Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Мотт, Н. Электронные процессы в некристаллических веществах

.pdf
Скачиваний:
98
Добавлен:
22.10.2023
Размер:
18.34 Mб
Скачать

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таблица

9.1

 

 

Области стеклообразоваиия в некоторых тройных халькогенидных системах

А ВС

[297]

 

 

 

 

X

очень

малая

область, о

малая

область, ®

средняя область,

О большая

область .

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

С

 

 

 

 

 

 

 

А

в

 

Группа

Группа Н а

Группа Ш а

Г р у п п а I V a

 

Г р у п п а V a

Группа

V i a

Группа

V i l a

 

 

Си

A g

Аи

Z n

Cd H g

В Ga

I n T l

Sn

Pb

P

As

Sb B i

Se Те

CI B r

I

 

S

X X X

 

X X X

X X О

X

X

X

 

® X

• ®

X ®

ф

 

 

 

 

А:

Se

О О х

О О О

О х

X . ®

О

x

®

 

® x

 

®

 

®

 

 

 

 

 

 

Те

 

 

 

 

 

 

®

 

 

 

 

 

 

 

x

e

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

S

 

 

 

X

 

X

О

X

 

® •

 

 

X

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Ge

Se

 

 

 

 

X

 

x О

X

X

®

® x

 

X

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Те

 

 

 

 

 

 

 

 

 

О

®

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

S

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

®

 

 

 

 

Si

Se

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

® ®

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Те

® ®

 

Халъкогенидные стекла

341

мийцем [284]. Ниже мы остановимся лишь на некоторых послед­ них работах, касающихся электронных свойств.

9.2. ЭЛЕКТРИЧЕСКИЕ И ОПТИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ХАЛЬКОГЕПИДНЫХ СТЕКОЛ

У большинства халькогенидных стекол проводимость на пос­ тоянном токе вблизи комнатной температуры подчиняется соотно­ шению: а = С ехр (— Е/кТ). На фиг. 9.1 показаны некоторые

Ф и г . 9.1.

Температурная зависимость проводимости в некоторых аморфных

халькогенидных

полупроводниках,

иллюстрирующая

зависимость

вида

 

 

 

 

 

о =

С ехр

(—Е/кТ).

 

 

 

 

Жирными линиями

представлены

экспериментальные зависимости,

тонкими — их

экст­

раполяция

к

1 / Г =

0 (отметим, что истинная зависимость о от

Т может не соответствовать

 

 

 

 

 

этой

экстраполяции).

 

 

 

 

1

GeTe

[510]; 2

— A s . T e . - T l j S e

[ 2 4 ] ;

3

Ав 2 Те з [536];

4 —

k A s 2 T e 3 . A s . S e a

[ 5 1 4

] ;

5

A s 2 S e 3 - T l . S e

[ 2 4 ] ; 6 — 3 As.Se

^ S B j S e

" Й Т Й Г ' Г _ _ A s , S e 3

[149]; S — A s 2 S j

[ 1 4

9 ] ^

типичные графики зависимости I n о от ИТ для халькогенидов, у которых Е изменяется примерно от 0,3 эВ до более чем 1 эВ. (Хотя величина 2 Е близка к значению энергии фотонов, соответ-

342 Глава 9

ствующему началу сильного оптического поглощения, проводи­ мость нельзя считать собственной, и поэтому мы не будем удваивать

наблюдаемые значения Е.) Значения Е и С для некоторых

халько­

генидных

стекол

 

были

приведены на фиг. 7.S. Как указывалось

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в гл. 7, мы считаем, что зна­

 

ю5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

чения С в интервале 103 —10*

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

О м -

1 - с м - 1

соответствуют про­

£

ю3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

водимости по нелокализован­

's

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ным

состояниям.

 

В

некото­

юг

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

рых

веществах

наблюдались

 

 

 

 

 

 

 

—1 1 !

существенно

меньшие

значе­

 

1

1

1

1

1

1

1

ния С; это заставляет думать,

 

1,1

Se

 

 

1 1

1i

i

%As,T e

что в них проводимость

осу­

 

1,0

1 1t

 

i

ществляется в основном

пос­

 

 

\

 

 

 

AS

 

 

 

 

 

редством

перескоков

 

носи­

 

0,9

ч

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

телей между

локализованны­

«ч

 

\

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,8

\

 

 

 

 

 

 

 

 

-

ми

состояниями

вблизи

края

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

зоны.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Представляют

интерес за­

 

10s

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

висимости

С и £

 

от состава

iU

10*

-

 

 

 

 

 

 

 

 

 

в различных бинарных и трой­

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ных

системах.

