
- •2.1 Общие вопросы применения микропроцессоров в измерительной технике
- •2. Улучшение метрологических характеристик приборов
- •4. Принципы автокалибровки
- •5. Целесообразность применения микропроцессоров
- •6. Причины, сдерживающие применение микропроцессоров
- •Архитектура измерительных систем с мп и микроЭвм
- •Подсистема ввода-вывода.
- •Контроллер периферийных событий.
- •Общие сведения
- •Сопряжение ацп с микропроцессором
- •Микропроцессорный время - импульсный вольтметр Первоначальный вариант вольтметра.
- •Лекция 5 Интеллектуальные измерительные и функциональные генераторы
- •5.1 Современная технология построения измерительных и функциональных генераторов
- •5.2 Формирователи синусоидальных сигналов из треугольного
- •5.3 Микросхема функционального генератора мах
- •(Вид сверху)
- •5.4 Функциональные генераторы и частотомеры фирмы Wavetek Meterman
- •5.5 Функциональные генераторы и частотомеры фирмы метех
- •5.6 Программа стыковки приборов метех с компьютером
- •Универсальный мультиметр комплексов
- •Лекция 6 Интеллектуальные портативные цифровые осциллографы
- •Миниатюрные осциллографы объединения актаком
- •Портативные осциллографы фирмы Flulke
- •Скопметры Fluke 105b/99b/96b/92b
- •Графические мультиметры-осцйллографы фирмы веетесн
- •Портативный осциллограф hps40
- •Панельный осциллограф vps10
- •Малогабаритный цифровой осциллограф aps 320
- •Портативный осциллограф-мультиметр dmm-740
- •Портативные осциллографы корпорации Tektronix Серия осциллографов Tektronix ths700
- •Серия осциллографов Tektronix tps2012/2014/2024
- •Портативные осциллографов Tektronix tps2012/2014/2024 с Цифровым люминофором
- •Цифровые осциллографы — ноутбуки фирмы Hitachi
- •Лекция 7
- •7.1 Назначение виртуальных осциллографов и их типы
- •7.2 Виртуальные осциллографы в виде плат расширения пк
- •7.3 Анализатор спектра виртуального осциллографа фирмы
- •7.5 Виртуальные функциональные генераторы фирмы Velleman Функциональные измерительные генераторы
- •Виртуальные функциональные генераторы фирмы Velleman
- •7.6 Создание компьютеризированной лаборатории pc-Lab 2000
- •8.1 Измерительная система и развертывание лаборатории
- •8.2 Автоматические измерения и определяемые параметры сигналов
- •8.3 Предоставление результатов измерений
- •8.4 Настройка графиков
- •8.5 Просмотр табличных данных
- •8.7 Универсальная система сбора данных edx-100a
- •9.1 Интеллектуальные средства измерения магнитных параметров материалов
- •9.2 Интеллектуальные средства измерения линейных и угловых размеров
- •Электромеханический метод
- •Интерферометрический метод
- •9.3. Интеллектуальные средства измерения
- •Характеристики измеряемой величины, классификация методов измерений
- •9.4 Интеллектуальные средства измерения концентрации вещества
Интерферометрический метод
Современные лазерные интерферометры представляют собой многоцелевую измерительную систему, позволяющую в условиях промышленного производства с высокой точностью измерять длину, плоскостность, линейные и угловые перемещения, скорость перемещения объектов и др. Обычно такая система состоит из лазера, набора стандартных оптико-электронных модулей и фотоэлектронного блока обработки информации.
На рисунок 2 показана схема лазерного интерферометра LA3002 , который имеет четыре сменных блока для измерения
Рисунок 2 - Схема лазерного интерферометра
показателя преломления прозрачных сред (а), для бесконтактных измерений линейных (б) и угловых (в) перемещений и для линейных измерений (г).
Для уточнения показателя преломления воздуха пв и учета температурных изменений размеров интерферометра и объекта используется блок автоматической коррекции, куда поступают результаты измерений температуры Тв и давления воздуха рв, а также температуры отдельных узлов (Т1, Т2).
Для измерения угловых перемещений объектов применяется дифференциальный интерферометр (рисунок 2, е) состоящий из светоделителя и двойного уголкового отражателя, связанного с объектом.
Угол поворота определяется по формуле
φ= N·λ / (2b),
где b — расстояние между центрами зеркал уголкового отражателя. Метод обеспечивает измерения малых угловых перемещений с погрешностью 0,2-—2".
Контроль плоскостности поверхностей основан на анализе интерференционной картины, получаемой в результате интерференции опорного луча, отраженного от образцового плоского зеркала, и луча, отраженного от исследуемой поверхности объекта. При наличии неплоскостности поверхности наблюдается искривление интерференционных полос, параметры которых используются для определения значения отклонения от неплоскостности:
∆h = λ ·∆m / (2m cos α ),
где λ — длина волны излучения лазера; α — угол падения луча на контролируемую поверхность; ∆m — параметр, характеризующий искривление интерференционной полосы; m — ширина полосы.
Такой бесконтактный способ обеспечивает измерение параметров неплоскостности поверхности с погрешностью в десятые доли длин волн при среднем отклонении профиля не более чем 0,32 мкм.
Измерение скорости перемещения объекта лазерным интерферометром осуществляется путем определения расстояния, проходимого объектом (подвижным отражателем) за известный интервал времени. Значение начального расстояния запоминается и вычитается из нового значения расстояния через заданный интервал времени. Результаты измерений выдаются дискретно с часто- той десять измерений в секунду.