Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
МУ_МСС_ЛР_бакалавры_2013.docx
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.04.2025
Размер:
465.54 Кб
Скачать

6.2.1 Образцы (эталоны) шероховатости поверхности

Рабочие образцы шероховатости поверхности представляют собой наборы металлических брусков с плоской или цилиндрической рабочей поверхностью, обработанной различными способами при определенных режимах. Образцы должны изготовляться из того же металла, тем же методом обработки и иметь ту же форму, что и контролируемая деталь.

Работа с образцами. Выбрать соответствующие комплекты образцов шероховатости. Промыть авиационным бензином измерительные поверхности образцов и детали, затем протереть их мягкой тканью. Приложить образцы шероховатости поверхности к поверхности контролируемой детали, сравнить их визуально и определить какой образец из комплекта по качеству обработки наиболее близко совпадает с шероховатостью поверхности контролируемой детали.

6.2.2 Двойной микроскоп в.П. Линника мис-11

Двойной микроскоп МИС-11 предназначен для измерения по параметру Rz и фотографирования шероховатости поверхности в пределах 3-9-го классов чистоты включительно. Прибор обеспечивает увеличение от 9 до 270 раз. Контроль шероховатости поверхности производится по методу светового сечения. Поле зрения от 0,3 до 1 мм. Пределы измерений прибора определяются выбором соответствующих объективов в зависимости от шероховатости контролируемой поверхности (таблица 6.2).

Таблица 6.2 Выбор объективов МИС - 11 в зависимости от шероховатости (класса чистоты) контролируемой поверхности

Класс чистоты (Rz)

Шифр объектива

Фокусное расстояние объектива, мм

Кратность увеличения

Погрешность измерения, %

3 - 6 (80..6,3)

ОС - 39

25,0

5,9; 1,8

6 - 22

5 - 7 (20..3,2)

ОС - 40

13,9

10,6

10 - 25

6 - 8 (6,3..1,6)

ОС - 41

8,2

18,0

12 - 30

8 - 9 (3,2...0,8)

ОС - 42

4,3

34,5

25 - 32

Подробное описание прибора МИС-11 и принципа его работы даны в литературных источниках [1], [2]. После ознакомления с микроскопом работа по измерению высоты микронеровностей Rz проводится в следующей последовательности. Ввернуть в тубусы микроскопа два одинаковых объектива, подобранных с учетом ожидаемого класса чистоты контролируемой поверхности. Положить контролируемую деталь на столик микроскопа и включить освещение. Круглой гайкой установить корпус на требуемую высоту (расстояние между контролируемой поверхностью и объективами должно быть в пределах 10 мм) и застопорить винтом. Винтами грубой и точной настройки добиться получения четкой фокусировки изображения световой щели. Поворотом микровинта окулярного микрометра подвести горизонтальную линию перекрестия к вершине, а затем к впадине изгиба щели. Высота неровностей в данном сечении определяется по формуле

где а - разность показаний окулярного микрометра, мкм;

М - увеличение объективов, установленных на микроскопе.

Величина Rz определяется как среднеарифметическое из пяти наибольших значений h на длине участка измерений.