- •Электронный учебно- методический комплекс
- •Уравнения непрерывности
- •ПРИНЯТЫЕ ДОПУЩЕНИЯ ПРИ РАСЧЁТЕ ВАХ
- •Но в квазинейтральной области напряженность внешнего электрического поля равна нулю!
- •jp jpдиф q Dp dpdx
- •Решение уравнения для ВАХ
- •ВАХ тонкого pn-перехода описывается уравнением:
- •Распределение носителей в p-n переходе
- •Расчет для кремниевого p-n-перехода
- •При обратном смещении:
- •ВАХ p-n-перехода
- •Оценим, насколько справедливо в нашем примере предположение, что напряжение смещения приложено только к
- •Прямое смещение p-n-перехода
- •Обратное смещение p-n-перехода
- •Энергетические диаграммы при прямом и обратном смещении p-n-перехода
- •Влияние различных факторов на ВАХ pn-перехода
- •Влияние температуры на ВАХ
- •ВАХ кремниевого и германиевого диодов
- •Влияние генерации-рекомбинации на ВАХ
- •Емкостные свойства pn-перехода
- •К расчету емкости p-n- перехода
- •Барьерная емкость диода
- •Емкость pn-перехода может изменяться в значительных пределах, что позволило использовать это свойство в
- •Диффузионная емкость pn-перехода
- •Пробой p-n-перехода
- •Обратная ВАХ при различных видах пробоя
- •Схема, иллюстрирующая лавинный пробой
- •Лавинный пробой
- •Коэффициент лавинного умножения M, определяемый как
- •Напряжение лавинного пробоя зависит от степени легирования p- и n-областей. Так, например для
- •Зависимость напряжения лавинного пробоя от
- •Температурная зависимость напряжения лавинного пробоя определяется уменьшением длины свободного пробега носителей заряда с
- •Туннельный пробой pn-перехода
- •Зонная диаграмма сильнолегированного p-n-перехода при обратном смещении
- •Чтобы этот эффект имел место, электрическое поле должно быть настолько сильным, чтобы обеспечить
- •Напряжение туннельного пробоя сравнительно слабо зависит от температуры. Однако с ростом температуры ширина
- •Тепловой пробой pn-перехода
- •Влияние сопротивления базы на ВАХ
- •Прямая ВАХ в полулогарифмическом масштабе
- •Толщина базы ln Wn Vcм , в свою очередь, влияет на закон распределения
- •Характеристическое сопротивление диода
- •Сопротивление по постоянному току RD
- •Переходные процессы в полупроводниковых диодах
- •Координатные зависимости p(x,t) в различные моменты времени
- •Обратный ток обусловлен только диффузией дырок к границе ОПЗ p-n-перехода:
- •Зависимость обратного тока при переключении диода
- •Полупроводниковые диоды
- •Выпрямительные диоды
- •ВАХ идеализированного выпрямляющего устройства
- •ВАХ реального pn-перехода
- •Выпрямительный, или силовой, диод – прибор, предназначенный для выпрямления переменного тока. Их
- •выпрямленного тока (а). простейшая выпрямительная
- •Качественное сравнение ВАХ германиевого и кремниевого диода
- •При повышении температуры изменяются практически все электрофизические свойства полупроводников, поэтому изменяются и параметры
- •Изменение температуры диода может произойти не только вследствие изменения температуры окружающей среды, но
- •Снижение влияния температуры добиваются путем введения специальных конструктивных элементов корпусов – радиаторов
- •Стабилитроны
- •ВАХ стабилитрона
- •Основными характеристиками стабилитрона являются ток Iст и напряжение Uст стабилизации, дифференциальное напряжение стабилитрона
- •В режиме короткого замыкания (Uст 0)
- •Туннельные диоды
- •Энергетические диаграммы сильно- легированных полупроводников
- •ВАХ туннельного диода
- •ВАХ туннельного диода
- •ВАХ туннельного диода
- •ВАХ туннельного диода
- •ВАХ туннельного диода
- •Обращенный диод
- •Расчет ВАХ барьера Шоттки
- •Расчет ВАХ барьера Шоттки
- •ВАХ диода Шоттки
- •Диод Шоттки
- ••Диоды Шоттки характеризуются быстрой рекомбинацией инжектированных носителей (время жизни носителей крайне мало), а
Чтобы этот эффект имел место, электрическое поле должно быть настолько сильным, чтобы обеспечить такой наклон зон, при котором заполненные электронами уровни валентной зоны оказались напротив незаполненных энергетических уровней разрешенной зоны, а ширина потенциального барьера сравнима с длиной волны де Бройля электрона.
