2.3.2 Дырочная проводимость
Под действием электрических полей валентные электроны могут переходить на незанятое место, что соответствует встречному перемещению дырок по кристаллу. При этом все рассмотренные в предыдущем разделе формулы, характеризующие движение свободного электрона справедливы и для движения дырки. Только надо сделать поправку на знак заряда. Подвижность дырок:
|
|
(2.30) |
Следует отметить, что скорость электронов направлена против поля (от минуса к плюсу), а скорость дырок – по полю, от плюса к минусу.
Плотность дырочного тока:
|
Jp = σp·E, |
(2.31) |
где σp – дырочная проводимость (Ом∙см).
|
|
|
|
Рис. 2.11. |
|
|
|
(2.32) |
Рассеяние дырок будет проходить также на колебаниях решетки и заряженных примесях и дефектах. Ход температурной зависимости будет аналогичен:
|
|
(2.33) |
где μpr – подвижность при рассеянии на решетке, μpi – подвижность при рассеянии на ионизированной примеси. Суммарная электропроводность материала определяется общим количеством электронов и дырок:
|
σ = σn + σp = qμnn + qμpp = q(μnn + μpp). |
(2.35) |
Плотность тока проводимости в кристалле будет равна:
|
J = Jn + Jp = σE = (σn + σp)E = q(μnn + μpp)E. |
(2.36) |
2.3.3 Собственная проводимость
Зависимость электропроводности собственного материала от температуры:
|
|
(2.37) |
По экспериментальной зависимости электропроводности от температуры можно оценить ширину запрещенной зоны. Действительно, допустим, что мы произвели измерение собственной проводимости в двух различных точках:
|
|
(2.38) |
|
|
(2.39) |
Поделив значения электропроводности при разных температурах друг на друга и прологарифмировав получим:
|
|
(2.40) |
Глава 3. Неравновесные электронные процессы
При заданной температуре в отсутствии внешних воздействий процессы тепло-, электро- и массопереноса в кристалле приходят в равновесие. Под равновесными носителями заряда понимают свободные электроны и дырки, возникшие в результате тепловой генерации и находящиеся в тепловом равновесии с решеткой кристалла. Равновесная концентрация электронов и дырок характеризуются положением уровня Ферми.
В
отличие от равновесных, у избыточных
неравновесных
носителей
заряда,
появляющихся в результате освещения
с энергией квантов
,
или инжекции (их концентрации обозначаются
как Δn
и
Δp).
условие n·p=ni2
не соблюдается, и концентрации
неравновесных носителей заряда
характеризуются квазиуровнями
Ферми для
электронов Fn
и для дырок Fp.
|
|
(3.4) |
где n0 и p0 - равновесные концентрации, Fn и Fp – квазиуровни Ферми.
Чем сильнее отклонение от равновесия, тем дальше квазауровни Ферми отстоят друг от друга (рис. 3.1).
|
|
|
Рис. 3.1. К понятию квазиуровня Ферми |
Если
температура полупроводника близка к
комнатной, все примеси ионизованы и
возбуждение избыточных носителей идет
по механизму зона-зона, говорят об
условии
квазинейтральности
.
Напомню, что переходы между уровнями и зонами происходят в результате изменения скорости процессов генерации и рекомбинации носителей. Процесс превращения связанного электрона в свободный носит название генерации (G на рис. 3.3, а). Процесс превращения свободного электрона в связанный носит название рекомбинации (R на рис. 3.3,а).
|
|
|
Рис. 3.3 |
При рекомбинации электрон, возбужденный в зону проводимости, возвращается в валентную зону, и энергия, первоначально затраченная на его возбуждение, выделяется в виде света или тепла.
В равновесном состоянии скорость генерации (число электронов, генерируемых в единице объема в единицу времени) равна скорости рекомбинации (число электронов, рекомбинирующих в единице объема в единицу времени):
|
|
(3.6) |
γ – коэффициент пропорциональности или коэффициент рекомбинации.
Концентрация неравновесных носителей может быть меньше концентрации равновесных носителей (Δn<<n0, Δp<< p0), в этом случае говорят о низком уровне возбуждения или низком уровне инжекции. При высоком уровне возбуждения или высоком уровнеинжекции концентрация неравновесных носителей сравнима или превышает равновесную концентрацию.
Н
епосредственно
после процесса генерации или инжекции
энергия неравновесных носителей может
значительно превосходить среднюю
энергию равновесных носителей (рис.
