Аннотация

В настоящее время представленные на рынке системы тестирования СБИС с помощью интерфейса JTAG не обладают высокой степенью удобства расширения и широкой специализацией. Задачей магистерской диссертации стала разработка комплекса, лучше подходящего для тестирования специализированных СБИС НИИСИ РАН по сравнению с представленными на рынке системами.

В магистерской диссертации произведен анализ возможных программных и аппаратных архитектур комплекса, выбрана и обоснована архитектура программного обеспечения и аппаратной части комплекса.

В главе 1 рассмотрены особенности интерфейса JTAG, произведено исследование современного рынка в области разработок, посвященных методам тестирования СБИС через интерфейс JTAG, а также обоснована необходимость в разработке нового подхода к JTAG тестированию.

В главе 2 описана выбранная архитектура комплекса, сделан обзор возможных вариантов компонентов системы, выбраны основные компоненты комплекса.

Глава 3 посвящена разработке программно-аппаратного комплекса, сборке аппаратной части и разработке программного окружения.

Глава 4 содержит в себе описание тестируемой сбис, а так же результаты ее тестирования с применением разработанного программно-аппаратного комплекса.

Диссертация содержит 98 страниц.

Диссертация содержит 22 рисунка.

ANNOTАTION

Currently the market of testing VLSI systems through the JTAG interface does not have a high degree of convenience and the general expansion of specialization solution. Task of this master's dissertation is the development of the complex, better suited for testing specialized VLSI NIISI RAS compared to systems on the market.

In the master's dissertation analyzed the possible software and hardware architectures complex, selected and justified software architecture and hardware complex.

Chapter 1 describes the features of JTAG interface, made a study of contemporary developments in the market, on methods of testing VLSI via JTAG, and the necessity to develop a new approach to JTAG testing.

Chapter 2 describes the architecture of the complex is selected, an overview of possible options for the system components, selected major components of the complex.

Chapter 3 is devoted to the development of hardware-software complex, assembly hardware and software development environment.

Chapter 4 contains a description of VLSI test, as well as the results of its tests using the developed complex JTAG testing.

The dissertation contains 98 pages.

The dissertation contains 22 figures.

Содержание

ВВЕДЕНИЕ..............................................................................................................5

Глава 1. Исследование методов jtag тестирования сбис.........6

1.1 Описание интерфейса JTAG...................................................................6

1.2 Существующие разработки..................................................................12

1.3 Требования к комплексу JTAG тестирования.....................................16

1.4 Выводы к главе......................................................................................18

Глава 2. Архитектура комлекса jtag тестирования....................19

2.1 Общая архитектура комплекса............................................................19

2.2 Аппаратная часть комплекса JTAG тестирования..............................21

2.3 Программная часть комплекса JTAG тестирования...........................26

2.4 Выводы к главе......................................................................................31