Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Электротехническое и конструкционное материаловедение. Учебник.pdf
Скачиваний:
1
Добавлен:
08.09.2026
Размер:
2 Мб
Скачать
☆
Плавление кремния сопровождается некоторым увеличением его плотно­сти (примерно на 8 %) и скачкообразным уменьшением удельного сопротивле­ния (примерно в 30 раз). В расплавленном состоянии кремний имеет удельное
сопротивление примерно 10
-4
Ом⋅м и имеет свойства, подобные жидким метал-
лам. Кремний является базовым материалом полупроводниковой электроники. Он используется как для создания интегральных микросхем, так и для изготов­ления дискретных полупроводниковых приборов. Полупроводниковые инте­гральные микросхемы, отличающиеся малыми размерами и сложной конфигу­рацией активных областей, особенно широко применяются в вычислительной технике и радиоэлектронике. Из кремния изготовляются различные типы полу­проводниковых диодов: низкочастотные (высокочастотные), маломощные (мощные), полевые транзисторы; стабилитроны; тиристоры. Широкое приме­нение в технике нашли кремниевые фотопреобразовательные приборы: фото­диоды, фототранзисторы, фотоэлементы солнечных батарей. Подобно герма­нию, кремний используется для изготовления датчиков Холла, тензодатчиков, детекторов ядерных излучений.
Благодаря тому, что ширина запрещенной зоны кремния больше, чем ши­рина запрещенной зоны германия, кремниевые приборы могут работать при бо­лее высоких температурах, чем германиевые. Верхний температурный предел работы кремниевых приборов достигает 180–200 °С.
Селен
Этот элемент VI группы таблицы Менделеева обладает рядом полезных электрических свойств. Он существует в нескольких аллотропных модифика­циях — стеклообразной, аморфной, моноклинной, гексагональной. Плавится селен при температуре 220 °С; кипит при температуре 685 °С; все модификации селена превращаются в гексагональную кристаллическую при нагревании в ин­тервале температур 180–220 °С.
Селен широко распространен в земной коре, но обычно в малых концен­трациях. Для получения селена используют отходы производства серной кисло­ты, накапливающиеся в пыльных камерах, или анодный шлам, получаемый при электролитической очистке меди. Для получения селена шлам нагревают, селен испаряется и адсорбируется в газоуловителе, орошаемом потоком серной кислоты. К раствору добавляют соляную кислоту; при пропускании через рас­твор диоксида серы селен осаждается. Осадок отфильтровывают, промывают, плавят и получают слитки селена необходимой формы. Для очистки селена ис-
121
пользуют методы вакуумной ректификации и очистку с помощью ионнообмен­ных смол. В результате содержание примесей уменьшается до 10–4 %.
Для изготовления полупроводниковых приборов (выпрямителей пере­менного тока и фотоэлементов) используется серый кристаллический гексаго­нальный селен. Ширина его запрещенной зоны 1,79 эВ. Такой селен обладает дырочным типом электропроводности. Его удельное сопротивление примерно 103 Ом⋅м (при комнатной температуре). Снижение удельного сопротивления
обычно достигается введением примесей — хлора, брома, йода.
Селен, в отличие от других полупроводников, обладает аномальной тем­пературной зависимостью концентрации свободных носителей заряда: она уменьшается с ростом температуры, подвижность носителей заряда при этом возрастает. Электрические свойства селена измерялись многими исследовате­лями, однако данные весьма противоречивы.
Кроме использования в электронике, селен широко применяется в техно­логии получения красок, пластмасс, резины, керамики, как легирующая добавка при производстве стали, в электрофотографии.
Карбид кремния
Он является единственным бинарным соединением, образованным полу­проводниковыми элементами IV группы таблицы Менделеева. Это полупро­водниковый материал с большой шириной запрещенной зоны (2,8–3,1 эВ — в зависимости от модификаций). Карбид кремния применяют для изготовления полупроводниковых приборов, работающих при высоких температурах (до 700 °С).
Технический карбид кремния изготовляют в электрических печах при восстановлении диоксида кремния (кварцевого песка) углеродом:
SiО
+ 3С – 7 SiC + 2СО.
