3. Метод появления чувствительных линий

Предварительно составляют таблицу по спектрам стандартных образцов, в которой указан порядок появления аналитических линий определенного элемента по мере увеличения его концентрации. Из анализа спектрограммы пробы устанавливают количество и длины волн заданного элемента. Сравнивая полученный результат с данными, сведенными в таблицу, устанавливают концентрацию анализируемого элемента.

Порядок выполнения работы

1. Зарегистрировать эмиссионный спектр пробы и трех стандартных образцов на железной основе через девятиступенчатый ослабитель.

2. Пользуясь атласом железа, с помощью спектропроектора СП-1 построить по полученной спектрограмме градуировочный график спектрографа.

3. Провести качественный анализ пробы на заданный элемент.

4. Методом однородных дублетов и методом визуального сравнения почернений с помощью микроскопа МИР-12 провести полуколичественный анализ на заданный элемент.

Литература

1. Е.Г. Орешникова. Спектральный анализ. М.1982.

2. И.М. Нагибина, Ю.К. Михайловский. Фотографические и фотоэлектрические спектральные приборы и техника эмиссионной спектроскопии. Л.1981.

3. В.С. Бураков, А.Я. Янковский. Практическое руководство по спектральному анализу.

5