
- •1. Предмет фтт. Основные проблемы фтт.
- •2. Классификация твердых тел. Типы связи.
- •4. Молекулярные кристаллы(мк). Ионные кристаллы(ик).
- •6. Ковалентные кристаллы (кк). Металлы. Плотнейшие упаковки.
- •7. Кристаллические решетки. Вектор трансляции. Элементарная ячейка. Примитивная ячейка Вигнера-Зейтца.
- •8. Решетки Браве. Сингонии. Индексы Миллера.
- •9. Элементы симметрии кристаллов. Точечная группа симметрии. Пространственные группы симметрии.
- •10. Дифракция в кристаллах. Закон Вульфа-Брэгга. Основные дифракционные методы.
- •11. Обратная решетка: свойства, физический смысл.
- •12. Зоны Бриллюэна.
- •13. Классификация дефектов кристаллического строения.
- •14. Точечные дефекты: основные типы, равновесная концентрация, дефекты Шоттки и Френкеля.
- •15. Центры окраски. Радиационные дефекты.
- •16. Краевые дислокации. Винтовые дислокации.
- •17. Контур и вектор Бюргерса. Энергия дислокации. Источники дислокаций.
- •18. Описание энергетического состояния кристалла при помощи газа квазичастиц. Примеры квазичастиц.
- •Адиабатическое приближение Борна-Оппенгеймера.
- •Валентная аппроксимация
- •Одноэлектронное приближение
- •20. Одноэлектронное приближение. Метод Хартри-Фока.
- •V(r) – периодическая функция, период который совпадает с периодом кристаллической решётки.
- •21. Свойства волнового вектора электрона в кристалле. Свободный электрон и электрон в кристалле. Квазиимпульс. Энергетические зоны.
- •2) Рас электрон в кристалле.
- •22. Энергетический спектр электрона в кристалле. Модель Кронига-Пенни. Случаи сильной и слабой связи.
- •23. Заполнение зон электронами. Металлы, диэлектрики, полупроводники.
12. Зоны Бриллюэна.
Зона Бриллюэна - ячейка Вигнера-Зейнца в обратной решётке.
Физический смысл зон Бриллюэна: в теории электронной проводимости кристалла каждому электрону соответствует волна с длинной λ, которая обратно пропорциональна импульсу электрона:
В обратном
пространстве электрон представляют
точкой, лежащей на волновой нормали на
расстоянии от начала координат, обратно
пропорциональным длине волны λ.
Движение электрона в кристаллической
решётке происходит в 3-х мерном
периодическом силовом поле, поэтому
энергия электрона в кристалле является
периодической функцией волнового
вектора
,
а энергетический спектр электрона
распадается на зоны дозволенных энергий
– зоны Бриллюэна. Это изоэнергетические
(«изо» - постоянство) области, т.е. такие
области, в которых энергия электрона
принимает одинаковые значения.
Первая зона Бриллюэна – область в обратном пространстве, окружающая один из узлов обратной решётки и ограниченная набором плоскостей, проходящих через середины векторов, соединяющих в обратной решётке данную точку с её ближайшими соседями. Первая зона Бриллюэна является зоной с наименьшим объёмом.
В
качестве примера построим первую зону
Бриллюэна для линейной одномерной
решётки. Базисным вектором обратной
решётки в данном случае является вектор
,
длиной
.
Кратчайшие вектора обратной решётки,
проведённой из начала координат –
векторы
.
Линии, перпендикулярные к этим векторам,
и делящими её пополам, задают границы
первой зоны Бриллюэна. На этих границах
,
где а – вектор (модуль вектора) прямой
решётки.
Вторая зона Бриллюэна строится аналогично первой: начало координат соединяется со вторыми ближайшими соседями – для линейной цепочки границы зоны прямые, проходящие через первые ближайшие узлы.
13. Классификация дефектов кристаллического строения.
Любое отклонение от периодической структуры кристалла - дефект кристаллической решётки.
Классификация деффектов осуществляют по геометрич признакам:
Точечные или нуль мерные дефекты – нарушения структуры локализованы в отдельных точках кристалла. Размеры во всех 3-х измерениях не превышают одного или нескольких межатомных расстояний. К точечным дефектам относят:
Вакансии
Атомы в междоузлиях
Атомы примесей в узлах или междоузлиях
Сочетания примесь – вакансия
Сочетание примесь – примесь
Двойные и тройные вакансии
Линейные или одномерные дефекты. Характеризуются тем, что нарушения периодичности простираются в одном измерении на расстоянии, много большем параметра решётки, а в двух других измерениях – не превышают нескольких параметров. К ним относятся:
Дислокации
Микротрещины
Неустойчивые линейные дефекты из цепочек точечных дефектов
Поверхностные или двухмерные дефекты. В двух измерениях имеют размеры, сравнимые с размерами кристаллов, а в третьем – не превышают нескольких параметров решётки. К ним относятся:
Границы зёрен
Дефекты упаковки
Межфазные границы
Стенки доменов
Поверхность кристалла
Объёмные или трёхмерные дефекты. В трёх измерениях имеют размеры, намного превышающие параметры решётки. К ним относятся:
Микропустоты
Включения другой фазы