Напряжение туннельного пробоя сравнительно слабо зависит от температуры. Однако с ростом температуры ширина запрещенной зоны германия и кремния уменьшается, вероятность туннелирования возрастает, и величина критической напряженности поля уменьшается. Поэтому напряжение туннельного пробоя уменьшается.
Поскольку напряжение, при котором возникает лавинный и туннельный пробой достаточно стабильно, этот эффект используется для создания приборов, падение напряжения на которых остается стабильным при изменении тока –
стабилитронов.
Тепловой пробой pn-перехода
При увеличении обратного напряжения увеличивается мощность, рассеиваемая в переходе в виде тепла, поэтому для pn-переходов со сравнительно высокими обратными токами возможен разогрев.
Начавшийся разогрев, в свою очередь, приведет к увеличению обратного тока. Таким образом, в pn-переходе возникает положительная обратная связь, ведущая к возникновению тепловой неустойчивости – тепловому пробою.
Влияние сопротивления базы на ВАХ
Прямая ВАХ в полулогарифмическом масштабе
Толщина базы ln Wn Vcм , в свою очередь, влияет на закон распределения инжектированных носителей и диффузионных токов.
Экспоненциальное распределение, |
представленное в |
|||||||||
формулах справедливо для длинной базы, то есть при |
||||||||||
ln Wn Vcм Lp |
|
|
|
|
|
|||||
В случае короткой базы: |
|
xn |
Wn |
|
x |
|||||
|
sh |
|
||||||||
|
|
Lp |
|
|
|
|||||
pn x pn0 pn0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
||
sh |
|
xn |
Wn |
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
Lp |
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
1 |
|
|
|
x |
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
||||
|
|
|
|
|
|
|||||
pn x pn0 pn0 |
|
x |
|
W |
|
|
||||
|
|
|
|
|
n |
|
||||
|
|
|
|
|
|
n |
||||
Характеристическое сопротивление диода
Различают два вида характеристического сопротивления диодов: дифференциальное сопротивление rd и сопротивление по постоянному току RD.
Дифференциальное сопротивление определяется как
|
|
|
|
r dVсм |
|
dI |
1 |
|
|
|
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
d |
|
dI |
dV |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
см |
|
|
|
|
|
|||
|
|
Is |
|
V см |
|
|
Is |
|
Is |
1 |
|
|
I Is |
|
1 |
T |
||
|
|
exp |
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
|
T |
|
Т |
|
T |
|
|
|
|
T |
|
I Is |
||||||
|
|
|
|
T |
|
|
|
|
||||||||||
Сопротивление по постоянному току RD
Определяется как отношение приложенного напряжения к протекающему току через диод:
R |
Vсм |
|
|
|
|
Vсм |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
D |
I |
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|||||||
|
|
|
I |
s |
exp |
Vсм |
|
1 |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
Т |
|
|
|
На прямой ВАХ сопротивление RD >rd, на обратной – RD <rd.
В точке вблизи нулевого значения напряжения Vсм kT
q
значения сопротивлений совпадают. Действительно, разложив экспоненту, получаем:
R |
|
1 |
kT |
1 |
r |
|
D |
T Is |
q |
Is |
d |
Переходные процессы в полупроводниковых диодах
При быстрых изменениях напряжения на полупроводниковом диоде значение тока через диод, соответствующее статической ВАХ, устанавливается не сразу. Процесс установления тока при таких переключениях называют
переходным процессам.
Переходные процессы в полупроводниковых диодах связаны с накоплением носителей в базе диода при его прямом включении и их рассасывании в базе при быстром изменении полярности напряжения на диоде. Так как электрическое поле в базе обычного диода отсутствует, то движение неосновных носителей в базе определяется законами диффузии и происходит относительно медленно. В результате кинетика накопления носителей в базе и их рассасывание влияют на динамические свойства диодов в режиме переключения.
|
|
|
|
|
x |
|
||
При t 0 |
pn x pn1 |
pn0 |
exp |
|
|
|
|
pn0 |
L |
|
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
p |
|
|
С течением времени концентрация неравновесных носителей будет убывать, следовательно, будет убывать и обратный ток.
За время τ0, называемое временем восстановления обратного сопротивления или временем рассасывания, обратный ток придет к значению, равному току насыщения.
|
|
|
|
|
|
|
|
x |
|
При t |
p |
n |
p |
n0 |
1 |
exp |
|
|
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
Lp |
|