2
В печи образуются сросшиеся пакеты кристаллов SiC, называемые друза­ми. Большинство кристаллов в друзах имеет незначительные размеры, однако встречаются кристаллы, имеющие площадь до 1,5–2 см
2
. Из друз в результате дробления получают порошок карбида кремния. Кристаллы карбида кремния полупроводниковой чистоты получают методом возгонки в печах с графитовы­ми нагревателями и экранами. Процесс кристаллизации проводят в атмосфере аргона при температуре 2 400–2 600 °С. Получаемые кристаллы обычно имеют
122
пластинчатую форму с размером в поперечнике примерно 1 см. Карбид крем­ния является одним из наиболее твердых веществ, он устойчив к окислению до температур свыше 1 400 °С. При комнатной температуре карбид кремния не взаимодействует с кислотами. При нагревании он растворяется в расплавах щелочей, а также взаимодействует с ортофосфорной кислотой и смесью (НNО
+ HF).
3
Электропроводность кристаллов SiC при нормальной температуре при­месная. Тип электропроводности и окраска кристаллов карбида кремния зави­сят от инородных примесей или определяются избытком атомов Si или С по сравнению со стехиометрическим составом. Чистый карбид кремния сте­хиометрического состава бесцветен. Примеси элементов V группы (N, Р, As, Sb, Bi) и железа в карбиде дают зеленую окраску и электропроводность n-типа, примеси элементов II (Са, Mg) и III групп (В, Al, Ga, ln) — голубую и фиолето­вую окраску и электропроводность р-типа. Избыток Si приводит к электронной электропроводности SiC, а избыток С — к дырочной.
Карбид кремния применяется для серийного выпуска варисторов (нели­нейных резисторов), светодиодов, а также высокотемпературных диодов, тран­зисторов, тензорезисторов, счетчиков частиц высокой энергии, способных ра­ботать в химически агрессивных средах.
Теллур
Это элемент VI группы таблицы Менделеева. Он является полупроводни­ком с шириной запрещенной зоны 0,35 эВ, плавится при температуре 451 °С, легко испаряется. Температура кипения теллура при атмосферном давлении 1 390 °С, очищают его многократной перегонкой.
Поликристаллический слиток теллура получают в процессе медленного охлаждения расплавленного в открытом тигле теллура. Затем из слитка выре­зают несколько монокристаллов.
Удельное сопротивление чистого теллура при комнатной температуре
29⋅10
-4
Ом⋅м. Он может быть электронного и дырочного типов проводимости.
Техническое применение теллур нашел в виде сплавов с висмутом, сурь­мой и свинцом, которые используют для изготовления термоэлектрических ге­нераторов.
123
3.3. Бинарные соединения
Среди бинарных соединений практическое применение находят соедине-
IIIВV
ния А
, AIIBVI, NVBIV.
Полупроводниковые соединения А
IIIВV
являются ближайшими аналогами
кремния и германия. Они образуются в результате взаимодействия элементов III-б подгруппы таблицы Менделеева (бора, алюминия, галлия, индия) с эле­ментами V-б подгруппы (азотом, фосфором, мышьяком, сурьмой). Соединения
IIIВV
А
принято классифицировать по металлоидному элементу. Соответственно различают нитриды, фосфиды, арсениды и антимониды. Получают эти соеди­нения или из расплава, который содержит элементы в равных атомных концен­трациях, или из раствора соединения, имеющего в избытке элементы III груп­пы, а также из газовой фазы. Кристаллы антимонидов, арсенидов галлия и ин­дия обычно выращивают из расплава вытягиванием на затравку из-под инертного флюса. Слой жидкого прозрачного флюса, находящегося под давлением инерт­ного газа, обеспечивает полную герметизацию тигля и подавляет испарение ле­тучего компонента из расплава. Монокристаллы, полученные из расплава, обла­дают недостаточно высокой химической чистотой. Для очистки используются те же методы, что и для очистки германия и кремния.
