LS-Sb89585
.pdfСписок программ MCAD
П4. Исследование теплоемкости кристаллической решетки
П5. Исследование статистических свойств электронного газа в твердых телах
П6. Исследование электропроводности и теплопроводности металлов
П7. Исследование электропроводности тонких пленок
П8. Исследование электропроводности полупроводников
П9 . Изучение контактных явлений в планарной микроструктуре
31
|
Содержание |
|
Введение............................................................................................................... |
3 |
|
Тема 1. Описание основ структуры радиоматериалов..................................... |
3 |
|
Тема 2. Динамика кристаллической решетки. Теплоемкость решетки............ |
8 |
|
Тема 3. Статистика электронов твердого тела................................................. |
13 |
|
Тема 4. Энергетический спектр электронов в кристалле (зонная структура) 14 |
||
Тема 5. Кинетические явления в твердых телах............................................... |
18 |
|
Тема 6. Изучение контактных явлений в планарной микроструктуре.............. |
25 |
|
Список рекомендуемой литературы.................................................................. |
28 |
|
ПРИЛОЖЕНИЯ |
|
|
1. |
Некоторые свойства элементов.................................................................... |
29 |
2. |
Свойства полупроводников........................................................................... |
30 |
3. |
Фундаментальные постоянные..................................................................... |
30 |
Список программ MCAD.................................................................................... |
31 |
|
Редактор О. Р. Крумина
________________________________________________________________
Подписано в печать 11.10.2013. Формат 60×84 1/16. Бумага офсетная. Печать офсетная. Печ. л. 2,0.
Гарнитура «Arial». Тираж 110 экз. Заказ 123.
________________________________________________________________
Издательство СПбГЭТУ « ЛЭТИ» 197376, С.-Петербург, ул. Проф. Попова, 5
32