Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Центры ядерных исследований и технологий основные требования, существующий статус и перспективы развития. Учебное пособие

.pdf
Скачиваний:
0
Добавлен:
07.09.2026
Размер:
2 Мб
Скачать
☆
51
Источниками нейтронов, которые применяются в НАА, явля­ются:
- генераторы нейтронов (107- 1011 см-2 ·с-1);
- радиоактивные источники нейтронов (105- 107 см-2 ·с-1);
- нейтронные размножители (107- 109 см-2 ·с-1);
- ядерные реакторы (поток до 1014 см-2 ·с-1).
В качестве источников со средним значение потока можно упо­мянуть нейтронные генераторы (рисунок 1.2.3.5.1). В качестве нейтронных генераторов можно использовать различные типы уско­рителей. На ускорителях дейтронов, протонов, а также под воздей­ствием тормозного излучения на ускорителях электронов протекают соответственно реакции (d,n), (p,n) и (γ,n). Нейтронные генераторы, работающие на дейтонах в зависимости от протекающей реакции подразделяются на генераторы D-D и D-T. В них взаимодействуют дейтон с дейтоном, или дейтон с тритием: +D=3He+n D+T=4He+n. В результате первой реакции образуются нейтроны с энергией при­мерно 2.2 МэВ, а по второй реакции - нейтроны с энергией примерно 14 МэВ. Поток нейтронов может достигать значений 5∙1010 н/см2·сек.
Рисунок 1.2.3.5.1 – Нейтронный генератор НГ-150
В радиоизотопных источниках используются нейтроны спонтан­ного деления (
252
Cf) или реакции типа (α,n) и (γ,n). Один миллиграм
252
Cf испускает 2.28∙109 нейтронов в секунду с энергией 1.5 МэВ.
52
Нейтронный источник, использующий реакции (α,n), должен содер­жать альфа-источник и легкий изотоп (Li, Be), на котором происхо­дит реакция (α,n). Например, в Pu/Be источнике используется смесь металлического порошка бериллия с небольшим количеством α-из­лучателя - полония. Нейтроны образуются в реакции 9Be(α,n)12C. В этом источнике получаются нейтроны, обладающие практически сплошным спектром энергий от 0 до 13 МэВ. Источником нейтро­нов, основанным на фотоядерной реакции, является смесь радия и бериллия. В этом случае источник нейтронов представляет собой си­стему из двух запаянных ампул. Внутри ампулы с порошком берил­лия помещается ампула с солями радия таким образом, что на берил­лий действует только гамма-излучение, проходящее через стенки внутренней ампулы. Нейтроны образуются в реакции 9Ве(γ,n)8Ве, та­кой источник испускает монохроматические нейтроны с энергией 110 кэВ.
Ядерные реакторы являются мощными источниками нейтронов. Спектр нейтронов очень широк. В нем выделяют 3 компоненты ­тепловые, эпитепловые (резонансные) и быстрые нейтроны (рису­нок 1.2.3.5.2).
Рисунок 1.2.3.5.2 – Спектр нейтронов реактора
Тепловые нейтроны – это нейтроны с энергией < 0.5 эВ. Они находятся в тепловом равновесии с атомами материала реактора. При комнатной температуре они имеют энергетическое распределе­ние Максвелла-Больцмана со средней энергией 0.025 эВ и наиболее
53
вероятной скоростью 2200 м/с. При облучении образцов, как пра­вило, 90-95% нейтронного потока составляют тепловые нейтроны. Реактор мощностью 1 МВт обеспечивает нейтронный поток ~1013 (cм-2с-1). Предел обнаружения большинства элементов при ис- пользовании таких потоков составляет 10-5-10
-10
%. Эпитермальные нейтроны имеют энергии в диапазоне от 0.5 эВ до ~0.5 МэВ. Их доля в реакторе ~2%. Кадмиевая пластинка толщиной 1 мм поглощает все тепловые нейтроны, но пропускает эпитепловые и быстрые нейтроны. Как тепловые, так и эпитепловые нейтроны вызывают в мишени реакции (n,γ). Доля быстрых нейтронов (> 0.5 МэВ) в реак­торе составляет ~5%. Они вызывают реакции (n,p), (n,n') и (n,2n) и практически не вызывают реакции (n,γ).
