- •Работа №1 исследование характеристик линейных и нелинейных резисторов и источников электромагнитной энергии
- •Вопрос 1. Что определяет угол наклона вах линейного резистора ?
- •Вопрос 2. Если точки вах, полученные экспериментально, не лежат строго на прямой, то чем это объяснить?
- •1.1.2. Анализ временных зависимостей токов и напряжений линейного и нелинейного резисторов при синусоидальных воздействиях
- •Работа № 3 исследование свободных процессов в линейных цепях
- •Работа № 4 исслвдование переходных процессов в линейных цепях
- •Вопрос 3. Увеличится или уменьшится длительность переходного процесса в исследуемой цепи при закорачивании резистора r4?
- •Вопрос 4. Как изменится переходный процесс в исследуемой цепи при отключении r3?
- •Как модуль и аргумент комплексного сопротивления
- •Работа № 6 Исследование установивщегося синусоидального режима в простых цепях
- •Вопрос 2. В чем сходство и в чем различие данных, измеренных и рассчитанных в 7.2.1 и 7.2.2?
- •Вопрос 3. В чем сходство и в чем различие данных 7.2.2 и 7.2.3? Почему диапазон изменения частоты иной?
- •Вопрос 5. В чем сходство и в чем различие данных, измеренных и рассчитанных в 7.3.1 и 7.3.2?
- •Вопрос 6. В чем сходство и в чем различие данных 7.3.2 и 7.3.3? Почему иной диапазон изменения частоты?
- •Работа № 8
- •Вопрос 3. Можно ли по частотным характеристикам (ачх, фчх, афх) определить резонансные частоты двухполюсника? По каким признакам?
Работа № 3 исследование свободных процессов в линейных цепях
Цель работы: изучение связи между видом свободного процесса в цепи и расположением собственных частот (корней характеристического уравнения) на комплексной плоскости; приближенная оценка собственных частот и добротности RLC- контура по осциллограммам.
3.1. Подготовка к работе

В
работе предлагается исследовать
свободные процессы в цепях, схемы
которых представлены на рис.3.1. Цепи
возбуждаются очень короткими импульсами
токаi0(t),
заряжающими емкостьС. В паузах
между импульсами емкость разряжается,
цепь находится в свободном режиме, так
как в это время источник возбуждения
отключен.
а б
в
Рис. 3.1
В линейных цепях свободный процесс описывается линейным дифференциальным уравнением и его вид определяется корнями характеристического уравнения (собственными частотами цепи pk).
При возбуждении цепи источником тока собственные частоты можно рассчитать как нули входной проводимости цепи Y(p):
а) для цепи первого порядка, представленной на рис. 3.1, а,
Y(p) =pC+1/R= 0,
откуда,
p1= -α = - 1/RC; (3.1)
б) для цепи второго порядка, представленной на рис. 3.1, б,
Y(p) =pC+1/(pL + R1) = 0,
откуда,
,α =R1/2L,
;
(3.2)
в) для цепи третьего порядка, представленной на рис. 1.3, в,
,
откуда,
,
,
.
(3.3)
Общий
вид решения для напряжения любого
элемента цепи
![]()
где Аk– постоянные интегрирования,n- порядок цепи.
У цепи первого порядка одна собственная частота (3.1), вещественная и отрицательная, свободный процесс имеет вид
.
(3.4)
процесс экспоненциальный, причем α – постоянная затухания, а τ –постоянная времени экспоненты. Временная диаграмма свободного процесса показана на рис. 3.2, а, причем τ – интервал времени, соответствующий любой касательной к экспоненте.
В цепи второго порядка две собственные частоты (3.2) могут быть вещественными (апериодический режим; временная диаграмма суммы двух экспонент, изображенных пунктиром, показана на рис. 3.2, 6) или комплексными сопряженными. Комплексным сопряженным частотам соответствует качественно новый характер свободного процесса – колебательный:
,
(3.5)
где α – постоянная
затухания, ω – частота затухающих
колебаний (
),
β – начальная фаза. Временная диаграмма
колебательного процесса представлена
на рис. 3.2, в.
В цепи второго порядка возможен также критический режим (p1= =p2= – α, кратные собственные частоты); вид процесса
![]()
близок
к диаграмме, показанной на рис. 3.2, б,
причем момент достижения максимума tm= – 1/α, если
.