3.4), которая по
порядку величины равна kT,
соответственно.
|
|
|
Рис. 3.4. Процесс релаксации избыточной энергии носителя заряда (электрона) в зоне проводимости |
подвижность избыточных носителей заряда может значительно превышать подвижность равновесных носителей.
После прекращения действия возбуждения между решеткой и электронами в течение некоторого времени вновь устанавливается тепловое равновесие, энергия неравновесных носителей быстро снижается (волнистая кривая на рис. 3.4) и их подвижность становится такой же, как у остальных носителей, находящихся в термодинамическом равновесии. Эти процессы характеризуются временем максвелловской релаксации (или просто временем релаксации).
|
|
(3.8) |
где εs – диэлектрическая проницаемость полупроводника (от англ. semiconductor - полупроводник), ε0 = 8,85·10-14 Ф/см – электрическая постоянная, ρ – удельное сопротивление, σ – электропроводность полупроводника. При εs=10, σ~1 Ом-1см-1 τμ~10-12 с.
Время жизни, т.е. время нахождения избыточных носителей в разрешенных зонах, как правило, значительно превосходит эту величину, составляя 10–2 – 10–7 с. Следовательно, большую часть времени своего свободного существования неравновесные носители проводят в состоянии, когда они не отличаются своей средней кинетической энергией (температурой) от равновесных.
Появление неравновесных носителей заряда приводит к увеличению проводимости:
|
|
(3.9) |
где
q
– заряд электрона,
и
–
подвижности электронов и дырок
соответственно,
– избыточная неравновесная проводимость.
Изменение концентрации носителей во времени определяется уравнением непрерывности:
|
|
(3.10) |
Здесь G – скорость генерации, R – скорость рекомбинации.
После снятия возбуждения (выключения света, прекращении инжекции) (G=0) концентрации электронов и дырок уменьшаются в результате рекомбинации, и кристалл возвращается к равновесному состоянию, в котором Δn=0 и Δp=0. Скорость рекомбинационных процессов (исчезновение избыточных носителей, после снятия возбуждения) характеризуется их временем жизни неравновесных носителей заряда: τn, τp. При рекомбинации зона-зона τn= τp=τ. При G=0 уравнение непрерывности примет вид:
|
|
(3.14) |
Уменьшение концентрации носителей определяется процессом линейной рекомбинации. Решение этого уравнения имеет вид:
|
|
(3.15) |
Здесь Δn(0) – избыточная концентрация электронов в момент выключения света (прекращения инжекции), τ – среднее время существования избыточной концентрации носителей или время жизни неравновесных носителей, для собственного полупроводника – время жизни электронно-дырочных пар.
График
зависимости избыточной концентрации
от времени представлен на рис. 3.5. При
t=τ
.
В соответствии
с (3.15)
τ
можно определить как время, в течение
которого концентрация неравновесных
(избыточных) носителей заряда убывает
в e
раз.
|
|
|
Рис. 3.5 |
Отметим, что линейная рекомбинация характерна при низком уровне инжекции носителей, при высоком уровне возбуждения процессы определяются квадратичной рекомбинацией:
|
|
(3.16) |
При квадратичной рекомбинации концентрация уменьшается по гиперболическому закону. Аналогичные соотношения можно написать для дырок.
Механизмы рекомбинации можно разделить на два вида: межзонную и рекомбинацию через ловушки (центры рекомбинации). Межзонная рекомбинация осуществляется при переходе электрона из состояния в зоне проводимости в пустое состояние валентной зоны, что равносильно уничтожению свободного электрона и свободной дырки.
Как правило, при малых концентрациях неравновесных носителей (малый уровень возбуждения) имеет место рекомбинация через ловушки (примеси и др. дефекты решетки), при больших концентрациях возрастает вероятность прямой рекомбинации. Эффективность работы ловушек зависит от того, где расположен энергетический уровень ловушки. Наиболее эффективными будут те ловушки, энергетический уровень которых расположен в середине зоны.
|
|
|
Рис. 3.6 |
В зависимости от того, каким образом рассеивается избыток энергии ΔЕ межзонная рекомбинация делится на три типа: излучательная (ΔЕ=hν); безизлучательная или фононная (ΔЕ передается решетке на образование фонона); ударная или Оже-рекомбинация (ΔЕ передается третьему носителю заряда, в результате чего происходит освобождение электрона с другой орбитали).





,


