Міністерство освіти і науки, молоді та спорту України
Дніпропетровський національний університет імені Олеся Гончара
Факультет фізики,електроніки і комп'ютерних систем
Кафедра електронних засобів телекомунікацій
Лабораторна робота 3
з дисципліни: Елементна база
варіант 10
Формування повної інтегрованої моделі мікросхем:
К140УД8(А-В); К174УН4А; КР548ХА2; КМ1025КП1; КР1446ВГ1; К155ИД9
Виконав
студент групи КТ-09-1-10
Ломакін А.І.
Перевірив
Бондаренко В.П.
Дніпропетровськ, 2011
Об’єкт лабораторної роботи – загально визначене угрупування ВЕТ
Основний зміст роботи – побудова, формування повної інтегрованої нормативної моделі класифікаційного угрупування ВЕТ
Мікросхеми: К140УД8(А-В); К174УН4А; КР548ХА2; КМ1025КП1; КР1446ВГ1; К155ИД9
Інтегрована нормативна модель
1. класифікаційні моделі ( ДКПП (Державний класифікатор продукції та послуг ДК016-96), УКНД – Клас 31 «Електроніка»)
2.ідентифікаційні моделі ( стандарти на продукцію – маркування; загальнотехнічні стандарти – позначення) підрозділяються на:
- системи – кодування ВЕТ ( абстрактні вербально – символьні моделі, літерно – цифрові коди)
- «фізичні» ідентифікаційні моделі ( маркування самих ВЕТ)
КМ140УД20 - микросхема широкого применения. Операционные усилители сдвоенные (140УД7 x 2)
К174УН12 - микросхема широкого применения. Двухканальный электронный регулятор громкости и баланса каналов с возможностью подключения и выбора оптимальной тонкоррекции.
К554СА3Б - микросхема широкого применения, как универсальных операционных усилителей в различных функциональных узлах радиоэлектронной аппаратуры.
К1103СК1А - микросхема широкого применения. Устройство выборки и хранения аналогового сигнала с временем установления не более 160 нс.
КР1446УД1 - микросхема широкого применения. Универсальный операционный усилитель, число усилителей : 2, частота единичного усиления 1.8 МГц, коэффициент усиления большого сигнала 96 дБ, входное напряжение смещения 2.5...10 мВ, максимальная скорость нарастания 1.5 В/мкс, напряжение питания 2.5...7 В, ток покоя одного усилителя 0.8...1.5 мА, число выводов - 8.
К155ИД13 - микросхема широкого применения. Дешифратор на 3 входа и 8 выходов для управления шкалой со сдвигом двух точек.
3.термінологічні моделі ( з ними пов`язані: загальна термінологічна система і параметрична термінологічна система)
ГОСТ 25529-82 «Приборы полупроводниковые. Термины, определения и
буквенные обозначения параметров.»
ГОСТ 4.465-87 «Микросхемы интегральные. Номенклатура показателей»
ГОСТ 17467-88 «Микросхемы интегральные. Основные размеры»
4. Конструкційні моделі
(Зв’язок з графічними моделями, літерно-цифровими познаками)
ГОСТ 2.710-81 «ЕСКД Правила выполнения схем».
5.експлуатаційні моделі ГОСТ 25467-82 «Изделия электронной техники. Классификация по условиям применения и требования по стойкости к внешним воздействующим факторам».
ГОСТ 15150 – 69 «Машины, приборы и другие технические изделия»
6.електрично-параметричні моделі ( зв`язки з функціональними моделями) стандарти на продукцію – параметри та/або розміри, загальні технічні вимоги, загальні технічні умови)
ГОСТ 18683.0-83 «Микросхемы интегральные цифрове. Общие требования при измерении электрических параметров»
ГОСТ 23089.0-78 «Микросхемы интегральные. Общие требования при измерении электрических параметров операционных усилите лей и компараторов напряжений»
ГОСТ 23088-80 «Изделия электронной техники. Требования к упаковке, транспортированию и методы испытаний»
ГОСТ 25359-82 «Изделия электронной техники. Общие требования по надежности и методы испытаний»
ГОСТ 21493-76 «Изделия электронной техники.Требования по сохраняемости и методы испытаний»
ГОСТ 24927-81 «Временная противокоррозионная защита изделий электронной техники. Технические требования и методы испытаний»
ГОСТ 16962-71 «Изделия электронной техники и электротехники. Механические и климатические воздействия. Требования и методы испытаний»
ГОСТ 25467-82 «Изделия электронной техники. Классификация по условиям применения и требования по стойкости к внешним воздействующим факторам»
ГОСТ 26080-84 «Радиоэлектронная аппаратура и изделия электронной техники. Общие требования к защите от воздействия плесневых грибов»
ОСТИ 073.062-76 «Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые.