Арсенид галлия среди соединений А
IIIВV
занимает особое положение.
Большая ширина запрещенной зоны (1,4 эВ), высокая подвижность электронов (0,85 м2/[В⋅с]) позволяют создавать на его основе приборы, работающие
при высоких температурах и высоких частотах.
Первым полупроводником являлся GaAs, на котором в 1962 году был со­здан инжекционный лазер. Он используется для изготовления светодиодов, туннельных диодов, диодов Ганна, транзисторов, солнечных батарей и других приборов. Для изготовления детекторов в инфракрасной области спектра, дат­чиков Холла, термоэлектрических генераторов, тензометров применяется анти­монид индия, имеющий очень малую ширину запрещенной зоны (0,17 эВ) и очень высокую подвижность электронов (7,7 м2/[В⋅с]) [4].
Широкое применение в серийном производстве светодиодов нашел фос­фид галлия, имеющий большую ширину запрещенной зоны (2,25 эВ). В отли­чие от других соединений группы А
IIIВV
, чрезвычайно высокой чувствительно-
стью к механическим напряжениям обладает антимонид галлия. Удельное со­противление GaSb увеличивается в 2 раза при воздействии давления 4⋅108 Па.
При таком же давлении, приложенном к кристаллам GaAs и lnP, их удельное
124
сопротивление меняется лишь на 3 %. Благодаря высокой чувствительности
n
y
m x
BА
к деформациям антимонид галлия используют при изготовлении тензометров.
IIBVII
К полупроводниковым соединениям A
относят халькогениды цинка,
кадмия и ртути. Среди них можно выделить сульфиды, селениды и теллуриды.
Технология выращивания монокристаллов соединений A гораздо менее полно, чем технология полупроводников типа A козонные полупроводники A
IIBVI
представляют собой в технологическом от-
IIBVI
разработана
IIIBV
. Широ-
ношении трудные объекты, так как обладают высокими температурами плавле­ния и высокими давлениями диссоциации в точке плавления. Выращивание та­ких материалов в большинстве случаев осуществляется перекристаллизацией предварительно синтезированного соединения через паровую фазу в запаянных кварцевых ампулах.
Применяют соединения A
IIBVI
в большинстве случаев для создания про-
мышленных люминофоров, фоторезисторов, высокочувствительных датчиков Холла и приемников далекого инфракрасного излучения.
Среди полупроводниковых соединений типа A
VIBVI
наиболее изученными
являются халькогениды свинца: PbS, PbSe, РЬТе. Сульфид, селенид и теллурид свинца в естественном состоянии встречаются в виде минералов галенита, клаусталита и алтаита. Первый минерал является одной из самых распростра­ненных руд свинца, два других в природе обнаруживаются довольно редко. Монокристаллы PbS, PbSe, РbТе получают в основном в процессе осаждения из газовой фазы, методом выращивания из расплава или методом медленного охлаждения расплава с использованием естественного градиента температуры печи. Эти соединения являются узкозонными полупроводниками.
Халькогениды свинца используют для изготовления фоторезисторов в инфракрасной технике, инфракрасных лазеров, тензометров и термогенерато­ров, работающих в интервале температур от комнатной до 6 000 °С.
3.4. Сложные полупроводники
Простые полупроводники не всегда отвечают требованиям современного производства полупроводниковых приборов. Для создания материалов с раз­личными свойствами широко используют сложные неорганические и органиче­ские полупроводниковые соединения. Структура сложных полупроводников образована атомами различных химических элементов. К этой группе относят
твердые растворы и химические соединения типа
, где верхние индексы
125
m и n обозначают номер группы периодической системы химических элементов Д. И. Менделеева, а нижние х и у — число атомов этого элемента в соединении.
Наиболее широкое применение нашли неорганические кристаллические полупроводники.
3.4.1. Сложные полупроводники типа A
IVBIV
Единственным двойным соединением элементов IV группы периодиче­ской системы химических элементов Д.И. Менделеева в твердой фазе является соединение кремния с углеродом — карбид кремния SiC. Карбид кремния в природе встречается крайне редко и в ограниченных количествах.
