Климанов Дозиметрия ионизируюшчикх излучениы 2015
.pdfДля дозиметрии и α-спектрометрии чаще всего применяют кремниевые ППД, для спектрометрии γ ̶излученияиспользуют германиевые ППД.
5.2. Основные типы полупроводниковых детекторов
Простейшим детектором могла быть полоска высокоомного кремния. К такой полоске необходимо подвести напряжение для измерения силы тока , созданного ионизирующего излучения. Для нормальной работы необходимо обеспечить омические контакты. С этой целью проводят дополнительное сильное легирование, создавая слои для − Si и для − Si. Индекс “+” означает концентрация носителей велика и полупроводник становится вырожденным, полуметаллом, иначе, концентрация свободных носителей превышает эффективное число состояний в зоне разрешённых энергий. На слой из вырожденного кремния наносится слой металла для контакта с измерительной цепью. Пусть площадь, на которую падает излучение, равна S, толщина детектора d, приложенное напряжение U, мощность дозы в образцовом веществе (мягкая ткань) D0. Тогда
изл = ∙ |
|
∙ |
|
∙τ∙ μ +μ ∙ |
|
, |
(14.22) |
|
|
|
где – энергия образования пары носителей, τ − время жизни. Помимо радиационного тока будет протекать темновой ток,
обусловленный исходной концентрацией носителей заряда. Если полупроводник собственный, то темновой ток равен:
Т = ∙ ∙ ∙ μ +μ ∙ ∙ . |
(14.23) |
Для полного собирания зарядов необходимо выполнение условия − время пролёта носителей ( /μ ) должно быть много меньше времени жизни.
Технические трудности получения высокочистого кремния с большим временем жизни носителей не позволили им найти како- го-либо практического применения.
Широкое применение нашли неоднородные полупроводниковые детекторы: поверхностно-барьерные, диффузионно-дрейфовые.
501
Мысленно представим, что пластина кремния состоит из двух областей с проводимостью ˗ и ˗типа. Если бы между ними не было контакта, то зонные диаграммы выглядели бы так, как показано на рис. 14.8,а.
(а)
Vc
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Fp |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Pp |
(б) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Vv |
|
|
|
|
|
||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Vc |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Fp |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Pp |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Vv |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Рис. 14.6. Зонные диаграммы: а − зоны в ˗ и ˗кремнии, б − зоны в ППД
Уровни Ферми в материале |
типа лежат у потолка запрещён- |
ной дозы, в материалах типа |
˗– у дна запрещённой зоны. Как |
только между частями материала˗ |
возникает контакт, то вследствие |
процесса диффузии свободные носители в приконтактной области начинают перемещаться: электроны из n-кремния переходят в p- кремний, оставляя неподвижные положительно заряженные ионы
атомов решётки, дырки соответственно переходят в −кремний. В результате по обе стороны контакта образуются слои с избытком электронов в −области и дырок в −области, равные по заряду.
502
Так возникает электрически нейтральная область – область элек- тронно-дырочного перехода (рис. 14.8,б).
Два слоя носителей заряда разного знака образуют потенциальный барьер, который препятствует дальнейшей диффузии носителей через переход. В области перехода свободных носителей ничтожно мало. Поэтому область перехода называют обеднённой областью.
Потенциальный барьер могут преодолеть только носители, об-
ладающие значительной энергией, большей |
|
. Если на |
|
подать |
||
положительный потенциал и на |
− |
отрицательный, то носители |
||||
|
φ0 |
|
˗Si |
|
˗Si
заряда по обе стороны перехода будут отодвигаться от границы контакта. Такое включение называется обратным и практически всегда применяется в ППД. Так как в обратносмещённом переходе практически отсутствуют носители заряда, удельное сопротивление приближается к собственному, т. е. обеднённая область становится чувствительной для индуцированного радиацией заряда.
