Добавил:
Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:

Климанов Дозиметрия ионизируюшчикх излучениы 2015

.pdf
Скачиваний:
64
Добавлен:
12.11.2022
Размер:
61.09 Mб
Скачать

Для дозиметрии и α-спектрометрии чаще всего применяют кремниевые ППД, для спектрометрии γ ̶излученияиспользуют германиевые ППД.

5.2. Основные типы полупроводниковых детекторов

Простейшим детектором могла быть полоска высокоомного кремния. К такой полоске необходимо подвести напряжение для измерения силы тока , созданного ионизирующего излучения. Для нормальной работы необходимо обеспечить омические контакты. С этой целью проводят дополнительное сильное легирование, создавая слои для − Si и для − Si. Индекс “+” означает концентрация носителей велика и полупроводник становится вырожденным, полуметаллом, иначе, концентрация свободных носителей превышает эффективное число состояний в зоне разрешённых энергий. На слой из вырожденного кремния наносится слой металла для контакта с измерительной цепью. Пусть площадь, на которую падает излучение, равна S, толщина детектора d, приложенное напряжение U, мощность дозы в образцовом веществе (мягкая ткань) D0. Тогда

изл =

 

 

∙τ∙ μ +μ ∙

 

,

(14.22)

 

 

 

где – энергия образования пары носителей, τ − время жизни. Помимо радиационного тока будет протекать темновой ток,

обусловленный исходной концентрацией носителей заряда. Если полупроводник собственный, то темновой ток равен:

Т = ∙ ∙ ∙ μ +μ ∙ ∙ .

(14.23)

Для полного собирания зарядов необходимо выполнение условия − время пролёта носителей ( /μ ) должно быть много меньше времени жизни.

Технические трудности получения высокочистого кремния с большим временем жизни носителей не позволили им найти како- го-либо практического применения.

Широкое применение нашли неоднородные полупроводниковые детекторы: поверхностно-барьерные, диффузионно-дрейфовые.

501

Мысленно представим, что пластина кремния состоит из двух областей с проводимостью ˗ и ˗типа. Если бы между ними не было контакта, то зонные диаграммы выглядели бы так, как показано на рис. 14.8,а.

(а)

Vc

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Fp

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Pp

(б)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Vv

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Vc

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Fp

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Pp

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Vv

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Рис. 14.6. Зонные диаграммы: а − зоны в ˗ и ˗кремнии, б − зоны в ППД

Уровни Ферми в материале

типа лежат у потолка запрещён-

ной дозы, в материалах типа

˗– у дна запрещённой зоны. Как

только между частями материала˗

возникает контакт, то вследствие

процесса диффузии свободные носители в приконтактной области начинают перемещаться: электроны из n-кремния переходят в p- кремний, оставляя неподвижные положительно заряженные ионы

атомов решётки, дырки соответственно переходят в кремний. В результате по обе стороны контакта образуются слои с избытком электронов в области и дырок в области, равные по заряду.

502

Так возникает электрически нейтральная область – область элек- тронно-дырочного перехода (рис. 14.8,б).

Два слоя носителей заряда разного знака образуют потенциальный барьер, который препятствует дальнейшей диффузии носителей через переход. В области перехода свободных носителей ничтожно мало. Поэтому область перехода называют обеднённой областью.

Потенциальный барьер могут преодолеть только носители, об-

ладающие значительной энергией, большей

 

. Если на

 

подать

положительный потенциал и на

отрицательный, то носители

 

φ0

 

˗Si

 

˗Si

заряда по обе стороны перехода будут отодвигаться от границы контакта. Такое включение называется обратным и практически всегда применяется в ППД. Так как в обратносмещённом переходе практически отсутствуют носители заряда, удельное сопротивление приближается к собственному, т. е. обеднённая область становится чувствительной для индуцированного радиацией заряда.

Ширина активной части

 

 

 

 

 

 

 

 

 

(

)

,

 

 

 

(14.24)

где

− константа СИ для=расчёта диэлектрической проницаемо-

сти,ε8,85·10-10 Ф; − относительная диэлектрическая проницае-

мость, для кремнияε

= 12; q ̶заряд электрона;

 

концентрация

носителей в базовойεобласти (в материале,

удалённом от

пере-

 

 

хода, имеющего наименьшую проводимость). Обычно максималь˗ ˗

-

ная ширина перехода менее 1 мм. В диффузионных кремниевых

детекторах

переход

формируется в высокоомном (

= 104

Ом·см) материале˗ ˗

типа высокотемпературной диффузиейρ

фосфо-

ра, который

образует˗

слой. В процессе изготовления

время

˗

жизни носителей уменьшается, что ухудшает радиационнофизические характеристики детектора.

