
Добавил:
Upload
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:Строение В-ва и Осн.Квант.Химии / Лекции (презентации 2007) / 15 - Конденсированные струкутры.pptx
X
- •Конденсированные структуры
- •Межмолекулярные взаимодействия (ММВ)
- •Дисперсионные ММВ
- •Дипольные ММВ
- •Ориентационные ММВ
- •Ион Диполь
- •Суммарный потенциал ММВ
- •Характеристики конденсированных систем
- •СТРУКТУРЫ
- •Равновесные
- •Диссипативные структуры (автоволны)
- •Равновесные макроструктуры
- •СИСТЕМЫ
- •Влияние температуры
- •Белое олово ( -форма)
- •Пространственная конфигурация
- •Угловая функция распределения
- •Кристаллическая
- •Метод многоранников (Д. Бернал)
- •Модель кристаллической решетки
- •14 типов кристал- лических решеток
- •Глобальные формы кристаллических образцов
- •Крокоит
- •Крокоит
- •КРИСТАЛЛ
- •Примеры собственных дефектов
- •Дефекты состава
- •Влияние температуры на концентрацию собственных дефектов
- •Методы исследования твердых тел и поверхностей
- •Методы, основанные на применении рентгеновского или гамма-излучения
- •Рентгеновская дифрактометрия
- •Лауэрограмма
- •Нейтронограмма поликристаллического образца BiFeO3
- •Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)
- •Типичный РФЭ-спектр для окисленной и восстановленной форм родиевого катализатора (RhCl3/Al2O3)
- •Информация о характере и интенсивности взаимодействия активного компонента с носителем
- •Метод протяженной тонкой структуры рентгеновского поглощения (ПТСРП)
- •Чувствительность ПТС к структуре образца
- •ЯГР (мессбауэровская) спектроскопия
- •Вторая группа методов — использование в качестве зонда пучков элементарных частиц — электронов,
- •Электронная микроскопия
- •Влияние условий образования на форму кристаллитов (ПЭМ)
- •Дифракция медленных нейтронов
- •Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS)
- •Метод упругого рассеяния низкоэнергетических ионов (LEIS)
- •Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- •Режим постоянного тока
- •Результат СТМ- сканирования в катализаторе риформинга Pt-Rh/Al2O3.
- •Атомарная структура пиролитического графита сканирующая
- •Атомы золота (большие черные точки)
- •Сканирующая атомно-силовая микроскопия (SFM, AFM)
- •Результат
- •Температурно-программированные реакции (TP Techniquis)
- •Процесс сульфидирования молибден-оксидного катализатора (MoO3/Al2O3)
- •Функциональный анализ поверхности
- •Химические методы функционального анализа
- •Промежуточные типы структур
- •Частично
- •«Сферолиты»
- •Типы блоксополимерных структур:
- •Третичная и четвертичная структура белков
- •Фрагмент молекулы алкогольдегидрогеназы
- •2. Наноструктуры
- •Изображение микроглобулы кремнезема с нанесенными металлическими частицами, полученное с помощью СЭМ.
- •Фуллерены
- •Углеродные нанотрубки на поверхности кремния, размер изображения
- •Фуллерен с «включением»
- •3. Жидкие кристаллы
- •Ближний
- •4. «Айсберговые» структуры
- •5. Пористые тела
- •Фрактальный характер пористых тел

2. Наноструктуры
Структурная модель аморфно- |
|
нанокристаллического состояния, |
|
сформировавшегося после |
|
закалки из расплава со |
Нанокристаллы |
скоростью, близкой к |
|
критической. |
селенида кадмия |

Изображение микроглобулы кремнезема с нанесенными металлическими частицами, полученное с помощью СЭМ.

Фуллерены
Нанотрубки

Углеродные нанотрубки на поверхности кремния, размер изображения
1.5 мкм x 1.5 мкм

Фуллерен с «включением»
Белковый
комплекс
«ферритин»
«Сверхрешетка»

3. Жидкие кристаллы
Дальний |
«Плоские» молекулы |
|
порядок |
||
|
Ближний порядок
Ближний
порядок

Ближний
порядок
«Цилиндрические»
молекулы
Дальний
порядок
Дальний
порядок

4. «Айсберговые» структуры
Т

5. Пористые тела
Кремнеземы Al2O3 Цеолиты
Активированный
уголь
Сшитые
полимеры
Основные характеристики
Тип пор цилиндрические, конические,
щелевидные и т.д. Диаметр пор 2 – 1000 нм
Удельная поверхность 1 – 1000 м2/г

Фрактальный характер пористых тел
Снежинка Коха (D ≈ 1,26)
Губка Менге (D ≈ 2,73)
http://polit.ru/article/2011/08/18/oganov2011txt/
Соседние файлы в папке Лекции (презентации 2007)