- •Глава 2 основы физики твердого тела
- •§4 Строение твердых тел
- •4.1. Кристаллическая решетка
- •В каждой сингонии имеется несколько решеток Браве. Решетка Браве для кубической сингонии приведены на рис. 4.3.
- •4.2. Понятие о жидких кристаллах
- •Классификация кристаллов по природе частиц и типам сил взаимодействия между ними
- •4.4. Деффекты в кристаллах
- •§5. Основы зонной теории твердых тел
- •5.1. Приближение сильной связи
- •5.2. Приближение слабой связи
- •5.3. Деление твердых тел на металлы, диэлектрики и полупроводники
- •5.4 Движение электрона в кристалле под действием электрического поля. Эффективная масса.
- •§ 6. Металлы
- •6.1 Квантовая статистика электронов в металле.
- •6.2. Понятие о квантовой теории электропроводности металлов и сверхпроводимости
- •§7 Полупроводники
- •7.1 Собственные и примесные полупроводники.
- •7.2. Равновесные концентрации свободных носителей и положение уровня ферми в полупроводнике
- •7.3. Электропроводность полупроводников
- •7 .4. Эффект холла. Определение концентрации, подвижности и знака носителей заряда в полупроводнике
- •7.5. Неравновесная электропроводность полупроводников
- •Диффузионный и дрейфовый токи. Соотношение эйнштейна между подвижностью и коэффициентом диффузии.
- •Уравнение непрерывности для полупроводника
- •§ 8 Контактные явления
- •8.1 Работа выхода электрона из металла и полупроводника
- •Термоэлектронная эмиссия
- •8.3. Контакт двух металлов. Внешняя и внутренняя разности потенциалов.
- •8.4. Термоэлектрические явления
- •Электронно-дырочный переход
- •8.5.1. Электронно-дырочный переход в состоянии равновесия
- •8.5.2. Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- •8.5.3 Уравнение вольтамперной характеристики электронно-дырочного перехода.
- •8.5.4. Емкостные свойства электронно-дырочного перехода.
Электронно-дырочный переход
8.5.1. Электронно-дырочный переход в состоянии равновесия
Рассмотрим монокристаллический полупроводник у которого одна область легирована акцепторной примесью, а другая донорной (рис. 8.12).
М
ежду
электронной и дырочной областями
кристалла существует тонкий переходной
слой δ, который называется электронно-дырочным
переходом или р-n
переходом. Электронно-дырочный переход
обладает резистивными, емкостными,
выпрямительными свойствами, что позволяет
его использовать в качестве основного
структурного элемента большинства
дискретных полупроводниковых приборов
(диодов, транзисторов и др.) и интегральных
микросхем.
По характеру распределения и соотношению концентраций донорных и акцепторных примесей в р- и n – областях р-n структуры различают резкие (рис. 8.13 а), плавные (рис. 8.13 в), симметричные (рис. 8.13 а) и несимметричные (рис. 8.13 б) р-n переходы.
Б
удем
считать, что в р-n
структуре создан несимметричный резкий
р-n
переход с распределением донорных и
акцепторных примесей, представленном
на рис. 8.14 б.
При комнатной температуре примесные атомы практически полностью ионизированы, поэтому в несимметричном резком р-n переходе (рис. 8.13 б) при NA >>ND из условия электрической нейтральности для р- и n- областей могут быть записаны равенства
,
(8.11)
,
(8.12)
К
онцентрации
основных носителей заряда в р- и
n
– областях в основном определяются
концентрациями примесных атомов, поэтому
равенства (8.11)
и (8.12)
можно записать в виде
,
(8.13)
.
(8.14)
Концентрации неосновных носителей заряда могут быть найдены из закона действующих масс (7.23)
,
(8.15)
.
(8.16)
Из
(8.15) и (8.16) следует, что
(эффект подавления неосновных носителей).