Ширина активной части |
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
( |
) |
, |
|
|
|
(14.24) |
|
где |
− константа СИ для=расчёта диэлектрической проницаемо- |
||||||||
сти,ε8,85·10-10 Ф; − относительная диэлектрическая проницае- |
|||||||||
мость, для кремнияε |
= 12; q ̶заряд электрона; |
|
концентрация |
||||||
носителей в базовойεобласти (в материале, |
удалённом от |
пере- |
|||||||
|
− |
|
|||||||
хода, имеющего наименьшую проводимость). Обычно максималь˗ ˗ |
- |
ная ширина перехода менее 1 мм. В диффузионных кремниевых
детекторах |
переход |
формируется в высокоомном ( |
= 104 |
|
Ом·см) материале˗ ˗ |
типа высокотемпературной диффузиейρ |
фосфо- |
||
ра, который |
образует˗ |
слой. В процессе изготовления |
время |
˗
жизни носителей уменьшается, что ухудшает радиационнофизические характеристики детектора.
Поверхностно-барьерные ППД изготавляют на базе кремния −типа с удельным сопротивлением порядка 100 Ом·см. На химически травлёную поверхность пластины (обычно толщиной 1 мм) вакуумным или катодно-вакуумным напылением наносят золотую плёнку толщиной менее 30 нм. Золотая плёнка образует выпрямляющий контакт Шотки с высотой потенциального барьера 0,8 эВ. Возле контакта возникает область сильного электрического поля, в
503
которой концентрация носителей много меньше их концентрации в объёме полупроводника, ширина области 2 ÷ 3 нм. Ширина чувствительной области увеличивается при подключении источника напряжения обратной полярности (положительное напряжение приложено к −полупроводнику). Создание «тыльного» (невыпрямляющего) контакта представляет определённую техническую проблему. Чаще всего используют никель, хром, наносимые по специальной технологии, которая является ноу-хау производителей.
Для создания неоднородных структур стали использовать метод ионного легирования с помощью специальных ускорителей тяжё-
лых ионов. Например, пластина |
˗Si |
облучается ионами с энерги- |
||||||
ей 15 кэВ флюенсом 5·10 |
см . |
|
|
|
||||
|
14 |
|
-2 |
Ионы проникают на глубину менее |
||||
1 мкм. Обратный контакт создаётся ионами |
|
с энергией 30 кэВ |
||||||
15 |
-2 |
|
имплантированным слоям подводятся |
|||||
флюенсом 5·10 |
см . К этим |
|||||||
|
|
|
As |
|
контакты.
Подбор напряжения обратного смещения позволяет увеличить область чувствительности до 250 и более мкм.
Диффузионно-дрейфовые детекторы изготавливают из кремния или германия ˗типа путём температурной диффузии, а затем дрейфа ионов лития в поле ˗ ˗перехода. Как отмечалось, ионы лития из-за малых размеров и большой подвижности проникают в −полупроводник на большую глубину, компенсируя дырки и создавая область с проводимостью, близкой к собственной, толщиной 10 мм в Si и 20 мм в Ge. Кремниевые детекторы такого типа используются для спектрометрии заряженных частиц, радиометрии нейтронов. Ge –детекторы нашли применение для измерения рентгеновского излучения (планарная конструкция) и γ–излучения (коаксиальная конструкция). В дозиметрической практике используются в основном кремниевые ППД.
Диффузионно-дрейфовые детекторы изготовляют из кремния или германия ˗типа путём температурной диффузии, а затем дрейфа ионов лития в поле ˗ ˗перехода.
Как отмечалось, ионы лития из-за малых размеров и большой подвижности проникают в ˗полупроводник на большую глубину, компенсируя дырки и создавая область с проводимостью, близкой к собственной, толщиной 10 мм в Si и 20 мм в Ge. Кремниевые детекторы такого типа используются для спектрометрии заряженных
504
частиц, радиометрии нейтронов. Ge –детекторы нашли применение для измерения рентгеновского излучения (планарная конструкция) и –излучения (коаксиальная конструкция). В дозиметрической
практике используются в основном кремниевые ППД. Помимо |
|||
γ детекторов были разработаны |
|
детекторы, в которых в |
|
пластину˗ ˗ ˗ |
всего p-Si) вводят большие |
||
из чистого кремния (чаще ˗π˗ |
˗ |
|
концентрации доноров с одной стороны и акцепторов с другой стороны пластины.
5.3. Применение кремниевых ППД без подачи напряжения питания в дозиметрии
По сути ППД являются диодами специального назначения. Через диод протекает ток при подаче прямого (положительный полюс источника питания присоединён к p – материалу) и при обратном подключении. Количественно токи могут различаться на порядки, но знание их необходимо.