Поверхностно-барьерные ППД изготавляют на базе кремния типа с удельным сопротивлением порядка 100 Ом·см. На химически травлёную поверхность пластины (обычно толщиной 1 мм) вакуумным или катодно-вакуумным напылением наносят золотую плёнку толщиной менее 30 нм. Золотая плёнка образует выпрямляющий контакт Шотки с высотой потенциального барьера 0,8 эВ. Возле контакта возникает область сильного электрического поля, в

503

которой концентрация носителей много меньше их концентрации в объёме полупроводника, ширина области 2 ÷ 3 нм. Ширина чувствительной области увеличивается при подключении источника напряжения обратной полярности (положительное напряжение приложено к полупроводнику). Создание «тыльного» (невыпрямляющего) контакта представляет определённую техническую проблему. Чаще всего используют никель, хром, наносимые по специальной технологии, которая является ноу-хау производителей.

Для создания неоднородных структур стали использовать метод ионного легирования с помощью специальных ускорителей тяжё-

лых ионов. Например, пластина

˗Si

облучается ионами с энерги-

ей 15 кэВ флюенсом 5·10

см .

 

 

 

 

14

 

-2

Ионы проникают на глубину менее

1 мкм. Обратный контакт создаётся ионами

 

с энергией 30 кэВ

15

-2

 

имплантированным слоям подводятся

флюенсом 5·10

см . К этим

 

 

 

As

 

контакты.

Подбор напряжения обратного смещения позволяет увеличить область чувствительности до 250 и более мкм.

Диффузионно-дрейфовые детекторы изготавливают из кремния или германия ˗типа путём температурной диффузии, а затем дрейфа ионов лития в поле ˗ ˗перехода. Как отмечалось, ионы лития из-за малых размеров и большой подвижности проникают в полупроводник на большую глубину, компенсируя дырки и создавая область с проводимостью, близкой к собственной, толщиной 10 мм в Si и 20 мм в Ge. Кремниевые детекторы такого типа используются для спектрометрии заряженных частиц, радиометрии нейтронов. Ge –детекторы нашли применение для измерения рентгеновского излучения (планарная конструкция) и γ–излучения (коаксиальная конструкция). В дозиметрической практике используются в основном кремниевые ППД.

Диффузионно-дрейфовые детекторы изготовляют из кремния или германия ˗типа путём температурной диффузии, а затем дрейфа ионов лития в поле ˗ ˗перехода.

Как отмечалось, ионы лития из-за малых размеров и большой подвижности проникают в ˗полупроводник на большую глубину, компенсируя дырки и создавая область с проводимостью, близкой к собственной, толщиной 10 мм в Si и 20 мм в Ge. Кремниевые детекторы такого типа используются для спектрометрии заряженных

504

частиц, радиометрии нейтронов. Ge –детекторы нашли применение для измерения рентгеновского излучения (планарная конструкция) и –излучения (коаксиальная конструкция). В дозиметрической

практике используются в основном кремниевые ППД. Помимо

γ детекторов были разработаны

 

детекторы, в которых в

пластину˗ ˗ ˗

всего p-Si) вводят большие

из чистого кремния (чаще ˗π˗

˗

 

концентрации доноров с одной стороны и акцепторов с другой стороны пластины.

5.3. Применение кремниевых ППД без подачи напряжения питания в дозиметрии

По сути ППД являются диодами специального назначения. Через диод протекает ток при подаче прямого (положительный полюс источника питания присоединён к p – материалу) и при обратном подключении. Количественно токи могут различаться на порядки, но знание их необходимо.

Рассмотрим два контактирующих полупроводника с и проводимостью. Для любых контактирующих твёрдых тел в условиях равновесия уровень Ферми один и тот же. Это утверждение относится и к контактам металлполупроводник и полупроводник полупроводник. При этом наблюдается изгиб зон, соответствующий отклонению концентраций носителей от равновесной, задаваемой концентрацией, примеси и температурой.

 

∆ ( ) = ∆

гр e

/

;

 

∆ ( ) = (∆ )гр e

/ . (14.25)

 

 

 

 

и

 

 

При подключении обратного напряжения

экстракция) из примы-

˂

, т. е. будет проходить уход носителей (

,гр <

 

,гр

<

кающих к

переходу областей.

 

 

 

 

Плотность˗

диффузионного˗

тока через границы перехода при лю-

бой полярности будет равна:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

;

 

 

 

505

 

 

 

=

 

 

 

 

 

.

