Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
skhemotekhnika / Лабораторная_работа_1p.doc
Скачиваний:
27
Добавлен:
09.02.2015
Размер:
1.1 Mб
Скачать

Часть 4. Исследование свойств каскадов оэ, ок, об при их работе в условиях отсутствия заземлённости общего провода.

Общие сведения.

Часто активный прибор умышленно или помимо желания разработчика оказывается включённым в схему каскада таким образом, что в цепях заземления общих для входных и выходных электродов схем рис.4 оказывается включённым дополнительный двухполюсник Zf , как это показано на рис.6.

Схемы рис.6 можно рассматривать как разновидности соответствующих схем рис.4, отличающиеся от последних наличием дополнительного сопротивления Zf ≠ 0. Включение в схему сопротивления Zf вызывает появление внутрикаскадной отрицательной обратной связи, которая понижает входную проводимость, повышает устойчивость параметров каскада по отношению к воздействию дестабилизирующих факторов, но при этом снижает коэффициент усиления по напряжению. В дальнейшем параметры, соответствующие случаюZf ≠ 0, будем отмечать дополнительным индексом “f “. Относительное влияние отрицательной обратной связи характеризуют её глубиной – числом F, показывающим, во сколько раз уменьшается коэффициент усиления схемы при введении в неё обратной связи.

Сопротивление Zf удобно рассматривать как составную часть самого транзистора, имеющего другие изменённые значения Y-параметров – значения Yf . Эти значения для всех схем включения транзистора в каскад определяются соотношениями:

где ∆ОЭ = ∆ОК = ∆ОБ = Y11 Y22 - Y12 Y21;

FОЭ = 1 + (Y11 + Y21 + Y12 + Y22) Zf1 + (Y11 + Y21) Zf ;

FОБ = 1 + Y11 Zf ; FОК = 1 + Y22 Zf .

В условиях, когда Zf ≠ 0 (F > 1) происходит стабилизация параметров каскада, уменьшение чувствительности этих параметров к проявлению дестабилизирующих факторов. Например, чувствительность SKfIk0 коэффициента усиления Kf в схеме рис.6,а к изменениям ∆ IК (∆ IК ≈ ∆ IЭ) коллекторного тока IК (IКIЭ) меньше соответствующей чувствительности SKIk0 в схеме рис.4,а в F раз. Значение чувствительности параметра K к дестабилизирующему фактору ∆ IК определяется соотношением

, (14)

где IК0 = √(IК01 IК02) - усреднённое значение тока IК на интервале его изменения от IК01 до IК02 ; K = √( K1 K2) – усреднённое значение коэффициента усиления на интервале, соответствующем изменениям тока IК на ∆ IК0 = IК02 - IК01.

Порядок выполнения четвёртой части работы.

1. Исследуйте влияние на параметры транзистора дополнительного ре­зистора Rf, включённого в его эмиттерную цепь. Для этого при IЭ0 ≈ 5мА (UR8 ≈ 2.5В, S3 – 3) и Rf = 11 Ом (S52) определите значение параметров g21f, g11f, g22f. Измерение указанных параметров осуществите по методикам, аналогич­ным методикам пп.1…3 (порядок выполнения второй части работы). Сопоставьте относительные различия соответствующих параметров, изме­ренных в дан­ном пункте и пп.1…3 (порядок выполнения второй части работы) и между собой, а также с глубиной обрат­ной связи, вычисленной по формуле F = 1 + g21R14.

2. Исследуйте стабилизирующее влияние на коэффициент усиления каскада ОЭ дополнительного резистора, включённого в эмиттерную цепь транзистора. Для этого при отсутствии (S51) и наличии (S52) обратной связи измерьте относительные изменения ΔК ∕ К и ΔКf ∕ Кf коэффициентов К и Кf, вызванные изменениями эмиттерного тока от IЭ01, соответствующего S33, до IЭ02, соответствующего S34 . Определите значения токов IЭ01 и IЭ02 по падению постоянного напряжения на R8, считая, что IЭ = UR8R8. Измере­ния значений К и Кf выполните при UВХ = 10 мВ и сопротивлении нагрузки 100 Ом (S41) при RС ≈ 10 Ом (S21).

