Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

книги из ГПНТБ / Ядернофизические методы анализа и контроля технологических процессов [сборник статей]

..pdf
Скачиваний:
6
Добавлен:
19.10.2023
Размер:
6.02 Mб
Скачать

рация

(g) пропорциональна числу ядер N данного

компонента

в единице объема

(IV. 14)

 

q = A N .

Если 0 ^ V < оо,то для малых N зависимость площади 5 пика

от N

пропорциональная (S —N ), а для больших N наступает пре­

дел насыщения интенсивности у-излучения захвата (для данного потока нейтронов и единичного объема).

Рис. 8 . Представление результатов по скважине

№ 364.

Площадь S пика кривой 113 можно аппроксимировать зависи­ мостью

где а, b — некоторые искомые константы.

При N = 0 из (15) следует S = 0, и при N < 6 — 5 -----

y N .

Таким образом, площадь пика пропорциональна числу N ядер.. При больших N наступает насыщение S < а. Переходя от N к q с помощью (IV.14), получаем

S = ^ - b ,

(IV-16)

где а, b — новые константы.

40

Определим зависимость S от мощности (к) пласта. При / г - - > о о интенсивность постоянна, т. е. площадь 5 растянутого пика

пропорциональна

мощности

h

пласта. При

малом значении к

разделим пласт

мощности

h

на элементарные

пропластки dh,

каждый из которых даст один

и тот же вклад

dS

(при <7 = const)

в суммарную

площадь пика. Поскольку она пропорциональна мощ­

ности пласта

к, то и для малых мощностей можно

ожидать, что

 

S ~ A .

(IV. 17)

Обобщая (IV.16) и (IV.17), получаем

 

 

S =

(IV.18)*

где а, b — искомые постоянные величины.

Результаты интерпретации каротажных диаграмм, полученных в разведочных скважинах методом спектрометрии нейтронного^

7-каротажа, и сравнение их с данными химического анализа керна

Номер скважины

Мощность пласта, м

Ширина пика, м

Концентрация,

Погрешность,

Значения 5

в относительных

%

 

%

единицах

по хи­

 

 

относи­

без учета фоново­

с учетом фонового

по фор­

абсо­

го излучения

излучения

мичес­

тельная

 

 

кому

муле

лютная

1^ 1.100

гра­ по формуле

гра­ ^по формуле

анализу

(IV,37)

1ДС |

 

 

 

С

фи­

фи­

 

 

 

 

чески (1V,34)!(IV.33)

чески (IV-35)|(IV-36)

 

1,0 1 .Ц

0,032

0,036

0,004

12,5

32,0

27,1

28,6

39,5

36,1

50,0

I / O

0,31

 

0,49

0,37

0 ,1 2

24,5

23,1* 37,5

27,3

42,3*

45,5

38,0

0 . 2 /

 

2,62

2,55

0,07

3 ,0

37,9* 25,0

3 2 ,7 36,8*

37,0

3 6 ,7

 

 

 

0,5

0,445

0,06

0,059 0 ,0 0 1

2 ,0

1 2 ,0

21.5

13,5 26,0

29.1

2 3 ,9

 

1 ,8

2 ,2

0,07

0,09

0 ,0 2

28,6

51,2

85,8

148

152

117

204

364

3,5

3,9

0,54

0,30

0,24

4 4,5

343

373

730

462

541

730

 

1,5

1,8

0 ,2 1

0,18

0,03

14,3

122

124,4

202

213

175

265.

* Вычислены по формуле (IV.29).

Более точно зависимость площади 5 от q и h для Nh 178 характеризуется функцией (см. таблицу)

aqh2

5 = qh -|- b

скважины

(IV .19)

которая удовлетворяет тем же граничным условиям, однако от­

клоняется от пропорциональной

зависимости S

от h для малых к

 

S ~

А2.