Согласно (3.3), в схеме, изображенной на
рис. 3.1, в собственные частоты могут
быть либо все три вещественные, либо
одна вещественная и две комплексных
сопряженные, например
и
.
Временная диаграмма свободного процесса
представлена на рис. 3.2, г.

а
б
в г
Рис. 3.2
В некоторых случаях собственные частоты относительно просто рассчитываются по осциллограммам. Например, согласно (3.4) по рис. 3.2, а можно рассчитать постоянную затухания
(3.6)
Для случая рис. 3.2, в постоянная затухания α также может быть определена на основании (3.6), но при этом обязательно выполнение условия Δt = T = 2π/ω, что вытекает из (3.5).
В случаях рис. 3.2, 6 и 3.2, г найти собственные частоты можно лишь приближенно, выделив, как показано пунктиром, отдельные составляющие процесса.
Особый интерес представляет определение добротности Q RLC – контура по виду свободного процесса. Для последовательного RLC – контура
,
где
– частота незатухающих колебаний в
идеальном контуре (R1
= 0). Согласно (3.2) собственные частоты
последовательного RLC
– контура можно записать следующим
образом:
,
причем значению Q < 0,5 – соответствует апериодический режим, значению Q = 0,5 – критический режим, значению Q > 0,5 – колебательный режим, а значению Q = ∞ – незатухающий колебательный режим.
При Q > 10 с высокой степенью точности можно считать, что
.
С учетом (3.6) формула, позволяющая в этом случае определить добротность по осциллограмме 3.2, в, имеет следующий вид:
.
Для повышения точности можно брать отношение напряжений за n периодов колебаний и рассчитывать добротность по формуле
.
3.2. Экспериментальные исследования
Генератор импульсов, расположенный на лабораторной плате, подключите к генератору синусоидальных сигналов (ГС). Установите напряжение на выходе ГС u = 7 – 10 В, частоту fс = 2 кГц (аналогичной будет частота импульсов, возбуждающих свободные колебания в исследуемых цепях).
3.2.1. Исследование свободных процессов в цепи первого порядка
Соберите схему, показанную на рис. 3.1, а ( С = 0,02 мкФ, R = = 5 кОм). Снимите осциллограмму напряжения на конденсаторе, зафиксировав на ней полный период повторения сигналов Tc = 1/fс = = 0,5 мс, который определяет масштаб времени при обработке осциллограмм.
Вопросы: 1. Каким аналитическим выражением описывается осциллографируемый процесс? 2. Как определить по осциллограмме собственную частоту цепи?
3.2.2. Исследование свободного процесса в цепи второго порядка
Соберите схему, показанную на рис. 3.1, б (С = 0,02 мкФ, L = = 25 мГн). Снимите, фиксируя период Тс, осциллограммы напряжения на резисторе при значениях R1 = 0,5 кОм (колебательный режим) и R1 = = 3 кОм (апериодический режим). Изменяя величину R1, снимите осциллограмму критического режима (граничного между колебательным и апериодическим режимами) и запишите величину полученного сопротивления R1кр.
Установите частоту fс= 1 кГц и снимите также осциллограмму напряжения на конденсаторе приR1= 0.
Вопросы: 3. Какими аналитическими выражениями описываются графики процессов во всех четырех случаях? 4. Как определить по осциллограмме, снятой при R1 = 0,5 кОм, собственные частоты цепи? 5. Каковы теоретические значения собственных частот при R1 = 3 кОм и R1 = R1кp? Соответствуют ли осциллограммы этим значениям? 6. Какова добротность контура при R1 = 0 и R1 = 0,5 кОм?
3.2.3. Исследование свободных процессов в цепи третьего порядка
Соберите схему, показанную на рис. 3.1, в (С = 0,02 мкФ, R = 5 кОм, R1 = 1 кОм, L = 25 мГн).Установите частоту fс = 2 кГц и снимите осциллограмму напряжения на входе.
Вопросы: 7. Каким аналитическим выражением описывается полученный график свободного процесса? 8. Каково значение собственных частот цепи p1,2,3, вычисленных согласно (3.3)?
3.3. Требования к отчету
Отчет должен содержать цель работы, материалы всех пунктов исследования (схемы цепей, осциллограммы процессов, диаграммы расположения собственных частот на комплексной плоскости, необходимые расчеты, ответы на все вопросы) и заключение.