Рассмотрим два контактирующих полупроводника с − и − проводимостью. Для любых контактирующих твёрдых тел в условиях равновесия уровень Ферми один и тот же. Это утверждение относится и к контактам металл−полупроводник и полупроводник −полупроводник. При этом наблюдается изгиб зон, соответствующий отклонению концентраций носителей от равновесной, задаваемой концентрацией, примеси и температурой.
|
∆ ( ) = ∆ |
гр e |
/ |
; |
|
∆ ( ) = (∆ )гр e |
/ . (14.25) |
||||||
|
|
|
|
и |
|
|
|||||||
При подключении обратного напряжения |
экстракция) из примы- |
||||||||||||
˂ |
, т. е. будет проходить уход носителей ( |
,гр < |
|
,гр |
< |
||||||||
кающих к |
переходу областей. |
|
|
|
|
||||||||
Плотность˗ |
диффузионного˗ |
тока через границы перехода при лю- |
|||||||||||
бой полярности будет равна: |
|
|
∆ |
|
|
|
|
|
|||||
|
|
|
|
|
|
= |
|
|
; |
|
|
|
505
|
|
|
= |
|
|
|
|
|
. |
|
|
Подставим в эти формулы выражения ∆ |
и ∆ : |
|
|||||||||
( ) |
= |
∆ |
e |
|
|
|
|
= |
|
|
e − 1 , (14.26) |
|
|
|
|
||||||||
|
|
||||||||||
|
|
|
= |
|
|
|
|
e |
− 1 , |
(14.27) |
|
|
|
|
|
|
|
|
В тонком переходе плотности токов одинаковы на границах и в глубине перехода, а результирующий ток есть сумма токов дырок и электронов
= |
+ = |
|
|
+ |
|
|
|
|
|
|
e |
− 1 . |
(14.28) |
|||||
|
|
|
|
|
|
|||||||||||||
Для прямого включения |
|
|
, для обратного – |
. |
|
|||||||||||||
При прямом включении>, |
0когда |
|
|
|
|
kT, то |
единицей можно |
|||||||||||
|
|
|
|
< 0 |
|
|||||||||||||
пренебречь и ток экспоненциально |
растёт с напряжением. При об- |
|||||||||||||||||
> |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||||
ратном подключении, если |
|
kT, то экспонентой можно прене- |
||||||||||||||||
бречь и вольт-амперная |
характеристика выходит на плато и говорят |
|||||||||||||||||
|
|
< |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
о токе насыщения, |
: |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
= |
|
|
|
|
|
|
|
= |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
тока+за счёт.тепловых про- |
|||||||||
Здесь предполагается возникновение+ |
цессов. По отношению к регистрации ионизирующего излучения такой ток является фоновым, темновым током. Из-за флуктуаций он мешает проводить измерение малых уровней радиации.
Как отмечалось выше, область |
перехода близка по концен- |
||
трации носителей к собственному полупроводнику˗ ˗ . Предположим, |
|||
что |
и |
проходят через ˗ ˗ переход, оставаясь горизонталь- |
ными, по крайней мере для невысоких значений приложенного напряжения. Если ширина обеднённой области меньше длин диффузии в ˗ и ˗ материалах, то
(∆ ) = ,гр − = e − 1 :
506
где |
|
и |
|
|
|
(∆ ) = |
|
e − 1 |
, |
|
|
|
|
|
||
|
|
|
|
|
и областей. Так как |
|||||||||||
|
|
|
|
потенциалы на границе |
|
|||||||||||
обеднённая |
область электронейтральна, то |
|
˗ |
, |
и |
|
|
|||||||||
− |
|
|
|
|
|
|
˗ |
|
|
|
+ |
= |
||||
= ; |
˗ |
= |
|
= |
. |
|
|
|
|
|
= |
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||
В |
области скорости изменения концентрации равны |
|
|
|||||||||||||
|
|
|
|
= |
∆ |
и |
|
= |
∆ . |
|
= |
|
= : |
|||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||
Изменения концентраций равны между собой и |
|
|
∆˗ это изменение концентрации электронов (и дырок) за одну
секунду в единице объёма вследствие их рекомбинации. Тогда плотность рекомбинационного тока равна:
= e |
∆ |
= |
|
e |
|
−1 . |
(14.29) |
|
|
||||||
|
Полный ток является суммой рекомбинационного и диффузионного токов [8].