Соответствую­

1

103

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

щие

кривые

для

 

некоторых

3

юг

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

систем показаны на фиг. 9.2.

 

10

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Отметим, что С почти не за­

 

1

1

1

1

i

1

1

i

i

 

1

висит от состава

в системах:

 

1,г

 

 

 

 

 

 

%As z Sj,As z Te 3

Se — Те и As2 Se3

— As 2 Te 3 ,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1,0

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а Е — в системах: Se — As и

*)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

As2 Se3 — As 2 S 3 . Для селена,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,8

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а также для некоторых

дру­

ч

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

0,6

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

гих

высокоомных

материа­

 

0,4

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

лов

невозможно

 

достаточно

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

точно определить

значения Е

Ф и г .

9.2.

Изменение

предэкспонен-

и

С, поскольку

 

измерение

циального

множителя

С

и

 

энергии

проводимости

в этих

матери­

активации

проводимости Е в

системах

алах в широком

температур­

Se — Те, Se — As,

 

A s 2 S e 3

— A s 2

T e 3 и

 

 

 

A s 2

S e 3 — A s 2 S 3 .

 

 

 

ном

интервале

 

оказывается

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

сложной задачей.

 

 

 

 

 

Термо-э.д.с. халькогенидных стекол обычно положительна,

причем ее значения соответствуют

представлению

о том, что энер­

гия Ферми находится вблизи середины запрещенной зоны (несколь­ ко ближе к краю валентной зоны по подвижности). Для веществ, в которых удалось измерить температурную зависимость термо- э . д . с, значения энергии активации оказались близкими к значе­ ниям энергий, определяемым по температурной зависимости элект­ ропроводности. К сожалению, большинство имеющихся данных

Халъкогенидные стекла

343

было получено лишь для веществ, находящихся в жидком состоя­ нии (где значение проводимости выше и измерения выполняются легче).

Измерения эффекта Холла в халькогенидных стеклах, особен­ но в стеклах с низкой проводимостью, затруднены из-за малой

величины эффекта. Для

 

 

 

 

 

 

 

 

тех

веществ,

в

которых

 

 

 

 

 

 

 

 

удалось

провести

изме­

 

 

 

 

 

 

 

 

рения,

было

установ­

 

 

 

 

 

 

 

 

лено, что

эффект

 

Хол ­

 

 

 

 

 

 

 

 

ла

отрицателен

(т.

е.

 

 

 

 

 

 

 

 

имеет знак,

противопо­

 

 

 

 

 

 

 

 

ложный

знаку

термо-

 

 

 

 

 

 

 

 

э . д . с) . Если при расчете

 

 

 

 

 

 

 

 

лспользовать

 

формулу,

 

 

 

 

 

 

 

 

выведенную

для

крис­

 

 

 

 

 

 

 

 

таллических

 

полупро­

 

 

 

 

 

 

 

 

водников, то измеряемая

 

 

 

 

 

 

 

 

величина эффекта

Хол­

 

 

 

 

 

 

 

 

ла

в

халькогенидных

 

 

 

 

 

 

 

 

•стеклах

приводит

к

не­

 

 

 

 

 

 

 

 

разумно

высокой

 

кон­

 

 

 

 

 

 

 

 

центрации

 

носителей

 

 

 

 

 

 

 

 

или, наоборот,

к

слиш­

 

 

 

 

 

 

 

 

ком

низкой

 

величине

 

 

 

 

 

 

 

 

холловской

подвижно­

 

 

 

 

 

 

 

 

сти. Некоторые резуль­

 

 

 

 

 

 

 

 

таты, полученные

Мей-

 

 

 

 

 

 

 

 

лом

[341],

были

пред­

 

 

 

 

 

 

 

 

ставлены на фиг.

7.22 и

 

 

 

 

 

 

 

 

обсуждаются

 

в

гл.

7

 

0,8

i,o

1,г

1,4

1,6

1,в

г,о г,г

(см.

также

2.12).

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Энергия

фотонов,

эВ

 

Края оптического по­

 

 

 

Ф и г . 9.3.

График

зависимости удельного

глощения

халькогенид-

сопротивления при 130° С

от

энергии фото­

,.ных

стекол

всегда

 

ха­

нов,

соответствующей коэффициенту поглоще­

рактеризуются

тем,

что

ния,

равному приблизительно 8 с м - 1

(по дан­

коэффициент

 

поглоще­

 

 

ным

табл. 9.2).