По результатам измерений и вычислений определите по формуле (14) и сравните между собой значения чувствительностей SKIk0 и SKfIk0 . Сопоставьте результат сравнения со значением глубины обратной связи F, считая, что

F = K ∕ Kf .

Контрольные вопросы.

1. Объясните. почему в схемах рис.2 и 3 в условиях когда UКЭ >Uнач , зна­чение IК0 практически не зависит от RК , но изменяется пропорционально изменениям R8 ?

2. Почему для обеспечения малой зависимости IК0 от свойств конкретного транзистора необходимо в схеме рис.2 выполнить условие Iдел>> IБ0 ?

3. Выделите общие и различающиеся принципы, используемые при орга­низации схем ОЭ, ОБ, ОК, предназначенных для усиления переменных сигналов.

4. На схеме рис.3 укажите положения переключателей, соответствующие следующим схемам включения транзистора в каскад ОЭ, ОЭf , ОБ, ОБf , ОК, ОКf .

5. Какие допущения используют при составлении эквивалентных схем каскада для области средних частот?

6. Что такое низкочастотные Y – параметры транзистора?

7. Какова методика измерения параметров g21, g11 и g22? Почему в схемах ОЭ и ОБ измерение g22 проводится с помощью резистора 1кОм, а в схеме ОК – 30 Ом?

8. Почему при больших значениях IК0 (S3 – 7) измеренные значения g-па­раметров существенно отличаются от вычисленных по формулам (10), (11) и (12)?

9. Каково соотношение между gВХ схемы ОБ и gВЫХ схемы ОК?

10. Почему схема ОК с S56 обладает повышенным входным сопротив­лением по сравнению со схемой ОК с S58 (см. рис.3)?

11. Дайте сравнительный анализ схем ОЭ, ОБ и ОК по параметрам gВХ и gВЫХ.

12. Дайте сравнительный анализ схем ОЭ И ОЭf по параметрам K, KI и KP.

13. Каково назначение резистора R14 в лабораторной установке и как от­ражается его включение в схему на свойствах каскада ОЭ?

14. Каково назначение резистора R3 и как отражается его включение в схему на свойствах каскада ОБ?

15. Каково назначение резистора С3 и как отразится его исключение из схемы на свойствах каскада ОК?

Для нового макета.

Порядок выполнения первой части работы.

В ходе выполнения лабораторных исследований определите зависи­мость разности потенциалов UБЭ от тока IЭ, при этом сопоставьте ход данной зависи­мости с аналогичной, описываемой соотношением (1) для случая m=1 и IОЭ, вычисленного по формуле

IОЭ= IЭ exp(-UБЭφT), (3)

где IЭ, UБЭ – значения тока и напряжения, отвечающие начальному участку из­меренной зависимости UБЭ=f(IК), когда m=1 (ток IЭ = 1мА). В ходе исследований также оцените ход зависимости m от тока IЭ0, при этом текущие значения m при раз­личных IЭ и UБЭ вычислите по формуле

m= UБЭ ∕ ( φT ln(IЭ IОЭ)), где IЭ = UЭ0R8. (4)

1. Исследуйте зависимость постоянных напряжений на выводах транзистора от тока эмиттера IЭ, для этого при ряде значений IЭ0 (1мА, 2мА, 3мА, 5мА, 7мА и 11мА) измерьте значения потенциалов UБ0, UК0, UЭ0. Регулировка эмиттерного тока осущест­вляется изме­нением напряжения смещения на базе транзистора (ручка ЕСМ). Измерения осуществите при S3 4, S21, S42 ( для установки тока 11 мА использовать S41). Положение остальных переключателей про­извольное.

2. По результатам измерений п.1 вычислите значения тока IЭ = UЭ0R8 (или IЭ = UЭ0R6) и разности потенциалов UБЭ= UБ0 - UЭ0. Результаты изме­ре­ний представьте в виде графика зависимости UБЭ=f(IЭ), а также графиков, соответствующих проведённым по формулам (1), (3) и (4) вычислениям.

Порядок выполнения второй части работы.

