лекции нанотех Горбунов / Лекция 3
.pdf
STED (stimulation emission depletion) микроскопия
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
11 |
Нанодиагностика с помощью электронных и ионных пучков
Локальность (в диагностике) характеризует размер области изучаемого объекта, с которой регистрируется сигнал, характеризующий измеряемые параметры объекта, либо процессы, протекающие в этом объекте.
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
12 |
Диагностика и микроанализ с помощью электронных и ионных пучков
Диагностика
(упругие взаимодействия)
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
Сканирующая электронная микроскопия (СЭМ)
Электронография
Микроанализ
(неупругие взаимодействия)
Спектроскопия характеристических потерь энергии электронов (СХПЭЭ)
Электронная Оже-спектроскопия
Катодолюминесцентный анализ
Рентгеноспектральный анализ
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
13 |
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
•
•
•
•
•
•
•
•
•
1 - катод
2- фокусирующий цилиндр
3 - анод
4 - первая и вторая конденсорные линзы
5 - образец
6 - апертурная диафрагма
7 - линза –объектив (объективная линза)
8 - проекционная линза
9 - катодолюминесентный экран.
E10кэВ 3МэВ
h
mv
R 0.61 nsin
R 0.15нм при E 200кэВ
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
14 |
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
Наночастицы катализатора в мезопористой матрице SiO2
(изображения в светлом и темном поле).
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
15 |
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
Сферическая углеродная частица |
|
(луковица) с алмазным ядром |
|
|
Наночастицы Au на TiO2 |
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
16 |
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
Нанокристалл Ni
Наночастицы Si покрытые слоем SiO2
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
17 |
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
УНТ с нанесенными наночастицами Pt
Процесс роста УНТ под каталитической
частице Ni (масштаб 5 нм)
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
18 |
Просвечивающая электронная микроскопия
Разрыв двустенной углеродной нанотрубки.
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
19 |
Просвечивающая электронная микроскопия (ПЭМ)
В.А. Горбунов, Омск 2011 |
20 |