 

 

ния

а

возрастает

экс­

 

 

 

 

 

 

 

 

поненциально с увеличением энергии фотонов вплоть до вели­ чины порядка 103 —104 с м - 1 . Это спектральное правило Урбаха обсуждалось в гл. 7, и данные для некоторых халькогенидных •стекол представлены на фиг. 7.31. При более высоких значениях коэффициента поглощения наиболее часто наблюдается зависи­

мость вида ай® = В (Ггоа — Е0)2,

где В лежит в пределах от 10б до

106 с м - 1 - э В - 1 .

Величину Е0 можно считать оптической шириной

-запрещенной

зоны. Примеры

стекол, удовлетворяющих этому

Таблица 9.2

Положение края оптического поглощения при комнатной температуре и удельные сопротивления в некоторых халькогенидных системах

 

Волновое число,

 

Удельное

сопротивление

 

соответствующее

Соответ­

 

 

 

Материаатериал

прозрачности 15%

ствующий

 

 

для образцов тол­

энергия,

при 50° С,

при 130° С,

 

щиной 0,17S см,

эВ

 

с м - 1

 

Ом • см

Ом • см

AS34 ,25Se6 5,75

12330

1,53

 

4,10- 108

A s 3 7 , 6 S e 6 = , 4

12248

1,52

 

1,57-108

A s 3 s , 7 S e 6 1 , 3

 

 

 

1,49-108

A s 4 0 S e 6 0

12131

1 , 5 0

 

1,54- 108

A s 4 2 S e 5 8

12049

1,49

 

1,82-108

A s S 0 S e 5 0

12510

1,55

 

18,4 - Ю 8

A s 3 5 ( S e 2 T e ) 6 5 , 3

7892

0,98

1,7-10'

 

As4o(Se 2 Te ) e o , 3

8045

1,00

3,3-10'

2,5-105

A s 4 5 ( S e 2 T e ) 5 5 / 3

8260

1,02

6 , 9 - Ю 8

 

A s 2 S 3

16555

2,05

 

2.0- 1012

A s 2 S 2 S e

14435

1,79

 

9.4- 1010

A s 2 S S e 2

13069

1,62

 

3.1- 109

A s 2 S e 3

12131

1,51

( 2 - 1 0 1 1 )

1,54-Ю8

A s 2 S e 2 , 5 T e o , 5

9095

1,13

8,75- 108

4,05-10°

A s 2 S e 2 T e

8045

1,00

3,3 - 10'

2.5- 105

A s , S e T e 2

6715

0,83

1,8-105

3,5-103

( A s 4 S b 2 ) S e 9

10461

1,30

2 , 2 - Ю 9

7,4-10»

A S 4 o S e o

16555

2,05

 

2.0- 1012

ASioSfjoAgt

16205

2,01

 

7,9- 108

As40 Se6 o

12131

1,51

 

1,54-108-

A s 4 0 S e 6 0 A g I

11445

1,42

 

•8,1-10'

A s 4 0 S e 6 0 T e 2 o

8045

1,00

3,3-10'

2,5-105-

A s 4 o S e 4 o T e 2 o A g 1

7527

0,93

5,5-10'

4,2-105

A s 3 4 , 2 5 S e 6 5 , 7 5 A g j

11702

1,45

 

1,17-108

11445

1,42

 

0,81- 108

A s 4 0 S e 6 o A g i

 

(11480)

(1,42)

 

1,48-108

As5 oSe5 oAgi

 

 

 

 

2.1- 109

A s ^ S g e A g !

 

 

 

 

 

 

 

As4 oSe6 o

12131

1,51

 

1,54-108

A s 4 0 S e 6 0 G e 5

12525

1,55

 

7,5 - 1 0 8

A s 4 0 S e 6 0 T e 2 o

8045

1,00

3,3 - 10'

2,5-105

A s 4 0 S e 4 0 T e 2 0 G e 5

8260

1,03

 

5,9-105-

Халъкогепидные стекла

345

сотношению, показаны на фиг. 7.32. Значение Е0,

определенное-

таким способом, обычно соответствует изменению

коэффициента

поглощения (на крае Урбаха) в интервале значений от 102 до 103 см"1 .

