Список рекомендуемой литературы

иинтернет-источников

1.Методы анализа поверхности / Под ред. А. Зандерны. М.:

Мир, 1979, с. 137–199.

2.X-ray Photoelectron Spectroscopy, Roger Smart, Stewart McIntyre, Mike Bancroft, Igor Bello & Friends, Department of Physics and Materials Science, City University of Hong Kong, Surface Science Western, UWO.

3.Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела / В.И. Троян, В.Д. Борман, В.Н. Тро-

нин, П.В. Борисюк; под ред. В.Д. Бормана: Учебное пособие. Изд. 2-е, испр. и доп. М.: НИЯУ МИФИ, 2014. – 260 с.

4.Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии / Под ред. Д. Бриггса и М.П. Сиха. М.:

Мир, 1987 г., с.131–155, 221–228.

5.Вудраф Д., Делчар Т., Современные методы исследования поверхности М.: Мир, 1989, с.101–149.

6.Праттон М. Введение в физику поверхности, Ижевск: НИЦ

«Регулярная и хаотическая динамика», 2000, с.30–42, 54–56.

7. База данных электронной спектроскопии Национального института стандартов и технологий США (NIST)

http://srdata.nist.gov/xps/.

8. База данных компании THERMO Electron Corporation и

Французского Национального центра научных исследований CNRS http://www.lasurface.com/xps/index.php.

78

Виктор Иванович Троян Владимир Дмитриевич Борман Владимир Николаевич Тронин Пётр Викторович Борисюк Олег Станиславович Васильев Юрий Юрьевич Лебединский

Физические основы методов исследования наноструктур и поверхности твердого тела

Лабораторный практикум

Редактор Е.Г. Станкевич Оригинал-макет изготовлен П.В. Борисюком

Подписано в печать 18.12.2014. Формат 60×84 1/16. Печ.л. 5,0. Уч.-изд. л. 5,0. Тираж 100 экз.

Изд. № 019-1. Заказ № 34.

Национальный исследовательский ядерный университет «МИФИ» Типография НИЯУ МИФИ.

115409, Москва, Каширское ш., 31

ДЛЯ ЗАМЕТОК