лекции нанотех Горбунов / Лекция 3
.pdf
Электронография
• Монокристалл BaCl∙H2O |
• Поликристалл NaCl |
• Текстура (NH4)2SiF6 |
Электронография – это дифракционный метод изучения структуры вещества,
основанный на анализе рассеяния образцом ускоренных электронов. Электроны,
прошедшие через образец (толщиной не более нескольких микрон), формируют
дифракционную картину (электронограмму), которая регистрируется.
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
21 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
22 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
E 0.5кэВ 30кэВ
Локальный хим. состав
Фазовые неоднородности
Рельеф поверхности |
|
ЭОС – элементный состав |
|
|
Локальный хим. состав |
|
Химическая структура |
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
23 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
24 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
25 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
Конгломераты наночастиц |
Оксид меди |
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
26 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
Частицы Sn, |
Углеродные |
Раковая клетка |
декорированные Au |
нанотрубки |
|
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
27 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
Корродированная поверхность |
Pd-катализатор на SiO2. |
металла |
Z-контраст. |
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
28 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
Некоторые типы цеолитов
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
29 |
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
30 |