
- •1.Понятие о форме и размерах земли. Географические координаты.
- •2. Географическое координаты
- •3.Понятие о картографических проекциях. Классификация проекций по способу построения и по характеру искажений.
- •4 Вопрос: Равноугольная поперечная цилиндрическая проекция Гаусса.
- •5. 6° И 3° зоны. Прямоугольные координаты Гаусса. Процесс преобразования прямоугольных координат.
- •6.Масштаб изображения и искажения длин линий проекции Гаусса.
- •8. Искажение площадей в проекции Гаусса.
- •10. Номенклатура листов топограф. Карт мелких, средних, крупных масштабов.
- •11.Вычисление координат вершин трапеции м. 1:10000 в пр. Гаусса.
- •12. Способы получения размеров по меридиану и параллели литсов топограф. Карт мелких и ср. М. В градусной мере.
- •13. Определ. Дирекционного угла и длины линии между двумя точками на топограф. Карте графич. И графоаналитич. Методами.
- •14. Сущность и виды геодезических измерений.
- •15. Классификация ошибок измерений. Св-ва случ. Ошибок изм.
- •17. Математическая обработка равноточных измерений арифметическое среднее, ско арифмет. Середины.
- •19.Оценка точности результатов многократных, равноточных измерений одной и той же величины по вероятнейшим поправкам. Формулы, порядок вычислений.
- •20.Оценка точности результатов равноточных измерений по разностям двойных измерений. Формулы, порядок вычислений.
- •26. Неравноточные измерения. Веса измерений и их св-ва. Вес арифм. Середины.
- •27. Вес дир. Угла n-ой стороны теодолитного хода.
- •28. Вес суммы превышений нивелирного хода. Вывод формулы.
- •29. Вес линии, изм. Лентой и нитяным дальномером. Вывод формулы.
- •30.Ско единицы веса по истинным ошибкам и вероятнейшим поправкам.
- •33. Оценка точности по разностям двойных неравноточных измерений, если веса каждой пары измерений одинаковы (в случае влияния систематич. Ош. И в случ. Отсутствия влияния системат. Ош.).
- •34.Оценка точности по разностям двойных неравноточных измерений, если веса каждой пары измерений не одинаковы.
- •35. Определение весового среднего и его ско. Веса функций измеренных величин.
- •36. Характеристика качества планово - картограф. Материала. Понятие о детальности, полноте и точности п-к м.
- •37. Точность определения площадей, превыш. И уклонов по топограф. Карте.
- •38.Точность расстояний и площадей, опр. По плану.
- •39.Точность определения направлений и углов по плану.
33. Оценка точности по разностям двойных неравноточных измерений, если веса каждой пары измерений одинаковы (в случае влияния систематич. Ош. И в случ. Отсутствия влияния системат. Ош.).
Имеем ряд 2-ых равноточ. изм. каждое соответствующее весу.
x
1,x2,…,xn
x1',x2',…,xn'. Pxi≈ Pxi≈ Pi
di=xi-xi'
mdi2=mxi2+ mxi2
xi= (xi+xi')/2
mxi2=1/4(mxi2+ mxi2)
1/Pxi=1/4((1/Pxi)+(1/Pxi'))=Pxi=Pxi=Pi
1/Px=1/4(1/Pi)+(1/Pi')
Px=2Pi
Тогда при отсутствии системных ошибок и несущ. их влияния ошибка единицы веса через истинные ошибки будет равна:
μ∆=√([P∆2]/n)
∆=d
μd=√([Pd2]/2n)
mx=μ/√2Pi
Если влияние систематической ошибки велико то находят систематич. ошибку разности двойных неравноточных измерений.
Ѳ=[Pd]/P
∂i=di-Ѳ
μ=√([Pd2]/(2(n-1)))
Все вычисления контролируются по формулам:
[Pv]=0; [Pv] ≠ 0; [Pv]=[P]w, w=Lточ-Lокр
34.Оценка точности по разностям двойных неравноточных измерений, если веса каждой пары измерений не одинаковы.
