книги из ГПНТБ / Видершайн, М. Н. Производственный контроль параметров элементов цифровой автоматики

В соответствии с этими стандартами при разработке сложных изделий на самых ранних стадиях опытно-конструкторских работ, а при необходимости и в процессе проведения научных исследова­ ний, составляют руководящие указания по конструированию. Они определяют общее направление разработки, выбор кон­ структивно-элементной базы, требования по обеспечению удобства эксплуатации, ремонтопригодности, техники безопасности, тех­ нической эстетики и эргономики, специальные требования к из­ делию, связанные с условиями его эксплуатации. Кроме того, ими определяются различные технологические указания, требо­ вания по стандартизации и унификации, перечень разрешенных к применению комплектующих изделий, комплектность конструк­ торской документации и поря ток ее согласования с предприя- тиями-соисполнителями и др. Особенно большое значение при­ обретает разработка руководящих указаний по конструированию при создании сложной аппаратуры с участием нескольких со­ исполнителей.

Существенную роль в обеспечении разработки высококаче­ ственной продукции играют стандарты по системе организации бездефектного труда. Для дальнейшего ее совершенствования и повышения ответственности предприятий за качество выпу­ скаемой продукции необходимо разработка комплекса стандар­ тов, среди которых следует отметить стандарты по оценке деятель­ ности предприятий и по материальному стимулированию пред­ приятий и отдельных исполнителей за бездефектный труд.

Возросшие темпы роста промышленного производства и науч­ ных работ потребовали существенного изменения системы управле­ ния качеством. В число первоочередных задач, решаемых при совершенствовании управления, входят:

осуществление оптимального планирования работ; повышение уровня информационного обеспечения руководства

предприятия и отрасли; повышение оперативности управления;

повышение точности планово-экономических расчетов. Успешное решение сложнейших задач, стоящих перед нашей

промышленностью, в современных условиях невозможно без ши­ рокого внедрения автоматизированных систем планирования и управления.

Создание автоматизированных систем управления отдельными предприятиями (АСУП) и отраслевой системы (ОАСУ) возможно лишь на базе единого информационного языка. Это позволит осуществить разработку унифицированных программ обработки информации и наиболее эффективно использовать средства вы­ числительной техники при решейиях задач планирования и управления.

В настоящее время особенно необходима разработка стандар­ тов по автоматизированной системе управления предприятиями (АСУП). Эти стандарты должны охватывать подготовку исходных

210

СПИСОК ЛИТЕРАТУРЫ

1.Автоматизация радиоизмерений. Под ред. В. П. Балашова. М., «Совет­ ское радио», 1966, 527 с.

2.Алексанян И. Т., Бондаренко Ю. Г., Брицын К. И. и др. Методы изме­ рения параметров пленочных микросхем. В сб. «Микроэлектроника», вып. I.

М., «Советское радио», 1967, с. 285—314.

3. Белов Б. И., Норенков И. П. Расчет допусков схем электронных цифровых вычислительных машин (ЭЦВМ) методом цифрового моделирования. Сб. Трудов «Надежность и долговечность машин и приборов», вып. 4. М., НИИМАШ, 1966 с. 140—152.

4.Гитис Э. И. Преобразователи информации для электронных цифровых вычислительных устройств. М.—Л., Госэнергоиздат, 1961, с. 376.

5.Груничев А. С., Кузнецов В. А., Шинов Е. В. Испытания радиоэлектрон­

ной аппаратуры на надежность. М., «Советское радио», 1969, с. 288.

6. Грязнов М. И., Гуревич М. Л., Маграчев 3. В. Измерения импульсных

напряжений. М., «Советское радио», 1969, с. 332.

7. Дж. Даммер, К. Брунетти, Л. Ли. Расчет и конструирование электрон­ ной аппаратуры. М.—Л., «Энергия», 1964, с. 287.

8 . Даммер А., Гриффин Б. Испытание радиоэлектронной аппаратуры ма­

териалов на воздействие климатических и механических условий. М.—Л., «Энер­ гия», 1965, с. 567.

9. Джонс. Оригинальный анализатор формы электрических колебаний для автоматизации измерений. «Электроника» (русский перевод). Т. 36, № 15, 1963, с. 22—27.

10. Долкарт В. М., Новик Г. X., Колтынин И. С. Микроминиатюрные аэро­ космические цифровые вычислительные машины. М., «Советское радио», 1967,

348с.

И. Еремин С. А., Мокеев О. К., Носов Ю. Р. Полупроводниковые диоды

снакоплением заряда и их применение. М., «Советское радио», 1966, 152 с.

