
- •Глава 2 основы физики твердого тела
- •§4 Строение твердых тел
- •4.1. Кристаллическая решетка
- •В каждой сингонии имеется несколько решеток Браве. Решетка Браве для кубической сингонии приведены на рис. 4.3.
- •4.2. Понятие о жидких кристаллах
- •Классификация кристаллов по природе частиц и типам сил взаимодействия между ними
- •4.4. Деффекты в кристаллах
- •§5. Основы зонной теории твердых тел
- •5.1. Приближение сильной связи
- •5.2. Приближение слабой связи
- •5.3. Деление твердых тел на металлы, диэлектрики и полупроводники
- •5.4 Движение электрона в кристалле под действием электрического поля. Эффективная масса.
- •§ 6. Металлы
- •6.1 Квантовая статистика электронов в металле.
- •6.2. Понятие о квантовой теории электропроводности металлов и сверхпроводимости
- •§7 Полупроводники
- •7.1 Собственные и примесные полупроводники.
- •7.2. Равновесные концентрации свободных носителей и положение уровня ферми в полупроводнике
- •7.3. Электропроводность полупроводников
- •7 .4. Эффект холла. Определение концентрации, подвижности и знака носителей заряда в полупроводнике
- •7.5. Неравновесная электропроводность полупроводников
- •Диффузионный и дрейфовый токи. Соотношение эйнштейна между подвижностью и коэффициентом диффузии.
- •Уравнение непрерывности для полупроводника
- •§ 8 Контактные явления
- •8.1 Работа выхода электрона из металла и полупроводника
- •Термоэлектронная эмиссия
- •8.3. Контакт двух металлов. Внешняя и внутренняя разности потенциалов.
- •8.4. Термоэлектрические явления
- •Электронно-дырочный переход
- •8.5.1. Электронно-дырочный переход в состоянии равновесия
- •8.5.2. Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- •8.5.3 Уравнение вольтамперной характеристики электронно-дырочного перехода.
- •8.5.4. Емкостные свойства электронно-дырочного перехода.
7 .4. Эффект холла. Определение концентрации, подвижности и знака носителей заряда в полупроводнике
В 1879 г. Холл открыл эффект, который состоит в следующем. Пусть по проводнику, имеющему форму прямоугольного параллелепипеда (рис. 7.9), протекает электрический ток.
На параллельных плоскости листа гранях параллелепипеда всегда можно выбрать точки А и D, лежащие на одной эквипотенциальной поверхности. Напряжение между этими точками Ux = 0. Если включить магнитное поле перпендикулярно току, так как показано на рис. 7.9 а, то между точками A и D возникает напряжение Холла Ux ≠ 0.
Как показывает опыт, при не слишком сильных полях напряжение Холла пропорционально индукции магнитного поля, плотности тока и ширине пластины:
,
(7.34)
где Rx является константой материала и называется постоянной Холла.
Рассмотрим физическую природу эффекта Холла. При движении электронов в проводнике (рис. 7.9 а) на них действует сила Лоренца, заставляя их смещаться к передней грани пластины. В следствии этого передняя грань заряжается отрицательно, а задняя – объединится электронами – положительно. В пластине появится поперечное электрическое поле Ex. Смещение электронов будет продолжаться до тех пор, пока сила Лоренца не уравновесится силой поперечного электрического поля, действующей на электроны в направлении, противоположном силе Лоренца, то есть
(7.35)
Учтем,
что плотность тока j =
e∙n∙v и
,
тогда после несложных преобразований
получим
(7.36)
Из сравнения формулы (7.36) с формулой (7.34) следует, что для металлического проводника постоянная Холла равна
.
(7.37)
Описанный вывод не является строгим, так как он предполагает, что все электроны проводимости имеют одну и ту же скорость теплового движения, вследствие чего время свободного движения между двумя последовательными взаимодействиями с центрами рассеивания принимается у всех электронов одинаковым. В этом случае под действием внешнего электрического поля все электроны приобретают одинаковую скорость дрейфа. Такое приближение оказывается справедливым для металлов и сильно легированных полупроводников, проводимость которых обеспечивается только электронами, располагающимися на уровнях вблизи уровня Ферми и обладающих практически одинаковыми скоростями. В общем случае необходимо учитывать распределение носителей заряда по скоростям. Более строгий расчет учитывающий распределение носителей по скоростям приводит для постоянной Холла к выражению:
.
(7.38)
Для полупроводников, имеющих решетку типа алмаза (Ge, Si, JnSb, AlAs и др) и носители одного знака,
,
(7.39)
если основным является механизм рассеяния носителей на тепловых колебаниях решетки, и
,
(7.40)
если основным является механизм рассеяния на ионизированных атомах примеси.
Для полупроводников со смешанной проводимостью (электронной и дырочной)
,
(7.41)
где А – так же, как и в случае носителей одного знака, определяется механизмом рассеяния.
Для собственных полупроводников, в которых n0 =P0, формула (7.41) переходит в следующую:
.
(7.42)
В
случае полупроводника с одним типом
проводимости, определив из опыта
постоянную Холла, можно найти по формуле
(7.38) концентрацию носителей заряда. Если
известно значение удельной электропроводности
,
то можно рассчитать подвижность носителей
по формуле
(7.43)
Нетрудно заметить (рис. 7.9 а, б), что по знаку холловской разности потенциалов можно определить знак носителей заряда в полупроводнике. Эффект Холла используется для измерения индукции магнитных полей, токов высоких частот, в электронных преобразователях, усилителях и генераторах электрических колебаний.