Pxi ≠ Px'i
Среднее значение считаем через обратные веса.
1/Pi=1/Pxi+1/Pxi'=(Pxi+Pxi')/(Pxi+Pxi')
PxiPxi'/(Pxi+Pxi')
x=(Pixi+Pi'xi')/(Pi+Pi')
P∑= Pi+Pi'
Pi= Pi'-P
P∑=[P]
μ=√([Pd2]/2n)
Все вычисления контролируются по формулам:
[Pv2]=[PvE], если [Pv2] ≠[PvE], то [Pv2]=-[PE]w
35. Определение весового среднего и его ско. Веса функций измеренных величин.
Пусть имеется несколько групп равноточ. измерений одной и той же величины:
l1',l2',…,ln'
l1",l2",…,ln"
l1n,l2n,…,ltn.
Соответственно производились изм.: а изм. L1=[l']/a, b изм. L2=[l'']/b, t изм. Ln=[ln]/t.
Среднеарифметическое из всех результатов измерения определится как L=(L1a+L2b+…+Lnt)/(a+b+…+t)
Т.к. вес среднегоарифм. пропорционален числу изм. P≈n то вместо знач а, b,..., t можно принять пропорциональные им веса. LB=(L1P1+L2P2+…+LnPn)/(P1+P2+…+Pn)=[LiPi]/[Pi].
Рабочая ф. LB=l0+([P∆L]/[P]), где ∆L=L-L0, где L0- наименьшее из всех результатов.
СКО единицы веса через поправки(по вероятнейшим ошибкам):
μ=√([Pv2]/(n-1))
Ошибка весового среднего через ошибку ед. веса:
Мв= μ/√[P]
Мв=√([Pv2]/([P](n-1)))
Ошибка самой ошибки:
mμ=μ/(√(2(n-1)))
Если известны веса аргументов, то можно найти вес самой ф-и:
Р=1/m2; P=1/δ2; m2=1/P.
Обратный вес функции общего вида можно вывести зная величину СКО для функции любого вида:
mU=√(∑(∂ui/∂xi)mxi^2)
1/PU=√(∑(∂u/∂x)^2*1/Pxi)
Линейная функция с постоянными множителем.
U=∑KiXi
1/Pu=∑Ki*1/Px
U=∑(+- xi)
1/Pu=∑1/Pxi
P1=P2=…=Pn
1/PU=k/P; PU=Px/n.
36. Характеристика качества планово - картограф. Материала. Понятие о детальности, полноте и точности п-к м.
К видам планово-картограф. материалов можно отнести:1Топграф. планы ,получ. наземными способами или аэрофотоъемки.2Контурные планы используются в качестве составл. проектов землеустройства и проведения земельн.кадастровых раб. 3Планы стереофотограмметрич. нземной съемки. 4Планы тахеометрич. съемок, а также нивелирований поверхности. 5Цифровые модели местности(ЦММ-совокупность точек с числовыми выражениями плановых и высотных координат, расп. по опр. правилу). Они создаются по матер. наземных или возд. съемок и служат основой для автоматизации инженерн. расч. при проектиров. с прим.современных технологий, а также для составл. банка данных. Планы и карты получ. в рез. разл. видов съемок имеют разную детальность и полноту. Детальность-степень подобия изобр. на плане всех изгибов и извилин контуров ситуации и рельефа. При отсутствии детальности говорят – изображение обобщено. Детальность зависит от масштаба. Наибольшей детальностью обладают планы, получ. методом наземной и воздушной съемки и лазерным сканированием. Детальность наземной съемки зависит от искусства исполнителя. Полнота-степень насыщенности плана объектами местности, изобр. кот. на плане необходимо и при данном масштабе и высоте сечения рельефа необходимо и возможно. Точность-велич. СКО положение контурной точки на плане относит. ближайшего контура геод. обоснования как в плановом так и в высотном полож. Точность зависит от масштаба, не зависит от методов съемки.
mh=0.19hc+1.6*10^-4Mi, где hc-высота сеч. рельефа, М-знаменатель масштаба, i-уклон.