В ходе выполнения исследований по второй части для включения тран­зи­стора по схеме ОЭ (S5 – 1) необходимо определить значения параметров g21, g11 и g22 и оценить характер их зависимости от IЭ0.

Измерение следует выполнить на частоте 1кГц при относительно не­больших значениях входного сигнала (UВХ ≈ 10мВ ). При измерениях необхо­димо иметь в виду, что Y – параметры транзистора соответствуют ре­жиму ко­роткого замыкания входных и выходных зажимов транзистора. Поэтому измерение параметров необходимо осуществлять в условиях, когда внешние по отношению к транзистору цепи имеют по возможности малое сопротив­ление. Для всех схем S21.

1. Исследуйте зависимость параметра g21 транзистора схемы ОЭ от тока IЭ0. Для этого при низкоомном источнике синусоидального сигнала (S1 2) на частоте 1кГц в режиме, близком к режиму короткого замыкания на выходе (S31, S63), измерьте при ряде значений тока IЭ0 (1мА, 2мА, 3мА, 5мА, 7мА и 11мА) переменное напряжения UВЫХ на коллекторе транзистора. Перед началом измерений установите на входе UБ = UВХ ≈ 10мВ. По результатам измерений вычислите значения пара­метра g21 по формуле

g21 = UВЫХ(1 ∕ R9 + 1 ∕ R19) ∕ UВХ. (10)

Результаты измерений и вычислений представьте в виде графиков за­висимостей g21 = f(IЭ0), один из которых построен по результатам измерений, а другой – на основании вычислений по формуле (7) с подстановкой в неё значений IЭ и m, найденных при вычислениях по п.2 (порядок выполнения первой части работы).

2. Исследуйте зависимость входной проводимости g11 от тока IЭ0. Из­мерения необходимо осуществлять при UВЫХ = 0 (S33), заземлённых по сигнальной составляющей, эмиттере (S51), коллекторе (S33) и при ис­точнике сигнала с выходным сопротивлением R1= 330 Ом (S13) и ЭДС

UГ ≈ 20 - 30мВ.

В ходе измерений необходимо для ряда значений тока IЭ0 (1мА, 2мА, 3мА, 5мА, 7мА и 11мА) определить значения сигнального напряжения UВХ на базе транзистора (UВХ = UБ). По результатам из­мерений UВХ и UГ вычислите значе­ния параметров g11 и h21 по формулам:

g11 = (UГ - UВХ) ∕ R1 UВХ gдел ; h21 = g21g11, (11)

где gдел – полная проводимость цепи делителя, шунтирующего вход транзи­стора на переменном токе. Проводимость gдел = 1∕ R4.

Результаты измерений и вычислений представьте в виде графиков за­висимостей g11 = f(IЭ0) и h21 = f(IЭ0), где g11, h21, IЭ0 – значения, вычисленные в соответствии с (11) и (2).

3. Исследуйте зависимость выходной проводимости g22 транзистора от положения исходной рабочей точки. Измерения необходимо осуществить при низкоомном источнике сигнала (S12) и высокоомной коллекторной на­грузке (S34).

В ходе измерений для ряда значений тока IЭ0 (1мА, 2мА, 3мА, 5мА, 7мА и 11мА) определите относительные изменения N = UВЫХU`ВЫХ сигналь­ного напряжения на выходе каскада (на коллекторе), возникающие при шун­тировании его выхода дополнительным сопротивлением

R18 = 910Ом (S6 - 2). В начале измерений рекомендуется установить уровень входного сигнала UБ = UВХ ≈ 10мВ. Значения параметра g22 вычислите по формуле

. (12)

С помощью соотношения (9), результатов вычислений g22 по формуле (12) и полученных в п.1 (порядок выполнения первой части работы)данных о IЭ, UКЭ оцените значение потенциала Эрли.

Порядок выполнения третьей части работы.

Измерения выполняются на частоте 1кГц.