Требования и методы защиты от статического электричества
в условиях производства и применения.»
ГОСТ 18725-83 «Микросхемы интегральные. Общие технические условия»
ГОСТ 11630-84 «Приборы полупроводниковые. Общие технические условия»
ГОСТ 17447-72 «Микросхемы интегральные для цифрових вычислительных машин и устройств дискретной автоматики. Основные параметры»
ГОСТ 17467-88 «Микросхемы интегральные. Основные размеры»
ГОСТ 23622-79 «Элементы логические интегральных микросхем. Основные параметры»
ГОСТ 24459-80 «Микросхемы интегральные запоминающих устройств и элементов запоминающих устройств. Основные параметры»
ГОСТ 24460-80 «Микросхемы интегральные цифрових устройств. Основные параметры»
ГОСТ 18472-88 «Приборы полупроводниковые. Основные размеры»
ГОСТ 17230-71 «Микросхемы интегральные.Ряд питающих напряжений»
7.Теплофізичні моделі ( стандарти на продукцію - методи контроля/випробування/аналіза/вимірювання/визначення)
ГОСТ18683.1-83 «Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения статических электрических параметров»
ГОСТ18683.2-83 «Микросхемы интегральные цифровые. Методы измерения динамических электрических параметров»
ГОСТ 23089.1-83 «Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров операционных усилителей»
ГОСТ 23089.2-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения максимального выходного напряжения операцилнных усилителей»
ГОСТ 23089.3-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения напряжения и э.д.с. смещения нуля операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.4-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения входных токов и разности входных токов операционных усилителей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.5-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения тока потребления и потребляемой мощности операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.6-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения времени установления віходного напряжения операционных усилителей»
ГОСТ 23089.7-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента влияния нестабильности источников питания на напряжение и э.д.с. смещения нуля операционных усилителей»
ГОСТ 23089.8-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа напряжения и э.д.с. смещения нуля операционных усилителей»
ГОСТ 23089.9-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения среднего температурного дрейфа входных токов и разности входных токов операционных усилителей»
ГОСТ 23089.10-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения максимальной скорости и времени нарастания выходного напряжения операционных усилителей»
ГОСТ 23089.11-83 «Микросхемы интегральные. Метод измерения коэффициента ослабления синфазных входных напряжений операционных усилите лей и компараторов напряжения»
ГОСТ 23089.12-86 «Микросхемы интегральные. Метод измерения шумовых параметров операционных усилителей»
ГОСТ 23089.13-86 «Микросхемы интегральные. Метод измерения частоты среза и частоты единичного усиления операционных усилителей»
ГОСТ 23089.14-88 «Микросхемы интегральные. Метод измерения времени задержки включения и выключения компараторов напряжения»
ГОСТ 26949-86 «Микросхемы интегральные. Методы измерения электрических параметров непрерывных стабилизаторов напряжения»
ГОСТ 24613.0-81, ГОСТ 24613.1-81, ГОСТ 24613.5-81, ГОСТ 24613.6-81, ГОСТ 24613.7-81 - ГОСТ 24613.19-77«Микросхемы интегральные оптоэлектронные и оптопары. Методы измерения электрических параметров»
ГОСТ 23088-80 «Изделия электронной техники. Требования к упаковке, транспортированию и методы испытаний»
ГОСТ 25359-82 «Изделия электронной техники. Общие требования по надежности и методы испытаний»
ГОСТ 21493-76 «Изделия электронной техники.Требования по сохраняемости и методы испытаний»
ГОСТ 24927-81 «Временная противокоррозионная защита изделий электронной техники. Технические требования и методы испытаний»
ГОСТ 16962-71 «Изделия электронной техники и электротехники. Механические и климатические воздействия. Требования и методы испытаний»
ГОСТ 27597-88 «Изделия электронной техники. Метод оценки коррозионной стойкости»,
ГОСТ 16962.1-89 «Изделия электротехнические. Методы испытаний на устойчивость к климатическим внешним воздействующим факторам»
ОСТ 11 073.073-82 « Приборы полупроводниковые и микросхемы. Метод
контроля температуры полупроводниковых структур.»
ОСТИ 073.062-76 «Микросхемы интегральные и приборы полупроводниковые.
Требования и методы защиты от статического электричества
в условиях производства и применения.»
ГОСТ 18986.14-85 «Приборы полупроводниковые. Методы измерения
дифференциального и динамического сопротивления.»