Для практических оценок ещё раз преобразуем выражение для этих токов. Рассмотрим кремниевый сильно ассиметричный переход с базой ˗ типа. В этом случае
диф, = |
|
= |
= |
ρ |
|
. |
|
|
Здесь используется ранее упомянутые выражения: , = ;
= |
|
τ |
; |
= μ ; ρ |
= |
|
|
. |
|
|
. |
|
|
(14.30) |
||
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
||||||||||
Здесь |
|
имеет |
= 1,90∙10 |
секунда. |
|
|
|
|||||||||
|
|
|
размерностьдиф, |
Ом·см, |
100τ −мкс, |
|
|
|
|
|||||||
Рассмотрим пример. Пусть |
|
|
= |
|
|
тогда |
||||||||||
|
ρ |
|
|
|
|
|
|
10 |
Ом∙ см., |
|||||||
|
|
|
|
|
|
будет равна 1,90· |
|
|||||||||
плотность диффузионного токаτ = |
|
|
|
|
ρ |
|
|
|||||||||
Упростим выражение для |
рекомбинационного тока. Толщину |
|||||||||||||||
|
|
|
|
|
|
|
10 |
А⁄см |
|
обеднённого слоя (см) можно оценить по формулам ступенчато-
го ˗ ˗ перехода для кремниевого детектора: |
|
(14.31) |
|
= 5∙10 |
( + )ρ |
, |
|
507 |
|
|
Значение |
|
равно 0,8 В=. 3∙10 |
( |
+ |
|
)ρ |
. |
(14.32) |
||||
|
|
|
|
|
|
( |
) |
|
|
|
|
(14.33) |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||
Если |
|
|
|
= 7,2∙10 |
|
|
|
e |
− 1 . |
|||
|
|
|
|
|
|
|
||||||
|
приложенное напряжение обратной полярности превышает |
|||||||||||
значение |
2 |
/ |
, то экспонентой можно пренебречь. В отличие от |
|||||||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
диффузионного тока рекомбинационный ток будет возрастать с
ростом внешнего напряжения как |
|
|
. |
|
; |
; |
|||||
|
|
|
|||||||||
Как и ранее, рассмотрим |
простой пример: |
|
|||||||||
|
√ |
|
= 0 |
|
= 0,8 В |
||||||
; |
= |
|
|
с: |
|
|
|
|
|
||
= = 10 Ом∙ см |
|
10 |
|
∙ , |
= 2,04 |
А/см |
|
, |
|||
на порядок = 7,2∙10 |
|
|
|
|
|
∙10 |
|
|
|||
превышает диффузионный ток кремниевого ППД. |
|||||||||||
Для германия наблюдалась бы обратная картина. |
|
|
|
||||||||
Пусть на поверхность |
ППД площадью падает мононаправ- |
ленный поток моноэнергетических фотонов, создающих в образцо-
вом веществе (мягкая ткань), мощность дозы |
. Тогда в грубом |
||||||||||||
приближении радиационный ток будет равен: |
|
|
|
|
|
|
|||||||
где w – работа |
= 10 |
|
0 |
. |
, |
∙ ( + |
) |
, |
|
|
(14.34) |
||
|
|
|
, |
|
|
|
|
ρ − |
|||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||
|
|
образования пары носителей в полупроводнике; |
|||||||||||
плотность |
полупроводника |
|
(для |
|
|
|
; |
|
|
|
|||
|
|
|
|
|
|
|
полупроводнике и образцо- |
||||||
коэффициенты поглощения энергии ρв = 2,3 г/см ) |
μ |
, и μ ,0 − |
|||||||||||
вой среде; |
|
длина диффузии носителей в базе, см; |
|
|
длина, |
||||||||
|
слоя, см. Эта упрощённая формула получена в пред- |
||||||||||||
обеднённого− |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
− |
|
|
положении, что энергия фотонов превышает (10 ÷ 15) кэВ, и поглощением в окне можно пренебречь.
