Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
МУ_КП_2012.doc
Скачиваний:
31
Добавлен:
15.04.2015
Размер:
290.3 Кб
Скачать

7. Моделирование устройства

Время моделирования следует установить 12 мкс. из меню редактора диаграмм File/End Time.

Настройка и моделирование схем, содержащих обратные связи, обычно выполняется в несколько этапов. Вначале обратные связи размыкают, упрощая отладку. В разрабатываемом устройстве обратная связь создается за счет влияния признаков результата на работу управляющего автомата.

1 этап отладки выполняется с фиксированными значениями признаков на входах управляющего автомата, и с блокировкой записи в память. Схема «device1.gdf» для данного этапа будет иметь отличия от рис. 9. Для модуля LPM_RAM_DQ необходимо установить сигнал we = 0 (вывод подключен к метке g - gnd), а вывод we управляющего автомата не используется. В результате запись в память происходить не будет, содержимое памяти на данном этапе не будет модифицироваться. Признаки результата на входах управляющего автомата временно зафиксированы: х1 = 1, х2 = 1, х3 = 1, для этого входы необходимо подключиь к метке «v». Такое сочетание признаков соответствует основному циклу алгоритма.

Для проверки работы памяти, АЛУ и формирователей признаков необходимо инициализировать память. После вызова симулятора, следует, не нажимая кнопку «Start», вызвать из меню Initialize пункт Memory Initialize. В открывшемся окне следует ввести тестовый массив данных.

Тестовый массив данных должен содержать 4 группы по 4 числа. Каждой группе чисел должна соответствовать определенная комбинация признаков. Для данного варианта это будут следующие числа (в 16-ричной системе): 1 группа, х2 = 0, х1 = 0 - четные положительные числа (например, 12, 24, 46,68); 2 группа, х2 = 0, х1 = 1 - четные отрицательные числа (8A, 9C, AE, B0); 3 группа, х2 = 1, х1 = 0 - нечетные положительные числа (13,35, 57,69); 4 группа, х2 = 1, х1 = 1 - нечетные отрицательные числа (89, 9B, AD, BF). записи

После ввода массива в таблицу, необходимо записать его в файл кнопкой Export File. Будет создан файл содержимого памяти с именем проекта и расширением .mif. Следует создать копию данного массива с другим именем, так как в при тестировании устройства, данные тестового массива могу быть модифицированы. Подобных файлов может быть несколько, загрузку выполняет кнопка Import File.

Для того, чтобы содержимое памяти при компиляции устройства загружалось из файла, необходимо открыть окно параметров модуля памяти, и для параметра «LPM File» указать путь к файлу.

При тестировании устройства необходимо выбрать длительность моделирования порядка 12 мкс (из меню File / End Time) и, подбирая масштаб, анализировать участки временной диаграммы.

Временные диаграммы для удобства анализа можно перемещать указателем мыши. Необходимо проверить процессы: чтения чисел из тестового массива; формирования признаков результата; инкремент счетчиков чисел и адреса; модификацию чисел в АЛУ.

Изменяя время моделирования и масштаб времени, можно проверить работу всех модулей устройства.

2 этап отладки

Разработанную и предварительно настроенную схему «Device1» следует сохранить как «Device2», и в новой схеме выполнять изменения сигналов в соответствии с (Рис. 9). На управляющий автомат поданы сигналы Х, формируемые в АЛУ. Выходной сигнал автомата «we» подан на управление записью в память, для этого сигнала добавлен терминал для вывода сигнала при моделировании. В результате схема устройства приводится к окончательному виду, предназначенному для завершающего этапа тестирования устройства с замкнутыми обратными связями.

Р

Рис. 9. Схема «Device2»

абота устройства должна соответствовать алгоритму, она заканчивается после записи в память содержимого счетчика чисел.

9

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]