1. Исследуйте свойства каскада ОЭ при RН = 910 Ом (S12 и 3, S42, S21, S51, S6 - 1), входном сигнале ≈10мВ и IЭ0 по заданию преподавателя. Измерение и вычисле­ние основных параметров К, gВХ, gВЫХ выполните в соответствии с формулами:

К = UВЫХUВХ ; gВХ = (UГUБ) ∕ R1 UБ ; gВЫХ = [R18(UВЫХU`ВЫХ -1)]-1,

где R1 = 330 Ом (S13), UВХ = UБ , UВЫХ = UК; UВЫХU`ВЫХ – относительное уменьшение напряжения UВЫХ, возникающее при подключе­нии дополнитель­ной нагрузки R18 (S62). Измерение gВЫХ проводите при RС ≈ 0 (S12) и

RС ≈ 330 Ом (S13).

2. Исследуйте свойства каскада ОК при RН = 500 Ом (S21, S33,

S42, S53, S6 - 1), входном сигнале ≈50-100мВ и IЭ0 по заданию преподавателя. Измерение и вычисле­ние основных параметров К, gВХ, gВЫХ выполните в соответствии с формулами:

К = UВЫХUВХ ; gВХ = (UГUВХ) ∕ R1 UВХ ; gВЫХ = [R12 (UВЫХU`ВЫХ -1)]-1,

где R1 = 330 Ом (S13), UВХ = UБ, UВЫХ = UЭ; UВЫХU`ВЫХ – относительное уменьшение напряжения UВЫХ, возникающее при подключе­нии дополнитель­ной нагрузки R12 (S52).

Измерение gВХ проводите при двух вариантах построения каскада ОК (S21 и S22). При изменении положения переключателя S2 не забудьте отрегулировать ток IЭ0.

Измерение gВЫХ проводите при RС ≈ 0 (S12) и RС ≈ 20кОм (S14) при этом S22.

3. Исследуйте свойства каскада ОБ при RН = 910 Ом (S15, S21,

S42, S55, S6 - 1), входном сигнале ≈10мВ и IЭ0 по заданию преподавателя. Измерение и вычисле­ние основных па­раметров К, gВХ, gВЫХ выполните в соответствии с формулами:

К = UВЫХUВХ ; gВХ = (UГUВХ) ∕ R16 UВХ ; gВЫХ = [R18(UВЫХU`ВЫХ -1)]-1,

где UВХ = UЭ, UВЫХ = UК; UВЫХU`ВЫХ – относительное умень­шение напряже­ния UВЫХ, возникающее при подключении дополнительной нагрузки R18 (S62).

4. С помощью (13) и (5) и полученных в п.1…3 (порядок выполнения второй части работы) данных о параметрах транзистора при соответствую­щем токе IЭ0 вычислите значения параметров K, KI, KP, gВХ и gВЫХ. При расчётах полагайте, что g12 = 0.

Порядок выполнения четвёртой части работы.

1. Исследуйте влияние на параметры транзистора дополнительного ре­зистора Rf, включённого в его эмиттерную цепь. Для этого при IЭ0 по заданию преподавателя и Rf = 24 Ом (S52) определите значение параметров g21f, g11f, g22f. Измерение указанных параметров осуществите по методикам, аналогич­ным методикам пп.1…3 (порядок выполнения второй части работы). Сопоставьте относительные различия соответствующих параметров, изме­ренных в дан­ном пункте и пп.1…3 (порядок выполнения второй части работы) (порядок выполнения второй части работы) и между собой, а также с глубиной обрат­ной связи, вычисленной по формуле F = 1 + g21R12.

2. Исследуйте стабилизирующее влияние на коэффициент усиления каскада ОЭ дополнительного резистора, включённого в эмиттерную цепь транзистора. Для этого при отсутствии (S51) и наличии (S52) обратной связи измерьте относительные изменения ΔК ∕ К и ΔКf ∕ Кf коэффициентов К и Кf, вызванные изменениями эмиттерного тока от IЭ01 = 3мА до IЭ02 = 5мА. Измере­ния значений К и Кf выполните при UВХ = 10 мВ и сопротивлении нагрузки 91 Ом (S31) при RС ≈ 0 Ом (S12). S21 и S42.

По результатам измерений и вычислений определите по формуле (14) и сравните между собой значения чувствительностей SKIk0 и SKfIk0 . Сопоставьте результат сравнения со значением глубины обратной связи F, считая, что

F = K ∕ Kf .

14

Соседние файлы в папке skhemotekhnika