В более общем случае необходимо учитывать ослабление пото-
ка фотонов в слое, обращённом к пучку фотонов ( для базы), в |
||||
обеднённом слое и выход электронов из слоя |
и базы, принимая˗ |
|||
контакты омическими, получим: |
|
|
|
|
= |
10 |
508 |
ˣ |
|
· |
, |
|
приведеныexp(−μ )и болееμ +сложные1 − |
|
|
|
|
|
формулы, но ряд входя. |
|
|||||
В литературеˣ , |
- |
щих в них параметров не доступен потребителю ППД и, возможно, их разработчикам.
Входящее в формулы напряжение от внешнего источника – это напряжение на ˗ ˗ переходе.
При прямом включении проводимость перехода увеличивается, напряжение напереходе ограничивается падением напряжения на сопротивлении базы. При больших напряжениях ВАХ их экспоненциальная зависимость переходят в линейную. На рис. 14.9 приведена вольт-амперная характеристика (ВАХ) ППД без воздействия облучения и при облучении. Видно, что минимальный темновой ток приходится на нулевое напряжение на переходе.
|
I |
14 |
|
|
|
|
12 |
|
1 |
|
|
10 |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
8 |
|
|
|
|
6 |
|
|
|
|
4 |
|
2 |
|
|
2 |
|
|
|
|
0 |
|
|
-4 |
-2 |
-2 |
0 |
2 |
|
|
-4 |
|
|
|
|
-6 -U, |
|
|
|
|
|
+U |
|
Рис. 14.9. Вольт-амперная характеристика: 1 – без облучения, темновой ток, 2 – при облучении
Для кремниевого ППД в темновом токе преобладает рекомбинационная составляющая. С увеличением напряжения смещения
увеличивается ширина |
перехода и растёт обратный ток |
|
|
. |
|
|
|
||||
Примерно также будет возрастать˗ ˗ |
радиационный ток из-за |
увели- |
|||
~ √ |
|
чения чувствительного объёма. При отсутствии внешнего напряжения ширина перехода определяется контактной разностью по-
509
тенциалов, ~ 0,8 В. Для базы с удельным сопротивлением 10 Ом∙ см, ширина перехода равна ~ 10 мкм.
Включим ППД в замкнутую цепь, содержащую измеритель тока с внутренним сопротивлением н. Предположим, что н близко к нулю, тогда падение напряжения на переходе станет равным нулю:
|
|
= |
|
|
|
|
− |
т |
exp |
|
|
− 1 |
. |
(14.35) |
|||||
|
|
|
, |
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
Здесь введён коэффициент |
рад |
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||
|
|
условно объединяющий диффузную |
|||||||||||||||||
и рекомбинационную составляющие, 1. ≤ |
≤ 2. |
|
|
|
|||||||||||||||
Опыт показывает, что Rн долженп =бытьрад |
|
менее 2 кОм. |
|
|
|||||||||||||||
Рассмотрим другой случай, |
|
|
велико, |
порядка ГОм. В этом |
|||||||||||||||
случае ток через нагрузку будет близокн |
к нулю: |
|
|
|
|||||||||||||||
|
0 = рад − Т exp |
|
|
|
|
+ |
|
Т |
; |
|
рад |
|
|
|
|
|
. |
||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|||||||||
Откуда |
|
|
|
|
|
|
|
Т +1 = exp |
|
|
|||||||||
|
|
|
|
|
ln |
|
|
|
|
рад |
|
|
|
|
(14.36) |
||||
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
||||||||
Таким образом, |
напряжение, измеренное электрометром с большим |
||||||||||||||||||
= |
|
|
|
|
|
1+ |
|
|
Т . |
|
|
|
|
|
сопротивлением нагрузки, примерно пропорционально логарифму радиационного тока, т. е. логарифму мощности дозы.
На самом деле возникает вопрос, в каком материале измеряется доза. Выше были приведены формулы для оценок радиационного тока от мощности дозы в эталонном материале, в мягкой биологической ткани. Переход от мощности дозы в кремнии проводился по отношению коэффициентов поглощения энергии. Такая оценка справедлива для достаточно толстого детектора, для которого утечкой электронов из объёма и привнесением энергии от окружающей среды можно пренебречь. На рис. 14.10 воспроизведены зависимости ЭЗЧ по дозе для кремниевого ППД с различными толщинами чувствительного объёма [8].
510