В табл. 9.2, взятой из работы Эдмонда [149], для различных халькогенидных систем показаны значения энергии фотонов, соот­ ветствующие пропусканию 15% при толщине образцов 0,178 см. Оказалось, что эти значения энергии фотонов после внесения поправки на отражение соответствуют коэффициенту поглощения аг равному примерно 8 с м - 1 . Если принять не совсем точное пред­ положение, что край Урбаха во всех веществах имеет один и тог же наклон, то табл. 9.2 характеризует относительное расположе­ ние краев поглощения для различных стекол. В этой таблице приводятся также удельные сопротивления при 50 и 130 °С. Чтобы проиллюстрировать очевидную корреляцию между проводимостью- и шириной запрещенной зоны, на фиг. 9.3 в соответствии с табл. 9.2. изображена зависимость удельного сопротивления при 130 °С от энергии фотонов %и>, для которой а = 8 с м - 1 . Из всех приведен­

ных веществ только в A s 2 S 3

с содержанием 1 % A g эта зависимость,

отклоняется

от линейной. Ниже в настоящей главе мы

проведем

более подробное сравнение

оптической и электрической

ширин

запрещенных

зон.

Спектральная

зависимость фотопроводимости

в некоторых

аморфных пленках показана на фиг. 7.24.

 

9.3. ТРИСУЛЬФИД МЫШЬЯКА

A s 2 S 3 И СИСТЕМА As — S

Трисульфид мышьяка кристаллизуется в моноклинной структу­

ре (С|л) с двадцатью

атомами в элементарной ячейке (фиг. 9.4).

Каждый атом As окружен тремя атомами S, а каждый атом S связан с двумя атомами As. Решетка состоит из слоев, слабо взаимодей­ ствующих между собой (кристалл легко расщепляется вдоль

плоскостей, в которых лежат кристаллографические оси

а и с).

Об оптических

свойствах естественных кристаллов

A s 2 S 3

вблизи

края основной

полосы поглощения сообщалось в

работе

Эванса

и Янга [159]. Заллен, Слэйд и Уорд [904] исследовали закон дис­ персии фононов в инфракрасной области спектра х ) .

При исследовании дифракции рентгеновских лучей в стекло­ образном A s 2 S 3 [517, 518] было установлено, что число атомов в первой и второй координационных сферах в стекле такое же, как в кристалле. В этом случае можно предполагать, что в стекле слоистая структура до некоторой степени сохраняется, но слои

х ) Поглощение в области края основной полосы поглощения в кристал­ лическом A s 2 S 3 было исследовано также Костышиным и Романенко [918], Горбань и Дашковской [890], Гетовым, Кандпларовым, Симидчиевой и Андрейчиным [886], Залленомидр. [903], Дрюсом и др. [898]. Исследование фононного спектра было выполнено Златкииым и Марковым [907].— Прим. перев.

346

Глава 9

изгибаются и пересекаются. Вместе с тем, по-видимому, слои могут также распадаться на двеиадцатичленные гофрированные кольца, которые показаны на фиг. 9.4, или на другие, более мелкие, структурные элементы. Менее вероятно образование це­ пей, аналогичных тем, которые можно выделить в кристалле в

направлении оси с.

Стекло

A s 2 S 3 может быть

получено обычным способом при

плавлении элементов

в эвакуи­

рованной

кварцевой

ампуле.

Ампула с расплавом

примерно

при 600 °С медленно

вращается

в печи в течение дня или более и затем охлаждается. Получен­

ные

таким

способом

слитки

можно

разрезать

на

пластин­

ки,

шлифовать и

полировать.

Образцы

толщиной

меньше

100 мкм удобнее получать в виде

аморфных

пленок

путем испа­

рения в

вакууме.

 

 

На фиг. 9.5 для сравнения показаны края оптического пог­ лощения аморфного и кристал­ лического A s 2 S 3 при комнатной температуре. Данныедляаморфной'фазы были получены Косеком и Тауцем [293] при измерении поглощения пленок и массивных

•образцов. Толщины пленок, необходимые для вычисления а, определялись по интерференционным полосам, наблюдаемым при низких значениях а; при этом предполагалось, что показатель

преломления

п0 равен 2,55.

Край поглощения для значений а,

меньших

103

с м - 1

, хорошо

описывается выражением

 

 

 

а =

а' ехр (Г/ко)

при Г =

18,6

э В - 1

. Аналогичные результаты были получены Коло-

мийцем и др.

[291].