При работе реактора в постоянном режиме нейтронный поток
бывает достаточно стабильным и его изменения не превышают за несколько часов 0.1%. Однако для большего диапазона времени эта величина возрастает и может составить значения 1% за несколько дней и 1.6% за 1 месяц. В некоторых случаях резонансные и быстрые нейтроны могут сильно мешать проведению анализа. В таких слу­чаях образец облучается в так называемой тепловой колонне. Теп­ловая колонна, будучи расположена на некотором удалении от цен­тра активной зоны снабжена отражателями и дополнительными за­медлителями. В этой колонне доля тепловых нейтронов бывает до­статочно большой, поэтому большим бывает и значение кадмиевого отношения. Метод нейтронно-активационного анализа Метод нейтронно-активационного анализа (НАА), основанный на актива­ции изотопов химических элементов нейтронами является среди ме­тодов активационного анализа ведущим и наиболее распространен­ным. Известно, что нейтроны, не имея заряда, при приближении к атомам не взаимодействуют с электронным облаком, а взаимодей­ствуют непосредственно с ядрами. Поэтому, нейтроны даже относи­тельно малой энергии из-за отсутствия потенциального барьера легко проникают внутрь ядра. Нейтроны проходя через вещество, в зависимости от своей энергии могут испытывать различные виды взаимодействия, о которых мы упоминали выше. В связи с тем, что ведущей среди этих реакций является реакция на тепловых нейтро­нах (n, γ) мы рассмотрим нейтронно-активационный анализ, осно­ванный на этой реакции. Имеющиеся данные показывают, что из 84 элементов, являющихся стабильными (либо, радиоактивных, но
54
имеющих очень большие периоды полураспада (U, Th), 74 элемента можно определять методом нейтронно-активационного анализа. Этим методом не определяются лишь 10 самых легких элементов (H, He, Li, Be, B, C, N, O, F, Ne). По параметрам определения других эле­ментов в целом, метод практически не имеет конкурентов, хотя раз­личные элементы определяются с различными чувствительностями. На рисунке 1.2.3.5.3 показаны энергетические спектры этих источ­ников источники нейтронов
Рисунок 1.2.3.5.3 – Энергетический спектр нейтронов от различных источников
(1 - ядерный реактор и радиоактивный источник
252
Cf; 2 - циклотрон, пучок дейтро-
нов с энергией 40 МэВ, мишень бериллий; 3 -
241
Am/Be источник; 4 - 14 МэВ
нейтронный генератор)
При проведении анализа наиболее распространенным является
регистрация и идентификация линий излучения образовавшихся изотопов с энергией квантов от 0.1 до 3.0 МэВ [26].
Окончательное решение по выбору условий обучения включает определение потока и длительности облучения. В первом приближе­нии продолжительность облучения образца и время выдержки об­разца между облучением и счётом выбирается так, чтобы активность долгоживущих видов была существенно больше активности корот­коживущих. С учётом радиоактивных равновесий при облучении, облучение редко ведут дольше двух-трёх периодов полураспада воз­никающего нуклида. Например, при анализе алюминия образец об­лучают 10 мин нейтронным потоком 5∙1010 н/см2·с. Массу (m), при­сутствующего в образце элемента, рассчитывают по формуле:
55
 
󰇛
󰇜
󰇟  󰇛
󰇜
󰇠
где А - атомная масса определяемого элемента; а - активность (скорость распада определяемого элемента); λ - его постоянная рас­пада; σ - сечение ядерной реакции; θ - доля распространённости эле­мента, подвергающегося ядерной реакции; φ - плотность потока нейтронов, NA - число Авогадро; t - время облучения; t1 - время по­сле облучения.
Все члены в правой части уравнения известны и можно вычис­лить вес присутствующего в образце элемента, но на практике, од­нако, σ неизвестно с достаточной точностью, φ трудно точно изме­рить и не всегда легко определить абсолютную скорость распада а. Поэтому, неизменно используют сравнительный метод, в котором активность элемента в образце сравнивается с активностью эталона определяемого элемента. Тогда массу элемента в образце (mx) легко вычислить из соотношения:
 
где mэ - масса элемента в эталоне; Iх и Iэ - скорости счёта в образце и эталоне, измеренные в идентичных условиях.
Наиболее распространенным способом НАА является способ с регистрацией гамма-излучения радиоизотопов. Для этого использу­ются γ-спектрометры (рисунок 1.2.3.5.4).
56
Рисунок. 1.2.3.5.4 – Спектр гамма-излучения стандартного образца СА-1 (t
обл
=
15 ч, t
ост
= 30 д, t
изм
= 400 с)
Возможные применения нейтронно-активационного ана­лиза:
Геологические изыскания.
