Дефекты состава
Влияние температуры на концентрацию собственных дефектов
Сдеф.
Кристаллическое |
Аморфное |
состояние |
состояние |
Фазовый
переход
Т
Тф.п.
Методы исследования твердых тел и поверхностей
XRD
Adsorption / BET
Infrared
XPS / UPS
TP Techniquis
TEM / SEM
NMR
UV-vis
EXAFS
ESR
XANES
AES
LEED
Raman
Mossbauer
STM
ISS / LEIS
Calorimetry
Neutron scattering
SIMS
RBS
рентгеновская дифрактометрия
адсорбционные методы / с использованием БЭТ-изотерм
ИК-спектроскопия
рентгеновская / ультрафиолетовая ФЭС
температурно-программированные реакции (восстановление, окисление, сульфирование и др.)
просвечивающая / сканирующая электронная микроскопия
ЯМР-спектроскопия
УФ- и видимая электронная спектроскопия
метод протяженной тонкой структуры рентгеновского поглощения (ПТСРП)
ЭПР-спектроскопия
рассеяние рентгеновских лучей при малых углах
атомно-эмиссионная спектроскопия
дифракция низкоэнергетических (медленных) электронов
КР-спектроскопия
ЯГР-спектроскопия
сканирующая туннельная микроскопия
рассеяние ионных пучков низкой энергии
калориметрия
нейтронография
масс-спектрометрия вторичных ионов (облучение ионными пучками) «резерфордовское» (обратное) рассеяние альфа-частиц
Методы, основанные на применении рентгеновского или гамма-излучения
При облучении образца рентгеновскими лучами может наблюдаться несколько эффектов.
1)рассеяние (дифракция) и преломление первичного пучка — методы РСА и рентгеновской дифрактометрии;
2)фотоэлектронный эффект — метод РФЭС;
3)энергетическое возбуждение электронов (с последующей релаксацией) — методы рентгеновской флуоресценции и ПТСРП.
При облучении образца гамма-лучами происходит возбуждение атомных ядер — ЯГР (мессбауэровская) спектроскопия.
Рентгеновская дифрактометрия
Информация — тип кристаллической решетки, межплоскостные расстояния и др.
Лауэрограмма
произвольно
установленного
монокристалла
берилла
Лауэрограмма
ориентированного
монокристалла
берилла
Нейтронограмма поликристаллического образца BiFeO3
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)
Основное назначение — химический анализ поверхности
твердых тел (ЭСХА)
Энергия связи
Е = h – T
— величина, характеристическая для каждого химического элемента, а также зависит от химического окружения атома (химический сдвиг).