
- •Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •Основы визуального органолептического анализа.
- •Основы обонятельного анализа.
- •Основы вкусового анализа.
- •Основы осязательного анализа.
- •Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •Оценка сенсорной чувствительности.
- •10.Метод предпочтения.
- •11.Методы сравнения
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •12 Методы балльной оценки.
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •21. Оптически активные вещества.
- •Характеристика оав
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •24.Сущность нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •Принцип работы.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр.Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен.И количествен. Люминесцентный анализ.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •54Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •62.Фотометрия пламени.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •75,Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •93,94. Качественный и количественный термический анализ. Определение чистоты хим. Веществ методом дта (дифференциальный термический анализ).
- •98. Сенсоры на основе мдп-структур
- •99.Тепловые сенсоры. Термокаталитические сенсоры
17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
Основан
на явлении полного внутреннего отражения,
заключающегося в том, что если луч света
идёт из среды 1 в среду 2, то при некотором
значении угол падения α равен
,
угол преломления β принимает своё
максимальное значение (β=90º(
Луч света, дойдя до поверхности раздела сред, дальше пойдёт вдоль этой поверхности:
=
(0-9)
Если луч света в среде 1 направить под углом > , то он вообще не попадёт в среду 2, а полностью отразившись от поверхности раздела пойдёт по среде 1. - предельный угол.
Главной частью прибора рефрактометра явл-ся 2 прямоугольные призмы, м/у к-рыми помещается небольшое количество жидкости (1-2 капли). Плоскости призм прижимаются друг к другу таким образом, что жидкость растекается м/удиагональными плоскостями призм тонким слоем (0,1-0,2 мм). Затем грань нижней призмы освещается рассеянным светом, отражённым от зеркала. Лучи света проходят ч/з нижнюю призму, затем ч/з слой жидкости и верхнюю призму. Выйдя из верхней призмы, луч света попадает в окуляр зрительной трубы, поворачивая призмы относительно источника света, добивается их такого положения, чтобы 1 часть лучей, вошедших в 1ю осветительную призму, испытывала полное внутреннее отражение на грани раздела, т.е на диагональной плоскости, и поэтому не попадает во 2ю призму и в окуляр, т.е часть окуляра остаётся не освещённой. Другая часть лучей, попадающих на границу раздела нижняя призма-слой жидкости под углом меньше предельного и поэтому попадает в окуляр, т.е освещает другую часть окуляра.
Схема прохождения света в рефрактометре:
Призмы поворачивают до тех пор, пока граница раздела света и тени в окуляре не совпадёт с находящимся в поле окуляра крестом нитей. В этом положении оценивается значение показателя преломления по местоположению границы раздела света на шкале рефрактометра.
42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
Приборы, кот.использ. ИКС-спектрофотометры, кот.состоят из тех же узлов, что и абсорбцион. спектрофотометры для УФ и видим. Областей. Однако они отличаются по констр-ции отдельных узлов и использ. материалов.
Наиб.распростр. источникам ИК излучения явл-ся глобар, кот. предст. собой стержень из карбида кремния, а также штифт Нерста, сост. из смеси оксидов циркония, тария. Источник с неск. более низкой излучат.способностью, но с гораздо большими временем жизни изгот-т из нихромов. проволоки, свернутой в плотную спираль.
Оптич. сис-ма Ик-спектрофотометра изготавливают не из стекла или кварца, кот.погл-т ИК излучения, а из др-х материалов. В оптич. сис-мах вместо линз примен. вогнут.зеркала, т.к. линзы и плоск. Зеркала сами поглощают излучения источника. В качестве монохроматора использую призмы и дифракционные решетки. Для работы в их обл. оптика и призмы изгот-т из галогенидов щелочн. металлов. Напр. литий, фтор и NaCl хорошо излучают ИК излучение. В качестве приемников излучения в этих приборах прим-т:
термоэлементы, кот. предст. собой спай разнородн. металлов , в кот. при нагревании возник. термо-электродвиж. Сила, величина кот.пропорциональна температуре.
Волометры –тепловые, неселективные приемники излучения, в кот. использ-ся тепл. расширение газа , наход. в зачерненной приемн. камере, задняя стенка кот. выполена в виде гибкой пленки с зеркальн. покрытием с внешн. стороны.