практикум по ягф (готовое)
.pdfлический анод. Вследствие торможения электронов в материале анода возни-
кает непрерывный (тормозной) спектр рентгеновского излучения. Вывод рентгеновского излучения осуществляется через тонкое бериллиевое окно.
Рис. 3. Схема генерации рентгеновского излучения
С увеличением напряжения U интенсивность тормозного излучения растет, а максимум спектральной кривой и смещаются в сторону больших энергий. Интенсивность тормозного спектра возрастает с увеличением атом-
ного числа материала анода. Например, для трубки с вольфрамовым анодом
(Z = 74) испускаемое тормозное излучение в три раза интенсивнее, чем для трубки с анодом из хрома (Z = 24) при прочих равных условиях. При энергии электронов трубки больших энергии связи электронов на К – оболочке ано-
да, кроме тормозного излучения, испускается ХРИ материала анода (рис. 4).
В рентгеновское излучение преобразуется меньше 1 % кинетической энергии электронов. Остальная энергия тратится на разогрев анода, поэтому трубки нуждаются в принудительном охлаждении.
11
Рис 4. Спектр тормозного и характеристического излучения рентгеновской трубки с W
анодом при различных ускоряющих напряжениях
Мощность рентгеновских трубок, применяемых в РФА, меняется от 2-3
кВт до 5-10 Вт. Выход излучения от рентгеновских трубок составляет 1011 -
1012 кван т, что на несколько порядков превышает выход от радионуклидных
сек
источников. Для создания оптимальных геометрических условий возбужде-
ния целесообразно использовать рентгеновские трубки прострельного ти-
па. В этих трубках используются двухслойные прострельные аноды (тонкоп-
леночный анод и бериллиевое окно). Существенно увеличить относительную интенсивность можно заменой двухслойных анодов металлической фольгой толщиной 100-200 мкм. Мощность рассмотренных трубок не превышает де-
сятков ватт, что не требует водяного охлаждения.
1.3. Детекторы излучения
Измерение потоков ХРИ в РФА осуществляется с помощью спектроме-
метрических детекторов излучений. В качестве таких детекторов применя-
12
ются сцинтилляционные, пропорциональные детекторы, а в последние годы наибольшее применение для многоэлементного РФА получили полупровод-
никовые детекторы (ППД).
В настоящее время разработаны несколько типов ППД, применяемых в РФА. В первую очередь это Si(Li) и Ge(Li) детекторы, полученные методом дрейфа лития в кристаллы кремния и германия. Для нормальной работы хра-
нение и эксплуатацию ППД необходимо осуществлять при температуре жид-
кого азота (-196 ). Выпускаемые ППД различаются по толщине (3-5мм) и
площади чувствительной поверхности (100-200мм2). При этом Si(Li) детек-
торы применяют для регистрации рентгеновского излучения с энергией от
1,5 до 30 кэВ, а Ge(Li) детекторы для регистрации излучения с энергией бо-
лее 30 кэВ.
Полупроводниковый детектор и первый каскад предусилителя разме-
щены в вакуумированном криостатe, погруженном в сосуд с жидким азотом.
Охлаждение ППД осуществляется через хладопровод. Для уменьшения по-
глощения вторичного рентгеновского излучения входное окно детектора из-
готовляют из бериллия толщиной несколько десятков микрон. Структурная схема рентгеновского спектрометра на ППД приведена на рис.5.
Основным недостатком ППД является необходимость их постоянного охлаждения до очень низких температур (-196 ), что препятствует широко-
му применению ППД особенно в полевых условиях. В последнее время поя-
вились ППД, работающие без жидкого азота. Это Si-Pin детекторы на основе особо чистого кремния, которые охлаждаются до температуры -60-90о. Та-
кая температура может быть получена с помощью компактных термохоло-
дильников, работающих на эффекте Пельтье.
Наиболее важные характеристики ППД – энергетическое разрешение,
эффективность регистрации и временное разрешение.
Энергетическое разрешение ( E) – ширина пика амплитудного рас-
пределения от моноэнергетического излучения на половине высоты. Зави-
сит от энергии регистрируемого излучения (E) и определяется формулой:
13
|
|
|
(4) |
E A E, |
где А – ппппппппп для ППД составляет 0,06-0,08
1
|
|
2 |
|
|
|
|
3 |
|
|
7 |
4 |
9 |
10 |
11 |
|
||||
|
|
|||
|
6 |
5 |
|
|
|
|
8 |
|
12 |
|
|
|
|
Рис. 5. Структурная схема рентгенорадиометрического спектрометра на ППД. 1 – иссле-
дуемая проба; 2 – радионуклидные источники; 3 - бериллиевое окно; 4 – полупроводнико-
вый детектор; 5 – охлаждаемый первый каскад предусилителя; 6 - хладопровод; 7 – ваку-
умный криостат; 8 – сосуд Дьюара; 9 – предусилитель; 10 – усилитель-формирователь; 11
– амплитудно-цифровой преобразователь; 12ЭВМ
Наилучшие образцы ППД имеют энергетическое разрешение 130-135
эВ при регистрации излучения с энергией 5,9 кэВ (К– линия марганца).