(IV. 20)

На опорной

скважине №

178 установлена)

связь между мощ­

ностью пласта

ht и шириной

H t

основания пика i. Например, за

4 t

ширину пика АСВ (см. рис. 7) возьмем отрезок А 'В ' и для/с запи­ шем равенство

К = aiHi>

(IV.21)

где а. — коэффициент пропорциональности между hi и Н г Усредденное его значение для п пластов выглядит следующим образом:

 

_

1

V

 

 

(IV.22)

 

 

п

г- 1

1

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Следовательно,

 

 

 

 

 

 

 

I ~

~п

2^md ТГ/-/.*

 

(IV.23)

 

 

 

j - 1

1

 

 

.Для параметров скважины №

178 значение а равно

 

_ 1 м

0,5 м

,

0 ,5

м

0 ,8 8 ^ 0 ,9 ,

(IV.24)

~ 1, 1 1 м

0,78 м +

0 ,4 5 5 м

 

 

т. е. мощность пласта рассматриваемой скважины в среднем сос­ тавляет 90% от ширины пика.

 

Для

определения

величин

а, b в уравнении

(IV. 19)

оценим

площади пиков,

соответствующих

пластам

с

0,49 и

2,62% Hg.

Для этого S = f (h, q)

представим в виде полинома

 

 

 

 

 

 

 

S = hq ( a - ^ b h -f dq),

 

 

 

 

(IV.25>

тд е

a ,

b, d — новые

искомые

константы.

 

 

 

 

 

 

По данным таблицы

составим систему

условных

уравнений

 

 

 

1000 — а — Ь — 0,032й? *= еь

 

 

 

 

 

 

 

 

909 -

10а -

2.22Ь — 21,5rf -

г2

 

 

(IV.26)

 

 

 

800 - 2а -

Ь - 0 ,Ш = е3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

1182 - 10а -

2,426 - 21,32<зГ =

г4

 

 

 

где

£. — величины, обеспечивающие

совместность

условных урав­

нений.

Последнее

уравнение

системы получено для

площади

фигуры

A E D M K

(SAEDMK =

80

отн. ед.).

Минимизируя

сумму

квадратов величин ®г (по методу наименьших квадратов)

 

 

 

4

 

 

 

 

5

=

2 h >

 

 

(IV.27)

 

 

 

г=1

 

 

 

лолучаем систему линейных

уравнений

 

 

 

а +

0,2416

+

2,09с/ =

114,7

'

 

а +

0,2596 +

2,013d =

135,2

■,

(IV.28)

а +

0,2326

ф- 2,139га? =

104,7.

 

42

решение которой приводит к формуле

 

 

 

 

 

 

S - hg (1228 h +

17,27 q -

217,2).

 

(IV.29)

Найдем по ней значения 5 и сравним их с

эксперименталь­

ными:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

По формуле

 

(IV.29)

Экспериментальные

 

S,

 

32,3

 

 

 

 

 

32

 

 

s2

 

23,3

 

 

 

 

 

 

 

Ss

 

38,2

 

 

 

 

 

 

 

 

S 2 4"

 

61,5

 

 

 

 

 

61

 

 

St

 

11,97

 

 

 

 

 

 

12

 

 

Как видим, для дальнейших

расчетов

можно

принять

 

S 2 = I J - 6 1

=

23,1:

S3 =

-61

=

37,9.

(IV.30)

Подстановка

этих

результатов и данных

таблицы в

(IV. 19)

приводит к системе условных уравнений

 

 

 

 

 

 

 

а -

1000 b -

32 =

в4

 

 

 

 

 

 

а

517 b

76 = е 2

 

 

 

(IV.31)

 

 

а -

 

365Ь — 191 = е 3

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а

800 b —

24 =

в.

 

 

 

 

Минимизируя сумму квадратов

величин

s;,

получаем

систему

 

 

а -

760 b =

59,8

1

 

 

 

(IV.32)

 

 

а - 6 7 0 Ь

=

80,75

j

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Тогда (IV. 19) примет

вид

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

с

_

235,7<?Д2

 

 

 

 

(IV.33)

 

 

 

5

~

qh + 0,234 ’

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

а вычисленные по этой формуле значения

St

 

 

 

S t =

28,6,

S 2 =

27,3,

S 3 = 32,7,

S4 = 13,5

 

отличаются от

экспериментальных

больше,

чем

найденные по

(IV.29). Аналогичные вычисления по формуле (IV.18) дают сле­ дующие значения коэффициентов: а=130, &=0,12, т. е.

130qh

(IV.34)

<7+ 0, 12'

 

Вычисленные по этой формуле значения 5 1 приведены в таблице, Для скважины № 178 результаты, близкие к экспериментальным,

дает формула (IV. 19), тогда как при экстраполяции на

скважи­

ну № 364 более приемлемой оказывается формула (IV. 18)

(в таб­

лице ближайшие к экспериментальным значения выделены).