Поликристаллический карбид кремния получают в электрических печах восстановлением двуокиси кремния углеродом согласно уравнению:
SiО
+ ЗС = SiC + 2CO.
2
Поликристаллический карбид кремния используют для выращивания мо­нокристаллов и получения порошка SiC в процессе дробления.
Карбид кремния обладает следующими свойствами. Существует в двух модификациях: кубической β-SiC и гексагональной α-SiC. Низкотемпературная кубическая модификация β-SiC с плотностью D = 3,1 г/см
3
устойчива до темпе-
ратур 2 000–2 100 °С. Высокотемпературная гексагональная модификация α-SiC с плотностью D = 3,2 г/см
3
образуется при высоких температурах и имеет
большое число разновидностей, которые называют политипами. Все политипы имеют постоянную решетки α = 0,3078 нм, но отличаются размещением атомов кремния в кристаллической решетке и их чередованием. В полупроводниковом производстве получил применение лишь a-карбид кремния.
Кристаллы α-SiC получают методом сублимации, при котором кристаллы выращивают из газовой фазы в графитовых тиглях в атмосфере инертного газа при температуре 2500 °С. В результате получают монокристаллы обоих типов электропроводности размером до 30 мм с остаточной концентрацией неконтро­лируемых примесей до 10
22 м-3
.
В состав карбида кремния стехиометрического состава входит 70 % кремния и 30 % углерода. Избыток кремния приводит к электронному типу проводимости, а избыток углерода — к дырочному.
Примеси в карбиде кремния могут быть чужеродными, т.е. включениями в кристаллическую решетку карбида кремния чужеродных элементов, и соб-
126
ственными, которые являются превышением того или иного компонента над стехиометрическим составом.
Для получения карбида кремния с электронной электропроводимостью в качестве легирующей примеси используют элементы V группы Периодиче­ской системы химических элементов Д. И. Менделеева (азот, фосфор, мышьяк, сурьму, висмут). Эти примеси окрашивают карбид кремния в зеленый цвет.
Кристаллы карбида с дырочной электропроводностью выращивают при легировании элементами II группы (бор, алюминий, галлий, индий) и III группы (кальций, магний) Периодической системы химических элементов Д. И. Менделеева, которые дают черную окраску. Чистый карбид кремния сте­хиометрического состава бесцветен. Кристаллы карбида кремния имеют незна­чительные размеры. Площадь наиболее крупных кристаллов от 10 до 80 мм
2
Молекулярная масса m = 40,16.
По типу химической связи относится к ковалентным кристаллам. Ионная связь не превышает 10...12 %.
Карбид кремния имеет довольно сложную структуру энергетических зон.
.
Для различных политипов ос-модификации ширина запретной зоны ∆W=2,72...3,34 эВ. Такое большое значение ширины запретной зоны позволяет
создавать на основе карбида кремния полупроводниковые приборы, которые сохраняют работоспособность при температурах до 700 °С. Эти приборы необ­ходимы для контроля высокотемпературных процессов в доменных печах, ре­активных турбинах и др.
Собственная электропроводность карбида кремния из-за большой шири­ны запретной зоны наблюдается начиная с температуры 1400 °С.
Подвижность носителей заряда в карбиде кремния низкая, для электронов не превышает µ
= 0,1 м
n
2
/(В⋅с) и для дырок µ
= 0,02 м
p
2
/(В⋅с).
Благодаря очень большой энергии связи атомов карбид кремния обладает исключительно высокой прочностью, по твердости он немного уступает алмазу.
Карбид кремния обладает высокой химической стойкостью. При комнат­ной температуре вступает в реакцию только с расплавленной ортофосфорной кислотой и смесью азотной и плавиковой кислот, а также с расплавленными щелочами, которые используют в качестве травителей; в качестве травителей используют также расплавы солей Na
, К2СО3, Na2О2.