 

 

Подставим в эти формулы выражения

и :

 

( )

=

e

 

 

 

 

=

 

 

e − 1 , (14.26)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

e

− 1 ,

(14.27)

 

 

 

 

 

 

 

В тонком переходе плотности токов одинаковы на границах и в глубине перехода, а результирующий ток есть сумма токов дырок и электронов

=

+ =

 

 

+

 

 

 

 

 

 

e

− 1 .

(14.28)

 

 

 

 

 

 

Для прямого включения

 

 

, для обратного –

.

 

При прямом включении>,

0когда

 

 

 

 

kT, то

единицей можно

 

 

 

 

< 0

 

пренебречь и ток экспоненциально

растёт с напряжением. При об-

>

 

 

 

 

 

 

 

ратном подключении, если

 

kT, то экспонентой можно прене-

бречь и вольт-амперная

характеристика выходит на плато и говорят

 

 

<

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

о токе насыщения,

:

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

тока+за счёт.тепловых про-

Здесь предполагается возникновение+

цессов. По отношению к регистрации ионизирующего излучения такой ток является фоновым, темновым током. Из-за флуктуаций он мешает проводить измерение малых уровней радиации.

Как отмечалось выше, область

перехода близка по концен-

трации носителей к собственному полупроводнику˗ ˗ . Предположим,

что

и

проходят через ˗ ˗ переход, оставаясь горизонталь-

ными, по крайней мере для невысоких значений приложенного напряжения. Если ширина обеднённой области меньше длин диффузии в ˗ и ˗ материалах, то

(∆ ) = ,гр − = e − 1 :

506

где

 

и

 

 

 

(∆ ) =

 

e − 1

,

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

и областей. Так как

 

 

 

 

потенциалы на границе

 

обеднённая

область электронейтральна, то

 

˗

,

и

 

 

 

 

 

 

 

 

˗

 

 

 

+

=

= ;

˗

=

 

=

.

 

 

 

 

 

=

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

В

области скорости изменения концентрации равны

 

 

 

 

 

 

=

и

 

=

.

 

=

 

= :

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Изменения концентраций равны между собой и

 

 

˗ это изменение концентрации электронов (и дырок) за одну

секунду в единице объёма вследствие их рекомбинации. Тогда плотность рекомбинационного тока равна:

= e

=

 

e

 

−1 .

(14.29)

 

 

 

Полный ток является суммой рекомбинационного и диффузионного токов [8].

Для практических оценок ещё раз преобразуем выражение для этих токов. Рассмотрим кремниевый сильно ассиметричный переход с базой ˗ типа. В этом случае

диф, =

 

=

=

ρ

 

.

 

 

Здесь используется ранее упомянутые выражения: , = ;

=

 

τ

;

= μ ; ρ

=

 

 

.

 

 

.

 

 

(14.30)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Здесь

 

имеет

= 1,90∙10

секунда.

 

 

 

 

 

 

размерностьдиф,

Ом·см,

100τ −мкс,

 

 

 

 

Рассмотрим пример. Пусть

 

 

=

 

 

тогда

 

ρ

 

 

 

 

 

 

10

Ом∙ см.,

 

 

 

 

 

 

будет равна 1,90·

 

плотность диффузионного токаτ =

 

 

 

 

ρ

 

 

Упростим выражение для

рекомбинационного тока. Толщину

 

 

 

 

 

 

 

10

А⁄см

 

обеднённого слоя (см) можно оценить по формулам ступенчато-

го ˗ ˗ перехода для кремниевого детектора:

 

(14.31)

= 5∙10

( + )ρ

,

 

507

 

 

Значение

 

равно 0,8 В=. 3∙10

(

+

 

.

(14.32)

 

 

 

 

 

 

(

)

 

 

 

 

(14.33)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Если

 

 

 

= 7,2∙10

 

 

 

e

− 1 .

 

 

 

 

 

 

 

 

приложенное напряжение обратной полярности превышает

значение

2

/

, то экспонентой можно пренебречь. В отличие от

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

диффузионного тока рекомбинационный ток будет возрастать с

ростом внешнего напряжения как

 

 

.

 

;

;

 

 

 

Как и ранее, рассмотрим

простой пример:

 

 

 

= 0

 

= 0,8 В

;

=

 

 

с:

 

 

 

 

 

= = 10 Ом∙ см

 

10

 

∙ ,

= 2,04

А/см

 

,

на порядок = 7,2∙10

 

 

 

 

 

∙10

 

 

превышает диффузионный ток кремниевого ППД.

Для германия наблюдалась бы обратная картина.

 

 

 

Пусть на поверхность

ППД площадью падает мононаправ-

ленный поток моноэнергетических фотонов, создающих в образцо-

вом веществе (мягкая ткань), мощность дозы

. Тогда в грубом

приближении радиационный ток будет равен:

 

 

 

 

 

 

где w – работа

= 10

 

0

.