43

Учет влияния фонового излучения элементов вмещающей поро­ ды на формирование пиков излучений приводит к следующим фор­ мулам:

194qh

(IV.35)

5

0 ,1 4 ’

9 +

 

221 qh

(IV.36)

9/1+0,109’

 

численные значения для которых также приведены в таблице.

По результатам вычислений четко видно преимущество форму­

лы

(IV.18) или (IV.35) по сравнению с

(IV. 19) или

(IV.36)

для

второгометода.

Очевидно

следует ориентироваться

именно

на

этот метод при интерпретации результатов измерений.

 

 

Из (IV.35)

и (IV.36) легко найти концентрацию q по экспери­

ментальным значениям S

и Н, используя

для этого формулу

(IV .23):

 

 

 

 

 

 

 

 

? = о д а = 3 ’

 

 

<IV-37)

 

 

? ~

0,9/У (0,9aH—Sy

 

 

(IV.38)

В

таблице

приведены

вычисленные

по

формуле

(IV.37)

зна­

чения концентрации ртути, абсолютные и относительные отклоне­ ния от результатов химического анализа.

Для геологических, горнотехнических и технологических целей необходимо знать дифференциальный характер распределения ртутного оруденения по пластам. Возможна следующая методика для дифференциальной интерпретации распределения концентра­ ции внутри рудного тела.

Разобьем исследуемую скважину по глубине h на интервалы Ah, поставив в соответствие каждому такому интервалу проплас­

ток мощностью Ah. Для расчетов можно допустить,

что

внутри

пропластков концентрация постоянна и тогда каждый

проплас­

ток i дает в интервале j интенсивность qtj (точнее,

количество

импульсов от данного пропластка в интервале /) у-излучения ра­ диационного захвата. Предполагая, что интенсивность от про­ пластка i распределяется по нормальному закону по глубине сква­ жины, запишем

= N 1q. ехр

(IV.39)

где N — нормировочный множитель; ^ . — интенсивность (число импульсов) от пропластка у в интервале i; qj — интенсивность от

пропластка у в интервале у

— дисперсия; hv

h . —

глубина до середины пропластков (или

интервалов) i и у

соот­

ветственно.

 

 

44

 

Так

как

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

hk — Ah ^ k-\ 2~V

k = i,j,

 

 

(IV.40)

то

взамен

(39)

следует

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Qij =

q,

exp

 

 

 

 

 

 

(IV.41)

где

a2 — новая

дисперсия.

 

 

принципа

суперпозиции

 

 

Просуммируем

на основании

- [ - п о л е й

все

qu

по всем пропласткам j и получим интенсивность

/ £ (точ­

нее

число

импульсов за время движения детектора в интервале i )

в интервале

г.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

= 2

 

 

2 Я,

ехр

1

(

/ ~ i

 

(IV.42)

 

 

 

 

2

I

a

 

 

 

 

]=-

 

 

]=-

 

 

 

 

 

 

 

 

Сумма

всех /.

по

i в пределах изучаемого пика дает число им­

пульсов (площадь) для данного пика:

 

 

 

 

 

 

 

 

т

 

п т

 

 

 

 

 

/ - *

 

 

 

N S = А 2

h

= А 2

2

Я) ехр

 

 

 

(IV.43)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

! i = l

;= 1

j = 1

 

 

 

 

 

 

 

 

здесь

тп— число

пропластков

в

пласте; п — число

интервалов

внутри

пика; А — константа,

зависящая от выбора единиц S и L.

 

Интенсивности

/г определятся

по

формуле

 

 

 

 

 

 

 

 

/ г = ДА/ 13

 

(Л,),

 

 

 

(IV.44)

где / 13

(/г.)

вычисляются

по

общей

формуле (IV.5)

в точках /г.

по

глубине

скважины (/13 — интенсивность

от пропластка еди­

ничной

мощности).

