- •7.Теплофізичні моделі ( стандарти на продукцію - методи контроля/випробування/аналіза/вимірювання/визначення)
- •8.Геометричні моделі ( стандарти на продукцію – параметри та/або вимоги, конструкція)
- •9.Часово-параметричні моделі (стандарти на продукцію – параметри та/або розміри, загальні технічні вимоги, загальні технічні умови)
- •12.Моделі надійності ( стандарти на продукцію - методи контроля/випробування/аналіза/вимірювання/визначення)
- •15. Випробувальні моделі ( стандарти на продукцію - методи контроля/випробування/аналіза/вимірювання/визначення)
- •Предельно допустимые режимы эксплуатации:
12.Моделі надійності ( стандарти на продукцію - методи контроля/випробування/аналіза/вимірювання/визначення)
ГОСТ18683.1-83 «Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров»
ГОСТ18683.2-83 «Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров»
ГОСТ 23089.1-83 «Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров операционных усилителей»
ГОСТ 23089.2-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операцилнных усилителей»
ГОСТ 23089.3-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения напряжения и э.д.с. смещения нуля операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.4-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.5-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.6-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления віходного напряжения операционных усилителей»
ГОСТ 23089.7-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля операционных усилителей»
ГОСТ 23089.8-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с. смещения нуля операционных усилителей»
ГОСТ 23089.9-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей»
ГОСТ 23089.10-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей»
ГОСТ 23089.11-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.12-86 «Микросхемы интегральные. Метод измерения шумовых параметров операционных усилителей»
ГОСТ 23089.13-86 «Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей»
ГОСТ 23089.14-88 «Микросхемы интегральные. Метод измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения»
ГОСТ 26949-86 «Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения»
ГОСТ 24613.0-81, ГОСТ 24613.1-81, ГОСТ 24613.5-81, ГОСТ 24613.6-81, ГОСТ 24613.7-81 - ГОСТ 24613.19-77«Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения электрических параметров»
ГОСТ 23088-80 «Изделия электронной техники. Требования к упаковке, транспортированию и методы испытаний»
ГОСТ 25359-82 «Изделия электронной техники. Общие требования по надежности и методы испытаний»
ГОСТ 21493-76 «Изделия электронной техники.Требования по сохраняемости и методы испытаний»
ГОСТ 24927-81 «Временная противокоррозионная защита изделий электронной техники. Технические требования и методы испытаний»
ГОСТ 16962-71 «Изделия электронной техники и электротехники. Механические и климатические воздействия. Требования и методы испытаний»
ГОСТ 27597-88 «Изделия электронной техники. Метод оценки коррозионной стойкости»,
ГОСТ 16962.1-89 «Изделия электротехнические. Методы испытаний на устойчивость к климатическим внешним воздействующим факторам»
ОСТ 11 073.073-82 « Приборы полупроводниковые и микросхемы. Метод
контроля температуры полупроводниковых структур.»
ОСТИ 073.062-76 «Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые.
Требования и методы защиты от статического электричества
в условиях производства и применения.»
ГОСТ 18986.14-85 «Приборы полупроводниковые. Методы измерения
дифференциального и динамического сопротивления.»
13. механічні моделі ( стандарти на продукцію - конструкція)
ГОСТ 17467-88 «Микросхемы интегральные. Основные размеры»
14.моделі якості ( стандарти на продукцію - методи контроля/випробування/аналіза/вимірювання/визначення)
ГОСТ18683.1-83 «Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров»
ГОСТ18683.2-83 «Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров»
ГОСТ 23089.1-83 «Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров операционных усилителей»
ГОСТ 23089.2-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операцилнных усилителей»
ГОСТ 23089.3-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения напряжения и э.д.с. смещения нуля операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.4-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.5-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.6-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления віходного напряжения операционных усилителей»
ГОСТ 23089.7-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля операционных усилителей»
ГОСТ 23089.8-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с. смещения нуля операционных усилителей»
ГОСТ 23089.9-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей»
ГОСТ 23089.10-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей»
ГОСТ 23089.11-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.12-86 «Микросхемы интегральные. Метод измерения шумовых параметров операционных усилителей»
ГОСТ 23089.13-86 «Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей»
ГОСТ 23089.14-88 «Микросхемы интегральные. Метод измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения»
ГОСТ 26949-86 «Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения»
ГОСТ 24613.0-81, ГОСТ 24613.1-81, ГОСТ 24613.5-81, ГОСТ 24613.6-81, ГОСТ 24613.7-81 - ГОСТ 24613.19-77«Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения электрических параметров»
ГОСТ 23088-80 «Изделия электронной техники. Требования к упаковке, транспортированию и методы испытаний»
ГОСТ 25359-82 «Изделия электронной техники. Общие требования по надежности и методы испытаний»
ГОСТ 21493-76 «Изделия электронной техники.Требования по сохраняемости и методы испытаний»
ГОСТ 24927-81 «Временная противокоррозионная защита изделий электронной техники. Технические требования и методы испытаний»
ГОСТ 16962-71 «Изделия электронной техники и электротехники. Механические и климатические воздействия. Требования и методы испытаний»
ГОСТ 27597-88 «Изделия электронной техники. Метод оценки коррозионной стойкости»,
ГОСТ 16962.1-89 «Изделия электротехнические. Методы испытаний на устойчивость к климатическим внешним воздействующим факторам»
ОСТ 11 073.073-82 « Приборы полупроводниковые и микросхемы. Метод
контроля температуры полупроводниковых структур.»
ОСТИ 073.062-76 «Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые.
Требования и методы защиты от статического электричества
в условиях производства и применения.»
ГОСТ 18986.14-85 «Приборы полупроводниковые. Методы измерения
дифференциального и динамического сопротивления.»