Глава 3. Аппаратное и программное обеспечение комплекса.......................................................................................................32

3.1 Разработка аппаратной части комплекса............................................32

3.2 Разработка программного окружения для JTAG тестирования.......38

3.2.1 Выбор операционной системы………………………......….38

3.2.2 Разработка программного обеспечения комплекса на языке Python………………………………………………………………41

3.3 Инструкция по эксплуатации разработанного комплекса……….. 47

3.4 Выводы к главе.....................................................................................58

Глава 4 исследование сбис 1907кх018..................................................59

4.1 Краткое описание тестируемой СБИС...............................................59

4.2 Описание разработанных тестов........................................................62

4.3 Режимы работы системы.....................................................................67

4.4 Результаты тестирования.....................................................................71

4.5 Выводы к главе.....................................................................................72

ЗАКЛЮЧЕНИЕ......................................................................................................73

СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ...............................................75

ПРИЛОЖЕНИЕ А .Тестирование блока MBIST................................................76

ПРИЛОЖЕНИЕ Б. Описание регистров теста шины i2c..................................82

ПРИЛОЖЕНИЕ B. Тест PRBS.............................................................................89

ВВЕДЕНИЕ

Развитие микропроцессорной техники идет по пути постоянного роста производительности. Сложность электронных устройств неуклонно растет, как растет и сложность/стоимость процесса тестирования годных устройств в производственном цикле. Производится ряд работ по улучшению наблюдаемости состояний СБИС, в интерфейсы добавляются тестовые генераторы для проверки межфизических соединений и т.д. Все эти нововведения требуют стандартизации для унификации программного обеспечения. Один из самых широко известных и распространённых тестовых интерфейсов является JTAG, развиваемый группой IEEE (Institute of Electrical and Electronics Engineers). В 1985 сформировалась специальная группа ведущих производителей электроники - JTAG (Joint Test Action Group). Для решения проблем тестирования JTAG выдвинула как промышленный стандарт спецификацию IEEE Std. 1149.1-1990 (IEEE Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture).  Стандарт описывает доступ к тестируемой системе, тесты же и методики тестирования должны быть описаны разработчиками СБИС. В данной диссертации мы остановимся на функциональном тестировании.

В настоящее время на рынке существует несколько решений для функционального тестирования систем от различных производителей, предоставляющих готовые аппаратно-программные комплексы на базе персональных компьютеров, которые предназначены для разработки тестирования на базе технологии граничного сканирования JTAG.

Был рассмотрен ряд готовых комплексов, однако все они так или иначе не позволяют полностью решить задачу функционального тестирования СБИС 1907КХ018 SRIO коммутатора разработки НИИСИ РАН.