Энергетическое разрешение ППД на порядок лучше, чем энергетическое раз-
решение газовых пропорциональных и сцинтилляционных детекторов и по-
зволяет раздельно регистрировать К– линии соседних по атомному номеру элементов. Высокое энергетическое разрешение ППД делает их незамени-
мыми при проведении многоэлементного РФА.
14
Эффективность регистрации – отношение числа зарегистрированных детектором частиц, к числу частиц, падающих на его рабочую поверхность.
Эффективность регистрации зависит от энергии регистрируемого излучения,
толщины входного бериллиевого окна и размеров кристалла и близка к 100%
для диапазона энергий от 5 до 20 кэВ.
Временное разрешение представляет собой минимальный временной интервал между актами попадания квантов в детектор, при котором они ре-
гистрируются раздельно. Временное разрешение определяет максимальную импульсную загрузку при работе с детектором, при которой не наблюдается заметного просчета импульсов. Максимальная импульсная загрузка при ра-
боте с ППД составляет 5000-10000 имп/c.
1.4. Методики многоэлементного рентгенофлюоресцентного анализа
Общее выражение для потока квантов ХРИ от определяемого элемента имеет вид:
Nx kC(1 e x) ,
где к – постоянный коэффициент; С – концентрация элемента в пробе; –
массовый коэффициент фотоэлектрического поглощения, характеризующий поглощающие свойства пробы для первичного и вторичного излучений, x –
толщина пробы [г/см2].
Как следует из приведенной формулы, поток ХРИ зависит не только от концентрации анализируемого элемента, но и от поглощающих свойств про-
бы.
Величина пробы определяется еѐ вещественным составом. Для устра-
нения погрешностей анализа, связанных с изменением вещественного соста-
ва пробы применяются различные методики анализа.
15
1.4.1. Методика анализа в тонких слоях
Если выбрать тонкий слой пробы ( х < 0,1), то e |
x |
1 x |
и выраже- |
|
ние для потока Nx примет вид:
Nx = к С х,
т.е. величина Nx прямо пропорциональна концентрации элемента и не зави-
сит от поглощающих свойств пробы
Концентрация определяемого элемента Сi в пробе при анализе в тонких слоях будет определяться выражением:
C |
C |
|
Ni X эт |
, |
|
|
|||
i |
|
эт Nэт Xi |
где Сэт – концентрация элемента в эталонной пробе.
Методика анализа в тонких слоях характеризуется независимостью ре-
зультатов определений от изменений вещественного состава проб. Из-за не-
большой толщины пробы (~1мм) первичное излучение очень слабо рассеи-
вается пробой, поэтому вклад рассеянного излучения в измеряемые скорости счета незначительный.
1.4.2. Методика анализа в насыщенных слоях
Из выражения для потока ХРИ, следует, что если х > 5 (насыщенные слои), то e x 0, тогда
Nх k Cх
Для учета поглощающих свойств пробы измеряется поток некогерент-
ного рассеянного излучения, величина которого равна
N р kр
p
16
Далее вычисляют величину спектрального отношения
|
|
|
|
Nх |
K0 |
Cх , |
|
|
|
|
N р |
||
|
|
|
|
|
|
|
где K0 |
k |
p |
слабо зависит от поглощающих свойств пробы. |
|||
|
||||||
kр |
|
|||||
|
|
|
|
|
|
Из приведенных данных следует, что величина спектрального отноше-
ния определяется концентрацией анализируемого элемента.
Методика анализа в насыщенных слоях является простой, производи-
тельной и обеспечивает более высокую чувствительность по сравнению с ме-
тодикой измерения в тонких слоях.
Важной метрологической характеристикой анализирующей аппаратуры и методики анализа является предел обнаружения. Пределом обнаружения
(ПО) называется минимальная концентрация элемента, определяемая с дан-
ной вероятностью (обычно 99,7%) .
В ядерной геофизике предел обнаружения обычно оценивается по фор-
муле:
|
|
|
|
|
L |
3 Sф |
Сэт , |
(5) |
|
|
|
|
||
Sп |
|
|||
|
|
|
где Sп – площадь «чистого» за вычетом фона пика от анализируемого эле-
мента; SФ – площадь фона под пиком; Сэт – концентрация элемента, по кото-
рому оценивается предел обнаружения.
