Тогда можно рассчитать среднее из двух экстремальных величин:

 

 

 

ijklH

=

1

 

{

 

 

ijklR

+[

 

 

ijklV ]1}

Хилл (S)

(5.59)

S

S

C

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ijklH

=

 

1

{

 

ijklV

+[

 

ijklR ]1}

Хилл (С)

(5.60)

C

C

S

 

 

2

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Такие усреднения по Хиллу обычно оказываются ближе всего к истинным величинам свойств в поликристаллических материалах (рис. 5.9). Иными словами, истинные величины определяются свойствами отдельных кристаллитов и действительным способом их взаимодействия.

× - Ройсс

- Фойгт

-Хилл(S)

- Хилл(C)

- эксперимент

Рис. 5.9. Сопоставление расчётных и измеренных зависимостей изменения модуля Юнга в плоскости прокатанного медного листа

(НП – направление прокатки)

30