
Добавил:
Upload
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз:
Предмет:
Файл:Строение В-ва и Осн.Квант.Химии / Лекции (презентации 2007) / 15 - Конденсированные струкутры.pptx
X
- •Конденсированные структуры
- •Межмолекулярные взаимодействия (ММВ)
- •Дисперсионные ММВ
- •Дипольные ММВ
- •Ориентационные ММВ
- •Ион Диполь
- •Суммарный потенциал ММВ
- •Характеристики конденсированных систем
- •СТРУКТУРЫ
- •Равновесные
- •Диссипативные структуры (автоволны)
- •Равновесные макроструктуры
- •СИСТЕМЫ
- •Влияние температуры
- •Белое олово ( -форма)
- •Пространственная конфигурация
- •Угловая функция распределения
- •Кристаллическая
- •Метод многоранников (Д. Бернал)
- •Модель кристаллической решетки
- •14 типов кристал- лических решеток
- •Глобальные формы кристаллических образцов
- •Крокоит
- •Крокоит
- •КРИСТАЛЛ
- •Примеры собственных дефектов
- •Дефекты состава
- •Влияние температуры на концентрацию собственных дефектов
- •Методы исследования твердых тел и поверхностей
- •Методы, основанные на применении рентгеновского или гамма-излучения
- •Рентгеновская дифрактометрия
- •Лауэрограмма
- •Нейтронограмма поликристаллического образца BiFeO3
- •Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (РФЭС)
- •Типичный РФЭ-спектр для окисленной и восстановленной форм родиевого катализатора (RhCl3/Al2O3)
- •Информация о характере и интенсивности взаимодействия активного компонента с носителем
- •Метод протяженной тонкой структуры рентгеновского поглощения (ПТСРП)
- •Чувствительность ПТС к структуре образца
- •ЯГР (мессбауэровская) спектроскопия
- •Вторая группа методов — использование в качестве зонда пучков элементарных частиц — электронов,
- •Электронная микроскопия
- •Влияние условий образования на форму кристаллитов (ПЭМ)
- •Дифракция медленных нейтронов
- •Масс-спектрометрия вторичных ионов (SIMS)
- •Метод упругого рассеяния низкоэнергетических ионов (LEIS)
- •Сканирующая туннельная микроскопия (STM)
- •Режим постоянного тока
- •Результат СТМ- сканирования в катализаторе риформинга Pt-Rh/Al2O3.
- •Атомарная структура пиролитического графита сканирующая
- •Атомы золота (большие черные точки)
- •Сканирующая атомно-силовая микроскопия (SFM, AFM)
- •Результат
- •Температурно-программированные реакции (TP Techniquis)
- •Процесс сульфидирования молибден-оксидного катализатора (MoO3/Al2O3)
- •Функциональный анализ поверхности
- •Химические методы функционального анализа
- •Промежуточные типы структур
- •Частично
- •«Сферолиты»
- •Типы блоксополимерных структур:
- •Третичная и четвертичная структура белков
- •Фрагмент молекулы алкогольдегидрогеназы
- •2. Наноструктуры
- •Изображение микроглобулы кремнезема с нанесенными металлическими частицами, полученное с помощью СЭМ.
- •Фуллерены
- •Углеродные нанотрубки на поверхности кремния, размер изображения
- •Фуллерен с «включением»
- •3. Жидкие кристаллы
- •Ближний
- •4. «Айсберговые» структуры
- •5. Пористые тела
- •Фрактальный характер пористых тел

Кристаллическая |
Аморфная |
фаза |
фаза |
«Дальний» порядок |
«Ближний» порядок |
Радиус корреляции
r * = |
r * = 1 2 нм |
|||
Анизотропия свойств |
Изотропия свойств |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|

Метод многоранников (Д. Бернал)
Ni / N
10 12
Число граней
Ni / N
5 6
Число ребер в грани

Модель кристаллической решетки


14 типов кристал- лических решеток
(решетки
Браве)
Симметрия
230 групп Федорова

Глобальные формы кристаллических образцов

Крокоит
Гематит

Крокоит
Альбит
Флюорит

КРИСТАЛЛ
Идеальный Реальный
Дефекты решетки
Собственные |
Поверхность |
Примесные |
|
Свободные атомы |
Атомы-заместители |
||
(электроны) и вакансии |
Коллоидная |
и молекулы- |
|
(дырки) |
|||
химия |
заместители |
||
Дислокации |
(катионы и анионы) |
||
и катализ |
|||
Ребра и уступы |
|
||
|
|
Конструкционные |
|
Электроника и |
материалы |
|
лазерная оптика |

Примеры собственных дефектов
Соседние файлы в папке Лекции (презентации 2007)