 

На фиг. 9.6 сравниваются края поглощения в аморфном A s 2 S 3 при комнатной температуре и при температуре жидкого азота. На фиг. 9.6, а можно видеть, что наклон экспоненциального участка края при понижении температуры от 293 до 80 К увеличивается

всего

лишь на 13% . Согласно эмпирическому правилу Урбаха,

Г ~

1/Г, и, следовательно, при понижении температуры от ком-

Халькогенидные стекла

347

натной до температуры жидкого азота наклон должен увеличивать­ с я примерно в 3,7 раза. Как сообщалось в гл. 7, в аморфных полу­ проводниках при температурах ниже комнатной край поглощения згочти всегда смещается параллельно. Спектральная зависимость

_ 1

1

)

1

1

1

i _

г,о

г,г

г,ч

г,в

г,&

з,о

з,г

 

 

 

Ьсо, эБ

 

 

 

и г. 9.5. Края оптического

поглощения в аморфном и кристаллическом

 

 

A s 2 S 3

[293].

 

 

 

коэффициента поглощения в области, лежащей выше экспонен­ циального участка, показана на фиг. 9.6, б. Хотя здесь приведена зависимость а 1 / а от Я со, хорошие прямые получаются также на графиках зависимости (а7ш)1 / ! ! от %<а, а значение оптической ширины запрещенной зоны EQ, которое может быть определено

348 Глава 9

экстраполяцией, прп комнатной температуре оказывается равным 2,32 эВ. Коломиец и др. [291] из зависимости ( / ш е 2 ) 1 / 2 от /г© полу­ чили Е0 = 2,4 эВ.

Из фиг. 9.6 следует, что температурный коэффициент оптиче­

ской ширины запрещенной зоны

в аморфном A s 2 S 3

в указанном

интервале температур равен — 5

, 1 . Ю - 4 э В . К - 1 .

 

Следует отметить, что значение Е0

при комнатной

температуре-

приблизительно совпадает с шириной

запрещенной

зоны для не-

hu>, оВ

Ьш, эВ

а

6

Ф и г .

9.6. Край оптического поглощения при 293 и 80 К в аморфном A s 2

S 3 >

 

 

представленный в виде разных зависимостей [293].

 

 

 

 

а — l n a от ha; б — а*/а

от йш.

 

 

прямых

переходов в кристаллическом

As 2 S 3 , вклад от

которых

на фиг. 9.5 проявляется в виде слабой структуры.

 

 

Ширина запрещенной зоны для прямых переходов в кристалле

по данным Эванса и Янга равна 2,74 эВ для Щ \\с и 2,8 эВ

для

ША-с(Щ\а), а температурный коэффициент составляет

величину,

равную

— 6 , 9 2 . Ю - 4 эВ.К^1 . Экспоненциальную часть края погло­

щения

в

стеклообразном A s 2 S 3 Косек

и Тауц интерпретировали,

как переходы между состояниями в «хвостах» зон. Недавно Тауц, Мэне и Вуд [498] исследовали оптическое поглощение в чистых образцах A s 2 S 3 в области очень малых значений а. Их результаты показаны на фиг. 9.7. В интервале значений а, меньших 1 с м - 1 , наблюдается второй экспоненциальный участок поглощения, кото­ рый при всех температурах вплоть до температуры размягчения

Халъкогенидные стекла

349

(470 К) имеет наклон Г' ^ 3 , 3 э В - 1 . Тауц и др. предположили, что именно этот участок поглощения возникает из-за наличия «хво­ стов» зон, а другой, более крутой, обусловлен влиянием на погло­ щение, обусловленное переходами между нелокализованными сос­ тояниями, внутренних электрических полей (см. 7.6.1).

Коломиец и др. [291], используя модуляционную технику, наблюдали в аморфном A s 2 S 3 сдвиг края поглощения под дейст-

600к

500К

400К ЗООК 200К

100К

1,0

0,1

 

 

 

 

 

1

1,4

1,6

1,8

2,0

г.г

 

 

Ьш, эВ

 

 

 

Ф и г. 9.7. Зависимость от температуры низкоэнергетического участка края оптического поглощения в аморфном AsoS3 [498].

вием электрического поля. На фиг. 9.8 показаны результаты, полученные ими при комнатной температуре. Сдвиг края мал и пропорционален напряженности электрического поля в степени 1,8—2,0. Для интерпретации результатов авторы использовали теорию Франца [176]. В отличие от теории Доу и Редфилда [139] расчеты, выполненные Францем, показывают, что экспоненциаль­ ный край под действием электрического поля должен смещаться параллельно в соответствии с выражением

А.Е--

24m*

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