2C03
При температуре около 100 °С карбид кремния реагирует с хлором. Окисление карбида кремния происходит только при температуре более 800 °С. Диффузию примесей в карбид кремния ведут в закрытом объеме при темпера­туре 1800...2200 °С. Вводя методом диффузии различные акцепторные приме-
127
си, создают инжекционные светодиоды, максимум излучения которых находит­ся в различных частях видимой области спектра. Важнейшим и широко исполь­зуемым свойством карбида кремния является его способность к люминес­ценции в видимой части спектра.
Карбид кремния благодаря высокой твердости используют для механиче­ской обработки различных материалов. Из смеси порошка карбида кремния, элементарного кремния и углерода обжигом в атмосфере азота получают силит, который применяют для изготовления высокотемпературных нагревателей. Карбид кремния применяют также для серийного выпуска варисторов (нели­нейных сопротивлений), световодов, выпрямительных и туннельных диодов.
На основе карбида кремния получают различные материалы. Например, при обжиге карбида кремния с глинистой связкой получают нелинейный мате­риал тирит, а при обжиге его с ультрафарфоровой связкой получают нелиней­ный материал лэтин.
3.4.2. Сложные полупроводники типа A
IIIBV
Сложные полупроводники типа A
IIIBV
представляют собой химические
соединения металлов III группы Периодической системы химических элемен­тов Д. И. Менделеева (бор, индий, галлий, алюминий) с элементами V группы (азот, фосфор, сурьма, мышьяк).
Все полупроводниковые соединения этого типа имеют структуру типа цинковой обманки или сфалерита. Такая структура аналогична кристалличе­ской решетке кремния и германия, в которой каждый атом связан с четырьмя другими атомами ковалентными связями. Отличие состоит в том, что в узлах кристаллической решетки соединений A а поочередно расположенные положительно заряженные ионы B тельно заряженные ионы A
III
. Такой вид связи называют донорно-акцепторным.
Температура плавления соединений A
IIIBV
находятся не нейтральные атомы,
V
и отрица-
IIIBV
выше температуры плавления
исходных элементов, за исключением антимонида индия.
По поведению при нагревании соединения делят на неразлагающиеся и разлагающиеся. К неразлагающимся относятся антимониды. Остальные соеди­нения A компонентов B только из компонентов B
IIIBV
при нагревании разлагаются с интенсивным испарением летучих
V
. Поэтому пар над расплавами фосфоридов и арсенидов состоит
V
— фосфора или мышьяка.
Ширина запретной зоны ∆W измеряется в широких пределах: от 0,18 эВ
для антимонидов до 2,45 эВ для фосфида алюминия.
128
Высокая подвижность электронов позволяет создавать на основе соеди-
IIIBV
нений A
высокочастотные полупроводниковые приборы.
В широком интервале длин волн, включая видимую и инфракрасную обла­сти спектра, ярко проявляются оптические свойства: поглощение электромагнит­ного излучения, фотопроводимость, самопроизвольное и вынужденное излучение.
Важнейшие свойства в основном определяются типом и количеством примеси. Но в отличие от простых полупроводников, для полупроводниковых соединений гораздо труднее предсказать, не обращаясь к опытным данным, ка­кова роль той или иной примеси.
По сравнению с технологией простых полупроводников процесс сложных полупроводниковых соединений включает в себя дополнительную операцию прямого и косвенного синтеза соединений из исходных элементов.
Прямой синтез состоит в том, что исходные вещества используют в эле­ментарном виде. Методом прямого синтеза получают неразлагающиеся соеди­нения — антимониды.
При косвенном синтезе хотя бы одно из исходных веществ используют в виде его химического соединения.
В полупроводниковом производстве широко используют эпитаксиальные слои соединений A
IIIBV
. Преимуществом эпитаксиальных методов является возможность получения многослойных структур и простота управления про­цессом роста эпитаксиальных слоев.