из условия

 

 

 

 

 

 

Коэффициент находим

 

 

 

 

 

 

 

 

m

 

 

 

 

 

ы 2

 

)

Из (IV.43),

(IV.45) следует

 

 

Л/Д/г 2

Л в ( А<)=

2 2

^

ехР

г=1

 

 

г=1

 

 

-где

я

яг

 

 

 

 

 

 

 

/V= 2

2

ехР

 

 

 

;=1 г=1

 

 

 

Кроме того, из (IV.42)

п

 

п

 

 

 

h = 2 ехр

 

2

1

ехр

(IV.45)

(IV.46)

(IV.47)

(IV.48)

45

Как правило, то > п, так как ширина пика больше ширины пласта. Система уравнений (IV.46), (IV.48) с неизвестными ( 1 ^ / ^

^ п ) и сг нелинейна, так как а входит в экспоненциальный показа­ тель. Решение ее может быть найдено только приближенно. Если выбрать п = т, то систему можно решить обычными методами. Если т > п , то система (IV.46), (IV.48) является условной. В этом

случае из уравнений

(IV.48)

составим сумму квадратов

 

т (

 

п

R = 2 U 2 exp

 

/=1 I

j

= 1

V

Qj ехР

av .49)

7=1

и продифференцируем R по qk , приравняв производные к нулю:.

1

dR

т

(

п

 

ф

2

'

 

 

2

dqk

= 2

H i

2

ехР

2

 

 

 

 

ехр

 

 

 

 

ехр

 

 

=

0.

(IV.50)

Система (IV.50)

содержит

1 < & - < «

уравнений

с неизвестны­

ми qs (1 • < /< ;« ) и

Система

уравнений

(IV.46),

(IV.50)

может

быть решена

приближенными

методами.

Д ля решения

ее

целе­

сообразно использовать

ЭВМ.

 

 

 

 

 

 

После определения всех q можно вычислить концентрацию в,

пропластке j по формулам

(IV. 18) или

(IV. 19), заменив в них 5

на A q . , h на ДА:

 

 

 

с. =

Mi ь

 

(IV.51}

----- 11-------,

 

1

aAh Aqj

 

 

_

Mj ь

 

(IV.52)

Cj ~

Ah (aAh Aqj

) ’

 

где a, b, A — определенные ранее величины (зависят от метода интерпретации).

Заметим, что в данном случае (т. е. при нормальном законе распределения) мы не можем воспользоваться формулой (см. на­ пример [4])

^ =

Ji - i)

(IV.53)

(k, l — константы), которая

выводится в методике по трем

смеж­

ным пропласткам при постоянном отношении всех весовых коэф­ фициентов

__ Ла ___= t = const.

(IV.54)

am+D

 

46

При гауссовском распределении соотношение (IV.54) не выпол­ няется:

t = exp

+

/ + 1

exp

1

т 2/ — 21

= /( /) •

 

 

2зз

 

 

 

 

 

 

(IV.55)

Это и доказывает неприменимость методики трех смежных про­ пластков для дифференциальной оценки оруденения при нормаль­ ном законе распределения интенсивности от пропластка по глуби­ не скважины.

Разработанная нами методика дифференциального распреде­ ления оруденения по глубине скважины свободна от указанного недостатка. Однако применение ее целесообразно при использо­ вании ЭВМ.

V. Гамма-абсорбциометрия при регистрации рассеянного излучения

Пусть узкий пучок у-излучения от источника 1 (рис. 9) через: коллиматор 2 падает на анализируемый образец 3. Рассеянное излучение через коллиматор 4 попадает на детектор 5 эффектив­ ной площади S, видимой из точки рассеяния под телесным углом Д<р. Введем систему координат хОу.

Первичное излучение потока Ф ослабляется по закону

 

Ф = Ф0

ехр ('— xpV),

 

 

(V.1)

где р — плотность

образца;

V — массовый

полный

коэффициент

ослабления первичного излучения.

 

 

 

Тогда элементарное число dF0, рассеянных

у-квантов в угол

Дф на dx, суть

dF0 =

dx\<f't>p'2l ol ct ,

 

 

(V.2)

 

 

 

 

 

i

 

 

 

где с. — массовый

коэффициент рассеяния

для

i

компоненты

образца; р — плотность образца; с. — весовая доля г-й компоненты. Из (V.1) и (V.2) следует

d F () = яЭсАуфр V а. с. exp ( — xpV).