12.Инженерные методы исследования надежности радиоэлектронных си­ стем. Перевод с английского под ред. А. М. Половко, А. Г. Варжапейтяна. М.,

«Советское радио», 1968, 336 с.

13. Картер, Наук. Новая методика измерения длительности импульсов. «Электроника» (русский перевод). Т. 35, № 43, 1962, с. 21—25.

14.Конструированиемикромодульной аппаратуры. Подред. Барканова Н. А. М., «Советское радио», 1968, 416 с.

15.Лебедев А. В. Саратовская система за рубежом. М., «Изд-во стандартов», 1968, 67 с.

16.Майоров С. А. Проектирование и производство модулей и микромоду­ лей. М., «Машиностроение», 1968, 168 с.

17.Маранц В. Г. Применение стробоскопического метода для измерения переходных процессов полупроводниковых приборов. В сб. «Полупроводнико­

212

вые приборы и их применение». Вып. 8 . М., «Советское радио», 1962, с. 137—

173.

18.Мирский Г. Я. Измерение временных параметров. М,—Л., «Энергия», 1964, 72 с.

19.Проект типового положения об отделе технического контроля (ОТК) предприятия. — «Надежность и контроль качества», № 6 , 1969, с. 45—66.

20.Тафт В. А., Видершайн М. Н. Использование туннельных диодов в схе­ мах измерения временных параметров импульсных сигналов. В сб. «Расчет и надежность электронных устройств», М., «Транспорт», 1968, с. 113—123.

21.Тафт В. А., Видершайн М. Н. Сравнительная оценка эффективности различных методов контроля качества функциональных узлов радиоэлектрон­ ной аппаратуры. В сб. «Расчет и надежность электронных устройств», М., «Транспорт», 1968, с. 34—41.

22.Типовое положение о подразделении надежности. «Надежность и кон­ троль качества». Ежемесячное приложение к журналу «Стандарты и качество»,

№4, 1969, с. 58—74, № 5, 1969, с. 56—77.

23.Томас Л. Ф. Контроль качества. М., «Изд-во стандартов», 1968, 184 с.

24.Туннельные диоды и их применение в схемах переключения и в устрой­ ствах СВЧ диапазона. «Советское радио», 1965, 184 с.

25.Фадеев Н. И. Технология производства узлов электронных вычисли­ тельных машин. М., «Машиностроение», 1969, 312 с.

26.Флейшер, Джонсон. Новый метод аналого-цифрового преобразования

в наносекундном диапазоне. Электроника (русский пер.) Т. 36, № 18, 1963, с. 26—30.

27.Хальд А. Математическая статистика с техническими приложениями. М., «Иностранная литература», 1956, 664 с.

28.Ху. Уменьшение времени нарастания импульса с помощью диодов с на­

коплением зарядов. «Электроника» (русский перевод), Т. 36, № 7, 1963, с. 45—48.

29. Шор Я- Б. Статистические методы анализа и контроля качества и надеж­ ности. М., «Советское радио», 1962, 552 с.

30.«Экспресс-стандарт». Качество. Стандарты. Метрология. Вып. 38 (164) ВНИИКИ, 1968, с. 11—12.

31.Эккеркунст В. Автоматизация линейных измерений. Перевод с немец­ кого. Изд-во стандартов. М., 1969, 239 с.

32.Anjard Ronald Р. Bubble leak testing. Mater Res and Stand., 9, № 2,

1969, p. 23—26.

33. Annual Symposiam on Reliability. Proceedings, 1967, p. 253—266.

34.Automatik system speeds Transistor Testing Electrical Design News, October, 1967, p. 77.

35.Biegs В. C. How to measurepower — supply perfomance. Electron. World, 79, № 4, 1968 p. 41—43.

36.Cline James E., Morris James M., Schwartz Saymour — scanning elect­ ron mirror microscopy and scanning electron microscopy of integrated circuits.

IEEE Trans. Electron Devices, 16, № 4, 1969 p. 371—375.

37.Dauphin A., Leclereg C. Etat actual de la normalisation des essais climatiques et de robustesse mecanique. Courrier normalis, 36, № 208, 1969, p. 422— 425.

38.Diodes that swith in a billionth of a second. Computers and automation,

v.9, № 4 , i960, p. 18.

39.Electronic Components, v. 8 , № 7, 1967, p. 795—800.

40. Electronic News, p. 1, № 605, 1967, p. 35.

41. Fricke H. W. Der Abtast—Oszillograf. Arbeitsweise—Vorteile. Electro­ nic 16, № 12, 1967, S. 361—364.

213