 
        
        - •Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт» Институт Автоматики и вычислительной техники Кафедра Прикладной
- •Актуальность работы
- •Постановка задачи
- •Исследование современных подходов в области JTAG тестирования
- •Общая схема функционального тестирования
- •Требования к разрабатываемому комплексу
- •Общая архитектура комплекса
- •Выбор одноплатной ЭВМ
- •Состав аппаратной части комплекса
- •Состав программного обеспечения комплекса
- •Режимы работы тестового программного обеспечения комплекса
- •Архитектура разработанного программного обеспечения
- •Список разработанных тестов для СБИС
- •Блок схема теста блока самотестирования памяти MBIST
- •Пример работы разработанного ПО
- •Обнаруженные в результате тестирования ошибки
- •Результаты работы
- •Перспективы разработки
- •Спасибо за внимание!
 
Национальный исследовательский университет «Московский энергетический институт» Институт Автоматики и вычислительной техники Кафедра Прикладной математики
Магистерская диссертация на тему
«Разработка программно-аппаратного комплекса для JTAG тестирования»
Студент: Алексан П.А. Группа А1308 Научный руководитель: доц., к.т.н. Сидорова Н.П.
Москва, 2014
 
Актуальность работы
JTAG-порт микросхемы и
ячейки периферийного
сканирования.
•В настоящее время на рынке
существует несколько
решений для функционального
тестирования систем на базе технологии граничного
сканирования JTAG.
•Все рассмотренные в рамках исследования системы предоставляют доступ к стандартным функциям JTAG, в то время как в процессе
отладки СБИС разработки
НИИСИ РАН требуется доступ к специализированным функциям.
 
Постановка задачи
| • | Задачей магистерской | 
| 
 | диссертации стала | 
| 
 | разработка программно- | 
| 
 | аппаратного комплекса, | 
| 
 | позволяющего производить | 
| 
 | специализированное | 
| 
 | функциональное | 
| 
 | тестирование логических | 
| 
 | блоков СБИС разработки | 
| 
 | НИИСИ РАН, в том числе | 
| 
 | Rapid IO коммутатора | 
| Структурная схема микросхемы | 1907KX018 | 
| коммутатора Rapid IO 1907kx018 | 
 | 
| 
 | Слайд №3 | 
 
Исследование современных подходов в области JTAG тестирования
| Наименование | Возможность | Открытый | Поддержка | стандартных | 
| 
 | удаленной | исходный | языков программирования | |
| 
 | работы | код | 
 | 
 | 
JTAG Live Studio
JTAG ProVision
XJTAG Professional
Блок БЗР 680
Слайд №4
 
Общая схема функционального тестирования
Слайд №5
 
Требования к разрабатываемому комплексу
Функциональные требования к комплексу
•Взаимодействие с тестируемым устройством через интерфейс JTAG
•Возможность разработки тестового набора для логических блоков тестируемого устройства
•Возможность обработки полученных результатов с помощью комплекса
Нефункциональные требования к комплексу
•Удаленный доступ к комплексу
•Открытый исходный код компонентов тестового программного окружения
•Питание от 220В
Слайд №6
 
Общая архитектура комплекса
Слайд №7
 
Выбор одноплатной ЭВМ
| • | 700MHz | 
| • | 
 | 
| • | памяти SD/MMC/SDIO объемом до 32 Гб | 
| • | порта | 
| • | Мбит | 
| • | A8 1Ghz | 
| • | 
 | 
| • | встроенной NAND флешпамяти | 
| • | 
 | 
| • | Мбит | 
| • | A7 Dual Core 1 Ghz | 
| • | 
 | 
| • | встроенной NAND флэшпамяти, SD карты до 64Гб, SATA диски до 2Tб | 
| • | порта | 
| • | Мбит | 
Слайд №8
 
Состав аппаратной части комплекса
Модуль с одноплатной ЭВМ Rasberry Pi model B
Отладочный адаптер марки FTDI на базе ft2232c со встроенным MPSSE устройством
Источник питания с выходным напряжением в 5В
СБИС 1907KX018
Слайд №9
 