(V.3)

 

 

i

 

 

Интегрируя (V.3)

в пределах х ^ х ^ Х о ,

получаем

 

Р = А фФ0х~1^

с. ct ехр

( — ^ р х ') [ ( 1 -

exp ( —pVAx)] .

(V.4)

i

 

 

 

 

где Ах = х 2 — x t .

 

 

 

 

Рассеянное излучение с

плотностью F

ослабляется по

закону

 

F = F 0 exp ( — <оу),

 

(V.5)

где т* — полный массовый коэффициент поглощения для рассеян­ ного (вторичного) излучения.

47

Следовательно, поток -[-квантов на площадь S детектора равен

F = ДсрФ0 х,_ 12

аг с.

ехр [—р ( т ' у +

xj х )] (1

- е~9"'Ах).

(V.6)

Д л я

двухкомпонентного состава формула (V.6) с

учетом

•р =

р0 ф-а сх [14[

примет

вид

 

 

 

 

/7 =

А Т Ф о ( а 12С1 +

а2 ) ( Т2 + < 2 С1

) _ 1 е Х Р [ -

( P 0 + aCl ) X

 

 

 

X { у( ^2

 

+ Х2 ) + * (

С1 + т2 ) } X

 

 

 

x [ l

-

ехр { -

A x ( Po + aCl ) ( t ' 2Cj + х '

(V.7)

гд е

а12 =

°i

а2 > xi2r ) =

Ti n - T2 r ) -

 

 

 

По формуле (V.7) можно рассчитать зависимость интенсивности

Рис. 9. Геометрия у-абсорбциометрии при регистрации рас­ сеянного излучения:

/ —источник; 2 коллиматор; 3 пробы; 4—коллиматор-, 5 детектор.

рассеянного у-излучения. Дифференцируя (V.7) по ci, определяем чувствительность метода анализа к концентрации с\\

dF

(V .8)

S* = dcj

 

Варьируя (V.8) по х и приравнивая производную нулю, опре­ деляем максимум чувствительности. Так же находим максимум

48

чувствительности метода к с\ при изменении у. Совместное реше­ ние двух уравнений

(V.9)

•относительно х, у дает их оптимальные значения.

Полученные формулы позволяют оценивать интенсивность, чув­ ствительность и оптимальность у-абсорбционного анализа при ре­ гистрации рассеянного у-излучения.

Выводы

Разработана методика и получены формулы у-абсорбционного анализа пульп, позволяющие рассчитывать интенсивность, чувст­ вительность (и условия ее максимальности) к концентрации тяже­ лого элемента в твердой фракции пульпы. Методика дает возмож­ ность определять параметры у-абсорбционного метода как для монохроматического, так и для сложного спектра источника у-из- лучения. Получены формулы для оценки влияния колебания плот­ ности пульпы при анализе со стабилизированной плотностью на результаты автоматического анализа.

Установлена функциональная зависимость между концентраци­ ей определенного элемента и спектральным отношением с учетом фактора насыщения в форме, удобной для обработки эксперимен­ тальных данных методом наименьших квадратов. Выведена фор­ мула, учитывающая насыщение интенсивности флуоресцентного излучения и падение рассеянного излучения при возрастании кон­ центрации исследуемого компонента. Аналогичные формулы полу­ чены для функциональной зависимости между концентрацией оп­ ределяемого элемента и спектральным отношением к счету в рав­ новесной точке.

Разработаны методики расчета на ЭЦВМ элементного состава сложных смесей по многоканальным спектрограммам радиацион­ ного захвата. По эталонным спектрам машина «обучается», запо­ миная специфические особенности «немых» спектров элементов в смеси, и далее, анализируя путем сравнения спектры пробы, рас­ шифровывает ее элементный состав. Методики позволяют учиты­ вать нелинейность в зависимости интенсивности от концентрации данного элемента в пробе. Рассмотренные методики, особенно не­ линейные варианты, могут быть использованы для расшифровки спектрограмм, полученных другими ядернофизическими методами. Предложена методика интерпретации спектров у-излучения радиа­ ционного захвата на примере выделения рудных пластов и опре­ деления содержания ртути в скважинах. Результаты интерпретации каротажных диаграмм показывают, что при увеличении экспери­ ментального материала и повышении его точности методика опре­

4 - 9 9

49

Соседние файлы в папке книги из ГПНТБ