- •5. Проводящие материалы
- •7.Проводящая разводка ис на основе меди.
- •16.Формирование примеси в монокристаллическом кремнии.
- •17.Микродефекты монокристаллического кремния.
- •27. Применение мкр Si
- •28. Получение мкр Si
- •29. Свойства мкр Si
- •30.Применение гетероструктур на основе эпитаксиальных слоев Si-Ge.
- •31.Формирование эритксиальных слоев SiGe.
- •32.Проблемы кремниевой оптоэлектроники.
- •33.Светоизлучающие структуры на основе Si легированного эрбием.
- •34.Методы получения кремния легированного эрбием.
- •35. Люминисценция в системе Si-эрбий
- •41. Свойства SiC
- •42. Получение SiC
- •43. Применение Проводников a3b5.
- •44. Свойства п/п типа a3b5.
- •45. Свойства и получение монокристаллов GaAs.
- •46. Свойства GaN
- •47. Получение GaN
- •48. Применение полупроводников типа a2b6
- •50. Применение термоэлектрических Материалов
- •51 Термоэлектрические материалы
- •52. Cовременные Тенденции в области термоэлектричества.
- •53 Классификация диэлектрических материалов
- •54 Стекла.
- •55. Строение стекол.
- •57 Функции пассивных диэлектриков в микроэлектронике.
- •59. Свойства Керамических материалов.
- •60.Технология керамических материалов.
- •63. Ксерогель и аэроргель
- •69.Применение проводящих полимерных пленок в микроэлектронике.
57 Функции пассивных диэлектриков в микроэлектронике.
Основные пассивные функции, которые выполняют диэлектрики в составе полупроводниковых интегральных схем, следующие.
1. Подложки для ИС, изготавливаемых по тонко- и толстопленочной технологии.
2. Диэлектрические детали корпуса и кристаллодержатели. Применяются бериллиевая керамика, ситаллы, композиционные материалы.
3. Структуры КНИ (кремний на изоляторе), которые позволяют изготавливать ИС с полной диэлектрической изоляцией.
4. Конденсаторы и резисторы для толстопленочной технологии. Пленки стекол используются и в качестве диэлектриков тонкопленочных конденсаторов (SiO2, Si3N4, Al2O3, Та2О5).
5. Защитные пленки для бескорпусной защиты СБИС и толстоплв-ночных БГИС. Используют стекла БСС, ФСС, БФСС и другие легкоплавкие стекла, SiO2 + Si3N4
6. Межслойная изоляция. Используются SiO2, те же диэлектрики, что и в предыдущем пункте.
7. Пассивация и стабилизация полупроводниковой поверхности. В технологии СБИС применяют стекловидные диэлектрические пленки ФСС, БСС и БФСС, которые способны выполнять роль геттеров нежелательных легкоподвижных ионов (Na*, К*,Сu2*, Аg*), блокируя их в своем объеме и стабилизируя тем самым параметры приборов.
8. Планаризация развитого рельефа. Используются пленки БСС и ФСС. Размягчаясь при 1000 - 1100 °С, такие пленки формируют гладкий рельеф, что применяется для сглаживания развитого рельефа в многоуровневых СБИС. Использование БФСС позволяет снизить температуру оплавления ниже 1000 6С, при этом геттерирующие свойства сохраняются.
9. Маскирующие покрытия. Сквозь специально сформированные окна в таких покрытиях осуществляется диффузия в полупроводник легирующей примеси. Используются SiO2, Si3N4
10. Подзатворный диэлектрик в МОП-транзисторах. Важнейшее требование в данном случае - качество границы полупроводник - диэлектрик, минимальная плотность зарядов на ней. Именно поэтому обычно используют тонкий слой термически выращенного SiO2
11. Источник диффузионного легирования. Используют стекла БСС, ФСС
59. Свойства Керамических материалов.
Керамика - стеклокристаллический материал, представляющий собой гетерогенную систему из кристаллических и аморфных стекловидных фаз, содержащих некоторое количество воздушных включений Различные типы керамики отличаются количеством кристаллической и стекловидной фаз в очень широких пределах. Кроме того присутствуют некоторое кол-во воздушних включений.
Кристаллическую фазу образуют различные химические соединения или твердые растворы этих соединений.
Основные свойства Керамики – диэлектрическая проницаемость, диэлектрические потери, ТКР, механическая прочность в значительной степени определяются свойтвами кристаллической фазы. Стекловиданя фаза представляет собой прослойки стекла связыв. технологическую фазу. Технологические свойства керамики – температура спекания, степень пластичности керамической массы при формировании восновном определяется кол-во стекловидной фазы. От ее содержания зависит так-же плотность, степень пористости, и гигроскопичность материала.
В некоторых типах керамики стеклофаза практически отсутствует. Главными химическими компонентами керамических материалов являются оксиды различных элементов: Аl2О3, ВеО, СаО, МgО, ZrО2, TiO2, SiO2 и т.д. Они образуют группц кислородсодержащей керамики.
Существует также безкислородная керамика на основе карбидов, нитридов, баридов, металлов.