- •Физика дисперсных систем
- •10.Спектральная фотоадаптация [5] 27
- •12.Фотоиндуцированные периодические структуры [5,10,11] 31
- •13.Исследования периодических структур [5] 33
- •1.Описание галогенидосеребряной фотографии [1,2]
- •2.Прямая фоточувствительность фотоэмульсий, коллоидная окраска [1-3]
- •3.Приготовление тонких фоточувствительных пленок [5,6]
- •4.Механизм фоточувствительности пленок AgCl-Ag[5]
- •5.Измерение спектров поглощения тонких пленок AgCl-Ag , коллоидное поглощение [5,7]
- •6.Плазменная частота [8,9]
- •7.Плазменный резонанс [9]
- •8.Влияние электродипольного взаимодействия между коллоидными частичками на резонансную частоту [5]
- •9.Фотоиндуцированный дихроизм (эффект Вейгерта) в пленках AgCl-Ag [5]
- •10.Спектральная фотоадаптация [5]
- •11.Волноводные свойства пленок [5]
- •12.Фотоиндуцированные периодические структуры [5,10,11]
- •13.Исследования периодических структур [5]
- •14.Измерение показателя преломления подложки с помощью
- •Литература
Литература
1.Миз К., Джеймс Т. Теория фотографического процесса.-Л.: Химия, 1973.
2.Мейкляр П.В. Физические процессы при образовании скрытого фотографического изображения.-М.: Наука, 1972.-400 с.
3.Поль Р.В. Оптика и атомная физика.-М.: Наука, 1966. – С.316-325.
4.Звелто О. Принципы лазеров.-М.: Мир, 1990.-С.425-428.
5. Агеев Л.А., Милославский В.К., Эльашхаб Х.И., Блоха В.Б. Учебные эксперименты и демонстрации по оптике. - Харьков.: Ин-т Монокристаллов, 2000.- 264 с.
6.Слуцкая В.В. Тонкие пленки в технике сверхвысоких частот.-М.-Л.: Госэнергоиздат, 1962.-С.28-29.
7.Золотарев В.М., Морозов В.Н., Смирнова Е.В. Оптические постоянные природных и технических сред. Справочник. – Л.: Химия, 1984. – С.6-8.
8. Китель Ч. Введение в физику твердого тела.-М.: Наука, 1978.-Гл.8.
9. Miloslavsky V.K., Ageev L.A., Makovetsky E.D., Maskevich S.A. Optical properties of nanostructures.// Functional Materials.-2008.-V.15, № 3.-Р.313-331.
10.Ageev L.A., Miloslavsky V.K. // Optical Engineering.-1995.-V.34, № 4. – Р.960-972.
11.Милославский В.К., Агеев Л.А.// Физическая инженерия поверхности.-2003.-Т.1, № 1.-С.59-81.