Арсенид галлия GaAs занимает среди соединений A
IIIBV
особое место. Он
обладает следующими свойствами: кристаллизуется в структуру сфалерита; молекулярная масса m = 164,63; плотность D = 5,4 г/см3; плотность жидкого арсенида галлия D = 5,9 г/см3; ширина запретной зоны ∆W = 1,4 эВ; подвиж-
ность электронов при температуре 300 К µ
ления стехиометрического состава Т
≈ 1237 °С при давлении паров мышьяка
пл
= 0,85 м
n
2
/(В⋅с); температура плав-
примерно 760 мм рт. ст.; показатель преломления 3,2; диэлектрическая прони­цаемость ε = 11,1; рабочая температура p-n-переходов, изготовленных на осно­ве арсенида галлия, достигает Т
= 400 °С; при комнатной температуре
раб
не взаимодействует с водой; при нагревании до температуры 300 °С не окисля­ется кислородом воздуха; при комнатной температуре взаимодействует с кис­лотами с выделением сильно токсичного вещества арсина AsH
.
3
Растворимость увеличивается в смесях кислот: при комнатной темпера-
туре растворимость арсенида галлия в растворах соляной кислоты в широком диапазоне концентраций составляет 2⋅10
-5
мг/(см
кислот с водой в соотношении 1:1:1 она возрастает до 60 мг/(см
2
⋅ч), в смеси азотной и соляной
2
⋅ч), а в смеси
129
2
азотной и плавиковой равна 1200 мг/(см
⋅ч). Наибольшее влияние на электриче-
ские свойства арсенида галлия оказывают кремний и медь. Кремний замещает атомы галлия в решетке арсенида галлия в результате взаимодействия галлия с кварцем при термических процессах. При высоких концентрациях (от 2⋅10
20
до 1⋅10
см-3) кремний в арсениде галлия является электрически нейтральной
18
примесью. Медь переходит в арсенид галлия из тиглей, лодочек и трубок, ис­пользуемых при получении монокристаллов, и резко снижает подвижность электронов.
Нелегированный арсенид галлия имеет электронный тип проводимости
с концентрацией носителей заряда n = 5⋅10
= 8000 м
µ
n
2
/(В⋅с). При легировании цинком образуется арсенид галлия дыроч-
ного типа проводимости с концентрацией носителей заряда 10 движностью дырок µ
= 200 м
p
2
/(В⋅с). Для получения арсенида галлия с высоким
удельным электрическим сопротивлением (от ρ = 10
гируют железом или хромом до концентрации носителей заряда n = 10
15
см-3 и подвижностью электронов
17
...1020 см-3 и по-
4
до 10
9
Ом⋅см) расплав ле-
17
см-3.
Арсенид галлия общего применения выпускают в виде монокристалличе­ских слитков диаметром 12 мм, которые получают методом Чохральского. Эти слитки применяют для изготовления полупроводниковых приборов. Арсенид галлия монокристаллический получают методом Чохральского и применяют для выращивания эпитаксиальных структур. Арсенид галлия является основ­ным материалом для производства полупроводниковых лазеров с длиной волны излучения 0,83...0,92 мкм. Его широко используют для изготовления туннель­ных диодов, генераторов СВЧ-колебаний с частотой генерации до 100 ГГц, первичных преобразователей света, датчиков низких температур, а также при изготовлении некоторых типов интегральных микросхем.
Антимонид галлия GaSb относится к материалам с признаками несте­хиометрической природы соединения, так как технологическими приемами концентрацию акцепторной примеси в нем не удается снизить меньше, чем на 1,5–10
23 м-3
. Антимонид галлия обладает следующими свойствами: кристал-
лизуется в кубическую гранецентрированную решетку; молекулярная масса
m = 191,48; постоянная решетки 0,6 нм; плотность D = 5,61 г/см
-3
; температура
плавления Т
= 712 °С; диэлектрическая проницаемость ε = 14,8; показатель пре-
пл
ломления 3,9; ширина запретной зоны при температуре 300 К ∆W = 0,67...0,72 эВ; подвижность электронов при температуре 300 °С µ
= 0,4 м
n
2
/(В⋅с)[6, 9].
Антимонид галлия чрезвычайно чувствителен к механическим напряже­ниям. При воздействии давления 4⋅10
8
Па удельное электрическое сопротивле-
ние «чистого» антимонида галлия увеличивается в 2 раза. При таком же давле-
130
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]