Биология
- Токсины в рыбе и сельскохозяйственной продукции.
- Следовые элементы в масле и липидах.
- Содержание йода в пище.
- Анализ фтора в потребительских продуктах.
Химия
- Загрязнители в солях, чистых кристаллах и металлах.
- Определение добавок и загрязнителей в маслах и пластмассах.
Производство
- Состав и примеси в металлах, тонкопленочные отложения
пластмасс, анализ сложных структур.
- Определение примесей в полупроводниках.
- Обнаружение галогенов при производстве продукции.
Судебно-медицинская экспертиза
- Анализ пуль и других материалов с места преступления (краска,
стекло, металлы)
Медицина
- Токсины и микроэлементы в образцах волос, кожи и ногтей.
- Обнаружение серебра, используемого в медицинских изделиях.
Археологическое дактилоскопирование
1.2.3.6 Испытание изделий в смешанном поле излучений
В экспериментальных каналах реактора могут производиться различные виды испытаний. Испытание материалов и изделий на ра­диационную стойкость к воздействию различного вида ионизирую­щих излучений (электроны, реакторные нейтроны, протоны, гамма­кванты) в различных средах (вода, воздух, вакуум, инертные газы) при различных температурах, в условиях, приближенных к реальной эксплуатации. При этом, в процессе испытаний изделий возможен съем различных параметров в непрерывном (on-line) режиме с выво­дом к месту нахождения персонала.
57
Испытания, как правило, производятся в вертикальных экспери­ментальных каналах реактора. При необходимости, создается спе­циализированное облучательное устройство для создания заданных параметров (давление, температура, среда и т.д.).
После проведения испытаний изделия могут быть подвергнуты разрушающим методам контроля с целью выявления структуры ма­териалов. Оборудование для диагностики располагается в «горячих» камерах при реакторе. Перемещение изделий осуществляется ди­станционно с помощью транспортных цепочек для предотвращения переоблучения персонала.
После испытаний изделия имеют наведенную -активность, по­этому они подлежат выдержке с последующим перемещением во временное хранилище твердых радиоактивных отходов (ТРО).
1.2.3.7 Радиационное окрашивание минералов
Цвет драгоценных и поделочных камней является одной из ос­новных качественных (ювелирных) их характеристик.
Окраска, обусловленная электронными переходами между раз­личными ионами («переносом заряда»), в том числе между ионом металла и лигандами и между разнозарядными ионами металлов. Таковы, например, минералы трёхвалентного железа (перенос за­ряда O2-, Fe3+); хроматы, ванадаты и молибдаты - крокоит, ванади­нит, вульфенит и др. (перенос заряда O2-, Cr6+, V5+, Mo6+); минералы, содержащие одновременно разнозарядные ионы Fe2+ и Fe3+ (корди­ерит, вивианит, аквамарин и др.).
Окраска, связанная с ионами переходных металлов (Ti, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu), характерна для изумруда, рубина, рубеллита, ро-
донита, хризолита, малахита. Лантаноиды и актиноиды являются хромофорами минералов редкоземельных элементов и уранила. Окраска обусловлена электронными переходами между d- или f­уровнями хромофорных ионов.
Радиационная окраска связана с образованием под действием естественных ионизирующих излучений электронно-дыроч­ных центров окраски (синяя и фиолетовая окраски галита, флюо­рита, жёлтая и дымчатая - кварца, кальцита и др.) [27].
Существуют несколько методов создания центров окраски:
1. С помощью нейтронного излучения в ядерных реакторах.
2. С помощью пучка электронов, создаваемого в ускорителе.
58
3. С помощью γ-квантов монохромного или широкополосного из-
лучения.
Суть метода окрашивания в ядерном реакторе состоит в следую­щем:
Образец граненый или полуфабрикат помещается в емкость для облучения (блок-контейнер). В некоторых случаях образцы помеща­ются в фольгу из (Cd, Pb и т.д.), отсекающую нейтроны или гамма­кванты различных энергий. Затем мишень устанавливается в верти­кальный экспериментальный канал реактора с естественной цирку­ляцией. При попадании нейтрона в примеси содержащиеся в мине­рале происходит n- реакция и примесь придает цвет общему телу минерала. Через определенное время мишень извлекается из реак­тора, и образцы отправляются на постобработку. В зависимости от типа месторождения, а соответственно по составу примесей подби­рается индивидуальный режим облучения с целью добиться макси­мального окрашивания.
