- •Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт» Институт Автоматики и вычислительной техники Кафедра Прикладной
- •Актуальность работы
- •Постановка задачи
- •Исследование современных подходов в области JTAG тестирования
- •Общая схема функционального тестирования
- •Требования к разрабатываемому комплексу
- •Общая архитектура комплекса
- •Выбор одноплатной ЭВМ
- •Состав аппаратной части комплекса
- •Состав программного обеспечения комплекса
- •Режимы работы тестового программного обеспечения комплекса
- •Архитектура разработанного программного обеспечения
- •Список разработанных тестов для СБИС
- •Блок схема теста блока самотестирования памяти MBIST
- •Пример работы разработанного ПО
- •Обнаруженные в результате тестирования ошибки
- •Результаты работы
- •Перспективы разработки
- •Спасибо за внимание!
Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт» Институт Автоматики и вычислительной техники Кафедра Прикладной математики
Магистерская диссертация на тему
«Разработка программно-аппаратного комплекса для JTAG тестирования»
Студент: Алексан П.А. Группа А1308 Научный руководитель: доц., к.т.н. Сидорова Н.П.
Москва, 2014
Актуальность работы
JTAG-порт микросхемы и
ячейки периферийного
сканирования.
•В настоящее время на рынке
существует несколько
решений для функционального
тестирования систем на базе технологии граничного
сканирования JTAG.
•Все рассмотренные в рамках исследования системы предоставляют доступ к стандартным функциям JTAG, в то время как в процессе
отладки СБИС разработки
НИИСИ РАН требуется доступ к специализированным функциям.
Постановка задачи
• |
Задачей магистерской |
|
диссертации стала |
|
разработка программно- |
|
аппаратного комплекса, |
|
позволяющего производить |
|
специализированное |
|
функциональное |
|
тестирование логических |
|
блоков СБИС разработки |
|
НИИСИ РАН, в том числе |
|
Rapid IO коммутатора |
Структурная схема микросхемы |
1907KX018 |
коммутатора Rapid IO 1907kx018 |
|
|
Слайд №3 |
Исследование современных подходов в области JTAG тестирования
Наименование |
Возможность |
Открытый |
Поддержка |
стандартных |
|
удаленной |
исходный |
языков программирования |
|
|
работы |
код |
|
|
JTAG Live Studio
JTAG ProVision
XJTAG Professional
Блок БЗР 680
Слайд №4
Общая схема функционального тестирования
Слайд №5
Требования к разрабатываемому комплексу
Функциональные требования к комплексу
•Взаимодействие с тестируемым устройством через интерфейс JTAG
•Возможность разработки тестового набора для логических блоков тестируемого устройства
•Возможность обработки полученных результатов с помощью комплекса
Нефункциональные требования к комплексу
•Удаленный доступ к комплексу
•Открытый исходный код компонентов тестового программного окружения
•Питание от 220В
Слайд №6
Общая архитектура комплекса
Слайд №7
Выбор одноплатной ЭВМ
• |
700MHz |
• |
|
• |
памяти SD/MMC/SDIO объемом до 32 Гб |
• |
порта |
• |
Мбит |
• |
A8 1Ghz |
• |
|
• |
встроенной NAND флешпамяти |
• |
|
• |
Мбит |
• |
A7 Dual Core 1 Ghz |
• |
|
• |
встроенной NAND флэшпамяти, SD карты до 64Гб, SATA диски до 2Tб |
• |
порта |
• |
Мбит |
Слайд №8
Состав аппаратной части комплекса
Модуль с одноплатной ЭВМ Rasberry Pi model B
Отладочный адаптер марки FTDI на базе ft2232c со встроенным MPSSE устройством
Источник питания с выходным напряжением в 5В
СБИС 1907KX018
Слайд №9