Если каналы, ограничивающие пик с обеих сторон обозначить l и r, а отсчеты в них Nl и Nr , соответственно, то имеем (см. рис. 6):
S |
r |
Ni – полная площадь пика; |
|
|
n l |
|
|
Sф |
Nl |
Nr |
r l – площадь фона; |
|
2 |
||
|
|
|
|
S |
S |
SФ |
– площадь «чистого» пика. |
|
|
|
17 |
N
SП
N (r)
N (l)
SФ
l |
r |
каналы |
|
Рис. 6. Оценка предела обнаружения метода
Статистическая погрешность определения площади пика вычисляется
по формуле |
S 2S |
1.5. Многоэлементный анализ геоэкологических объектов с применени-
ем спектрометров
Рентгеновский спектрометр «РеСПЕКТ» предназначен для экспрессного многоэлементного анализа различных объектов: природных, питьевых и сточных вод, почв, атмосферного воздуха и др.
Блок схема экспериментального спектрометра приведена на рис 7. Спек-
трометр включает источник высокого напряжения (до 60 кэВ) и спектромет-
рический модуль, позволяющий реализовать оптимальные условия измере-
ний проб. В спектрометрическом модуле размещены рентгеновская трубка,
коллиматоры, и кювета с анализируемым образцом.
18
анод(Мо) |
высохшая капля |
проба |
||
|
||||
|
|
|
пробы |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
90 |
|
10е |
коллиматор |
кристалл |
|
|
ППД |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
ЭВМ |
U |
60кВ |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
медный |
||||
катод |
|
|
сосуд |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
стержень |
|||||
|
|
|
Дьюара |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
196 С |
|
жидкий азот |
|||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
Рис.7. Блок схема спектрометра |
|
|
|
Рентгеновская трубка типа БСВ (P = 3.6кВт) служит источником первич-
ного возбуждающего излучения. При использовании трубки с молибденовым анодом первичным возбуждающим излучением является К (17,5 кэВ) и К
(19,6кэВ) серия молибдена. При этом возможен анализ по К – серии на эле-
менты с атомными номерами от 17(Cl) до 39(Y) и по L – серии на элементы от
49(In) до 92(U) соответственно.
Вторичное рентгеновское излучение регистрируется Si(Li) полупровод-
никовым детектором. Накопление и обработка спектрометрической информа-
ции осуществляется персональным компьютером со встроенным одноплатным спектрометром SBS – 30, обеспечивающим также низковольтное и высоко-
вольтное питание детектора. Программа обработки рентгеновских спектров идентифицирует пики элементов и определяет их площади, которые пропор-
циональны концентрациям анализируемых элементов. Результатом обработки является файл, содержащий перечень элементов и входящих в состав пробы и их концентрация.
19
С применением спектрометра "РеСПЕКТ" возможен анализ как порош-
ковых, так и жидких проб одновременно на 20-25 элементов.
При анализе жидкостей пробу объѐмом 20-100 мкл наносят микродоза-
тором на тонкую полипропиленовую плѐнку и высушивают. Анализируют сухой осадок, образующийся после высыхания капли исходного раствора
(тонкие слои). Для количественного расчета концентраций применяют метод внутреннего стандарта, в качестве стандарта используют рубидий (Rb). Ес-
тественное концентрирование образца при высыхании, оптимальная геомет-
рия измерения, существенно уменьшающая фон рассеянного излучения, при-
водят к значительному улучшению чувствительности анализа. Предел обна-
ружения элементов в жидкостях составляет 10-6 %.
При анализе порошковых проб, (почвы, осадки сточных вод геологиче-
ские пробы) образец массой 3-5 г насыпают в кювету с основой из тонкой полипропиленовой пленки и помещают в спектрометрический модуль на из-
мерение. Для учета влияния вещественного состава проб используется метод нормировки на пик некогерентного рассеянного излучения и привязка по со-
ответствующим стандартам. Предел обнаружения элементов в порошковых
пробах (насыщенные слои) составляет (3-5) 10-4 %. Анализ |
атмосферного |
воздуха основан на его аспирации через воздушные фильтры |
и последую- |
щем измерении полученного сорбента. Результатом анализа является значе-
ния концентраций элементов Сi (мкг), сорбированных на фильтре.
Для проведения многоэлементного РФА в настоящее время в мире вы-
пускается большое количество разнообразной рентгеновской аппаратуры.
Ниже рассмотрены основные технические характеристики современных оте-
чественных спектрометров «РЕСПЕКТ».
Рентгеновский спектрометр «РеСПЕКТ» предназначены для экспресс-
ного определения массовой концентрации элементов, содержащихся в анали-
зируемом образце. За одно измерение (10 - 1000 сек.) одновременно опреде-
ляется до 50 элементов (от Na до U). Диапазон определяемых концентраций
от 0.0001% до 100% (рис.8).
20