Рисунок 1.2.3.7.1 – Минералы после радиационного окрашивания
Окрашиванию подвергаются следующие минералы: берилл, то­паз, гранат, изумруд, алмаз и т.д. (рисунок 1.2.3.7.1).
Для каждого вида кристалла подбирают индивидуальный метод окрашивания, который корректируется в зависимости от месторож­дения минерала. После радиационной обработки кристаллы обраба­тываются в инертной среде с целью закрепления приобретенной окраски.
59
1.2.3.8. Производство мембранных пленок (трековых мембран)
Пучки ускоренных тяжелых ионов, являющиеся одним из самых современных методов фундаментальной науки, в настоящее время активно используются в современных прикладных нано-технологи­ческих задачах в качестве средства для модификации материалов и создания нанометрических структур. Основой технологии является уникальное явление, когда высокоэнергетичные тяжелые ионы ин­дуцируют очень узкий латентный трек, содержащий высоко разупо­рядоченную зону диаметром около 5-10 нм [29].
Для быстрых ионов с кинетической энергией более 1 МэВ/а. е. м. интенсивность выделения энергии в электронную подсистему в 103­104 раза превышает выделение энергии в ядерную подсистему и мо­жет составлять несколько МэВ/мкм. Высокая скорость выделения энергии в электронную подсистему увеличивает вклад электронных возбуждений и инициирует ряд специфических «эффектов» радиа­ционного повреждения, например, формирование ионных треков, в области которых могут инициироваться процессы локального плав­ления, аморфизации, создания необычных фаз (фаз высокого давле­ния), генерации ударных волн и разрушения материала [30]. Благо­даря своим размерам (диаметр - несколько нанометров, длина соот­ветствует проективному пробегу частиц) и возможным вышеопи­санным состояниям материала в области ионных треков последние эффективно влияют на физико-механические свойства облучаемого вещества.
Технология получения трековых мембран включает элементы высоких технологий и состоит из трех этапов: облучения исходного материала высокоэнергетичными тяжелыми ионами3, сенсибилиза­ции и химической обработки - щелочного травления. В качестве ис­ходного материала используются полимерные пленки толщиной 12- 23 μм. Для создания пор поверхность будущей мембраны облучают ионами криптона с энергиями от 1 МэВ/нук и выше, пробивающими пленку насквозь. В местах прохождения отдельных ионов образу­ются каналы деструктированного материала (треки) с высокой плот-
3
В настоящее время в ЛЯР ОИЯИ исследовательские работы и промышленное
производство трековых мембран проводится с использованием ускорителей тяже­лых ионов У-400 и ИЦ-100.
60
ностью деструкции макромолекулярных цепей. Поперечные раз­меры трека зависят от эффективного заряда, массы и энергии бом­бардирующих ионов и составляют 30-60 нм.
Избирательное растворение деструктированного материала пре­вращает пленку в микрофильтрационную мембрану со сквозными порами цилиндрической формы, то есть при травлении обработан­ной ионами пленки в растворе щелочи на месте треков образуются строго одинаковые сквозные отверстия - поры.
Обычно при облучении ускорителями тяжелых ионов полимер­ных материалов используются ионы Kr
15+
, Xe
23+
, Ar+8 имеющие про-
бег в материале полиэтилентерефталат (ПЭТФ) 16 - 20 μм, соответ­ственно. Это позволяет обрабатывать пленки толщиной 10 и 20 μм (пучок проходит насквозь) и более толстые материалы при обра­ботке поверхности.
Одним из важнейших прикладных применений трековой мем­браны является её использование для фильтрации питьевой воды. Высокая селективность мембраны обуславливает эффективную за­щиту воды как от механических и коллоидных примесей, так и от многих микробов и бактерий. ТМ позволяют эффективно выделять ряд биологических объектов с характерными размерами, близкими к размерам пор. Кишечная палочка, сальмонелла, холерный виб­рион, штамм чумы отфильтровываются на ТМ полностью. На ри­сунке 1.2.3.8.1 представлены участки поверхности ТМ с задержан­ными на ее поверхности стрептококком и кишечной палочкой [31].
а)
б)
Рисунок 1.2.3.8.1 – ТМ с диаметром пор 0.39 мкм. На поверхности: а) стрепто­кокк; б) кишечная палочка
Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]