Поскольку
и
,
то на границе р- и
n-
областей существует градиент концентрации
электронов и дырок, вызывающий диффузионный
ток дырок
из р- области в n-
область и электронов из
n-
области в р- область. Диффузионный ток
основных носителей нарушает
электронейтральность областей кристалла,
прилегающих к сечению х = 0, в котором
изменяется тип примесей (рис. 8.14 б).
Это сечение называется металлургическим переходом. Сечение, в котором выравниваются концентрации электронов и дырок (n = P = n0 = P0), называется физическим переходом (сечение, проходящее через точку 1 на рис. 8.14 б).
В р – области, в слое толщиной δp, остается нескомпенсированный отрицательный заряд ионов акцепторной примеси, а в n- области, в слое толщиной δn, остается нескомпенсированный положительный заряд ионов донорной примеси (рис. 8.14 в). В результате в р-n переходе создается электрическое поле, направленное от n- области к p- области (рис. 8.14 а), которое вызовет дрейфовый ток неосновных носителей заряда. В отсутствии внешнего электрического поля в переходе устанавливается динамическое равновесие между встречными диффузионными и дрейфовыми токами электронов и дырок.
,
(8.17)
.
(8.18)
Рассмотренные процессы приводят к возникновению в р-n переходе контактной разности потенциалов Uk
Для расчета Uk подставим в условие (8.17) плотности дрейфового (7.56) и диффузионного (7.61) токов.
С учетом известного соотношения получим дифференциальное уравнение
(8.19)
Используем соотношение Эйнштейна (7.70), тогда уравнение (8.19) можно записать в виде
(8.20)
Проинтегрируем это уравнение в пределах р-n перехода, используя граничные условия: в р- области φ = φp, P = Pp, в n- области φ = φn, P = Pn. Поэтому, можем записать
Выполняя интегрирование, получим
.
(8.21)
С учетом выражений (8.13) и (8.16) для Pp и Pn контактная разность потенциалов равна
.
(8.22)
Из формулы (8.22) следует, что возникающий в р-n переходе потенциальный барьер eUk тем выше, чем больше концентрация примесей в р- и n – областях. Контактная разность потенциалов определяет сдвиг энергетических уровней в контактирующих р- и n- областях (рис. 8.15).
Н
а
рис. 8.15 а представлены энергетические
диаграммы уединенных полупроводниковых
кристаллов р- и n-
типов. При
образовании р-n
структуры за счет
динамического равновесия процессов
диффузии и дрейфа носителей заряда в
р-n
переходе
возникает потенциальный барьер
,
вызывающий взаимное смещение однотипных
энергетических зон, как это показано
на рис. 8.15 б. На рисунке 8.15 видно, что в
условиях равновесия устанавливается
единый уровень Ферми, а энергетический
барьер имеет высоту:
.
(8.23)
В области перехода энергетические уровни валентной зоны и зоны проводимости расположены наклонно, что связано с существованием электрического поля, которое выталкивает подвижные носители заряда за пределы перехода. По этой причине концентрация электронов и дырок в р-n переходе очень низкая.
Найдем характер изменения концентрации подвижных носителей заряда в р-n переходе. Для этого проинтегрируем уравнение (8.20).
В р- области потенциал равен φр, а концентрация дырок равна РР. Для произвольной точки справа от границы раздела р- области и р-n перехода обозначим потенциал φ, а концентрацию дырок Р, тогда
(8.24)
Выполнив интегрирование, получим уравнение
(8.25)
откуда находим для Р выражение
.
(8.26)
Из выражения (8.26) следует, что при смещении из р- области вглубь р-n перехода концентрация дырок экспоненциально уменьшается (рис. 8.14 б).
Проводя аналогичные расчеты, можно получить выражение для концентрации электронов при смещении из n- области вглубь р-n перехода:
(8.27)
График, описывающий изменение концентрации электронов представлен на рис. 8. 14 б.
