6.4. Комплектная и поэлементная поверка иис.

Для ИИС, как для любого средства измерений, может быть предусмотрена как комплектная так и поэлементная поверка. Комплектная поверка - это поверка при которой определяют метрологические характеристики средства измерений, присущие ему как единому целому.

Поэлементная поверка - это поверка при которой значения метрологических характеристик средств измерений устанавливаются по метрологическим характеристикам его элементов или его частей.

Данные виды поверки установлены Межгосударственным Советом по Стандартизации метрологии и сертификации.

При комплектной поверке экспериментально устанавливается соблюдение допускаемых пределов, показателей погрешностей, непосредственно интересующих потребителя. В этом случае не анализируется структура ИИС и отдельные составляющие погрешности результата, а также не производится метрологическая аттестация программно-математического обеспечения (ПМО), так как получаемая оценка погрешности будет учитывать и неопределенность, обусловленная этим ПМО.

Комплектная поверка ИИС может проводится двумя методами.

1. Методом непосредственного измерения. При этом методе в качестве эталона необходимо использовать эталонные меры, которые по своим характеристикам аналогичны реальным размерам. Измеряемые показатели эталонов должны быть известны с погрешностями в 3-5 раз меньшими, чем допускаемые погрешности поверяемой ИИС. Данный вид поверки предусматривает обязательную метрологическую аттестацию алгоритмов обработки измерительной информации с целью оценки величины методической погрешности. В этом случае ПМО рассматривается как один из элементов ИИС.

2. Методом сличения показаний. При этом методе в качестве эталона должно использоваться средство измерения, обеспечивающее измерение тех же величин в несколько раз точнее. Создание эталона становится практически неразрешимой задачей для пространственно распределенных и гибких ИИС. Кроме того, технически и экономически нецелесообразно создание эталонов, которые обеспечивали бы поверку для каждой измеряемой величины во всем диапазоне измерения. С учетом этого поэлементная поверка является основной для большинства ИИС.

[Гибкая ИИС - перестраиваемая ИИС в зависимости от изменения измерительной задачи]

Поэлементная поверка предусматривает экспериментальные исследования всех метрологических характеристик измерительных каналов. Предпочтительной является поверка измерительного канала как единого целого. Однако практическая организация поверки измерительных каналов сталкивается с такими техническими и организационными проблемами как:

1. Сложность формирования и подачи тестовых воздействий на вход измерительных каналов, встроенных в ИИС.

2. Подача внешних воздействий на измерительный канал с целью изучения действия влияющих факторов.

3. Конструктивная сложность демонтажа измерительного канала и его элементов для проведения поверки.

4. Обеспечение необходимыми эталонами.

Если поверка измерительного канала как единого целого оказывается нереализуемой, применяют экспериментально-расчетный метод, при котором экспериментально исследуются метрологические характеристики элементов, образующих канал, а затем расчетным путем находятся метрологические характеристики измерительного канала в целом.

Одна из проблем исследования динамических метрологических характеристик измерительного канала - это подача на его вход тестового воздействия, являющегося достаточно быстро изменяющейся физической величиной, измеряемой поверяемым каналом. Формирование и исследование электрических тестовых сигналов разработаны достаточно хорошо, поэтому во многих случаях при поверке целесообразно разделить измерительный канал на две части:

1. Датчик (ПИП)

2. Подсистема преобразования и передачи электрических величин, в которую входят все остальные системы измерительного канала.

В зависимости от принципа работы датчика и конструкции канала вторичный преобразователь или часть его иногда могут быть объединены с датчиком. В этом случае поверку датчика можно проводить как непосредственно на месте эксплуатации с использованием транспортируемых эталонов, так и с его изъятием из ИИС и исследованием в стационарных условиях. Для поверки второй части измерительного канала могут использоваться эталонные тестовые сигналы, выдаваемые переносными или стационарными генераторами. При этом в состав измерительных каналов могут быть вставлены образцовые генераторы или меры электрических величин, которые могут иметь двойное назначение:

1. Использоваться для самоконтроля (самонастройки) ИИС.

2. Участвовать в процессе поверки измерительного канала.

Использование встроенных образцовых элементов которые можно легко демонтировать и поверять в стационарных условиях наиболее эффективно устраняет проблему демонтажа измерительных каналов.

Для повышения эффективности и производительности поверки могут использоваться поверочные ИИС, разработка и применение которых оправданы при наличии в эксплуатации большого числа

ИИС с однотипными измерительными каналами.