,

∙ ( +

)

,

 

 

(14.34)

 

 

 

,

 

 

 

 

ρ −

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

образования пары носителей в полупроводнике;

плотность

полупроводника

 

(для

 

 

 

;

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

полупроводнике и образцо-

коэффициенты поглощения энергии ρв = 2,3 г/см )

μ

, и μ ,0 −

вой среде;

 

длина диффузии носителей в базе, см;

 

 

длина,

 

слоя, см. Эта упрощённая формула получена в пред-

обеднённого

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

положении, что энергия фотонов превышает (10 ÷ 15) кэВ, и поглощением в окне можно пренебречь.

В более общем случае необходимо учитывать ослабление пото-

ка фотонов в слое, обращённом к пучку фотонов ( для базы), в

обеднённом слое и выход электронов из слоя

и базы, принимая˗

контакты омическими, получим:

 

 

 

=

10

508

ˣ

 

·

,

 

приведеныexp(−μ )и болееμ +сложные1 −

 

 

 

 

 

формулы, но ряд входя.

 

В литературеˣ ,

-

щих в них параметров не доступен потребителю ППД и, возможно, их разработчикам.

Входящее в формулы напряжение от внешнего источника – это напряжение на ˗ ˗ переходе.

При прямом включении проводимость перехода увеличивается, напряжение напереходе ограничивается падением напряжения на сопротивлении базы. При больших напряжениях ВАХ их экспоненциальная зависимость переходят в линейную. На рис. 14.9 приведена вольт-амперная характеристика (ВАХ) ППД без воздействия облучения и при облучении. Видно, что минимальный темновой ток приходится на нулевое напряжение на переходе.

 

I

14

 

 

 

 

12

 

1

 

 

10

 

 

 

 

 

 

 

8

 

 

 

 

6

 

 

 

 

4

 

2

 

 

2

 

 

 

 

0

 

 

-4

-2

-2

0

2

 

 

-4

 

 

 

 

-6 -U,

 

 

 

 

+U

 

Рис. 14.9. Вольт-амперная характеристика: 1 – без облучения, темновой ток, 2 – при облучении

Для кремниевого ППД в темновом токе преобладает рекомбинационная составляющая. С увеличением напряжения смещения

увеличивается ширина

перехода и растёт обратный ток

 

 

.

 

 

Примерно также будет возрастать˗ ˗

радиационный ток из-за

увели-

~ √

 

чения чувствительного объёма. При отсутствии внешнего напряжения ширина перехода определяется контактной разностью по-

509

тенциалов, ~ 0,8 В. Для базы с удельным сопротивлением 10 Ом∙ см, ширина перехода равна ~ 10 мкм.

Включим ППД в замкнутую цепь, содержащую измеритель тока с внутренним сопротивлением н. Предположим, что н близко к нулю, тогда падение напряжения на переходе станет равным нулю:

 

 

=

 

 

 

 

т

exp

 

 

− 1

.

(14.35)

 

 

 

,

 

 

 

 

 

 

 

Здесь введён коэффициент

рад

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

условно объединяющий диффузную

и рекомбинационную составляющие, 1.

≤ 2.

 

 

 

Опыт показывает, что Rн долженп =бытьрад

 

менее 2 кОм.

 

 

Рассмотрим другой случай,

 

 

велико,

порядка ГОм. В этом

случае ток через нагрузку будет близокн

к нулю:

 

 

 

 

0 = рад Т exp

 

 

 

 

+

 

Т

;

 

рад

 

 

 

 

 

.

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Откуда

 

 

 

 

 

 

 

Т +1 = exp

 

 

 

 

 

 

 

ln

 

 

 

 

рад

 

 

 

 

(14.36)

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

Таким образом,

напряжение, измеренное электрометром с большим

=

 

 

 

 

 

1+

 

 

Т .

 

 

 

 

 

сопротивлением нагрузки, примерно пропорционально логарифму радиационного тока, т. е. логарифму мощности дозы.

На самом деле возникает вопрос, в каком материале измеряется доза. Выше были приведены формулы для оценок радиационного тока от мощности дозы в эталонном материале, в мягкой биологической ткани. Переход от мощности дозы в кремнии проводился по отношению коэффициентов поглощения энергии. Такая оценка справедлива для достаточно толстого детектора, для которого утечкой электронов из объёма и привнесением энергии от окружающей среды можно пренебречь. На рис. 14.10 воспроизведены зависимости ЭЗЧ по дозе для кремниевого ППД с различными толщинами чувствительного объёма [8].

510

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]