Из выражений (8.26) и (8.27) следует, что концентрация подвижных носителей в р-n переходе мала. По этой причине р-n переход является более высокоомной областью р-n структуры. Из-за вытеснения подвижных носителей заряда в р-n переходе существует нескомпенсированный заряд ионизированных атомов акцепторов и доноров. У границ перехода сказывается влияние дырок р- области и электронов n- области (рис. 8.14 в). Суммарные заряды ионов доноров и акцепторов компенсируют друг друга в пределах р-n перехода и в целом он электрически нейтрален.
Рассчитаем изменение напряженности и потенциала электрического поля внутри р-n перехода.
Воспользуемся теоремой Гаусса-Остраградского для вектора в дифференциальной форме:
,
(8.28)
где ρ - объемная плотность заряда.
В одномерном случае уравнение (8.28) принимает вид
.
(8.29)
Учтем,
что в области нескомпенсированного
отрицательного заряда ионов акцепторов
(x <
0, на рис.
8.14 а)
и
,
поэтому выполнив интегрирование в
(8.29) получим:
.
(8.30)
Постоянную
интегрирования найдем, использовав
граничное условие
:
.
(8.31)
Таким образом, для области х < 0 находим
.
(8.32)
В
области нескомпенсированного
положительного заряда доноров (x
> 0, на
рис. 8.14 а)
и
,
поэтому уравнение (8.29) принимает вид:
.
(8.33)
Выполнив интегрирование в уравнении (8.33) получим
.
(8.34)
Постоянную интегрирования найдем, использовав граничное условие E (δn) = 0:
.
(8.35)
Таким образом, для области x > 0 находим
.
(8.36)
На рис. 8.14 д в соответствии с функциями (8.32) и (8.36) построен график изменения напряженности электрического поля внутри р-n перехода.
Для расчета изменения потенциала внутри р-n перехода воспользуемся известным соотношением
. (8.37)
Для области x < 0 (рис. 8.14 а) Ex =E < 0, поэтому соотношение (8.37) должно быть записано в виде
.
(8.38)
Выполнив интегрирование в (8.38), получим:
.
Подставим
в эту функцию E(x)
из формулы (8.32) и используем граничное
условие
,
тогда получим
(8.39)
В области x > 0 (рис. 8.14 а ) Ex =E < 0, поэтому интегрируем уравнение (8.38), подставив в него функцию E(x) из формулы (8.36):
,
откуда
.
(8.40)
Постоянную
интегрирования найдем, использовав
граничное условие
:
.
(8.41)
Таким образом, для области x > 0 получаем
.
(8.42)
На рис. 8.14 г в соответствии с функциями (8.39) и (8.42) построен график изменения потенциала внутри р-n перехода.
Оценим толщину р-n перехода. Исключив влияние подвижных зарядов на нескомпенсированный заряд ионов примесных атомов, условие электрической нейтральности р-n перехода можно записать в виде:
.
(8.43)
Толщину р-n перехода с использованием равенства (8.43) можно представить следующим выражением
(8.44)
Для резкого несимметричного р-n перехода при условии NA >> ND из выражения (8.41) следует, что весь переход окажется смещенным в n – область.
Выражение (8.39) и (8.42) при значении x = 0 должны быть равны друг другу, откуда следует равенство
.
(8.45)
Из
равенства (8.45), учитывая что
(рис. 8.14 г) получаем выражение
.
(8.46)
Преобразуем выражение в скобках (8.46), учитывая формулу (8.44)
(8.47)
Подставим выражение (8.47) в формулу (8.46), тогда получим
откуда, для толщины р-n перехода находим выражение
.
(8.48)
Для несимметричного р-n перехода (NA >> Ng) из формулы (8.48) следует, что
.
(8.49)
Таким образом, толщина р-n перехода уменьшается с ростом концентрации примеси. Оценка толщины р-n перехода для реальных р-n структур дает значения от сотых долей до единиц микрометров.
