
- •1. Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
- •3. Основы обонятельного анализа.
- •4. Основы вкусового анализа.
- •5. Основы осязательного анализа.
- •6. Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •10. Метод предпочтения.
- •11. Методы сравнения
- •12 Методы балльной оценки.
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •21. Оптически активные вещества.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр. Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен. И количествен. Люминесцентный анализ.
- •50.Оптическая схема возбуждающей ветви фотометра люминисцентного анализа.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •53. Способы атомизации веществ. Дуга
- •54 Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •61.Количественный атомно-эмиссионный анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий
- •62.Фотометрия пламени.
- •65. Электротермические атомизаторы.
- •68 Количественный аа анализ. М-д аас ( атомно- абсорбционной спектроскомии)
- •70. Возбуждение атомных электронов рентгеновским излучателем
- •71. Рентгетно-флуарисцентный анализ
- •72. Рс состоит из:
- •75 Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •88.Комбинированные термопары
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •96.Понятие химический сенсор. Классификация сенсоров.
- •1 .Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
84. Схема растрового электронного микроскопа
Для прямого микроскопического исследования поверхности материала применяют растровую(сканирующую) электронную микроскопию. Этот метод чаще всего применяется для изучения изломов на поверхности или прокоррозированных поверхностей. Другое применение этот метод находит в микроэлектронике для получения изображений распределения электронных зарядов с высоким разрешением, что позволяет наблюдать за микроскопами.
Схема растрового электронного микроскопа:
1 –источник электронов; 2,3 – конденсорные эл/магнитные линзы; 4 – отклоняющаяся катушка; 5 – образец; 6 – детектор; 7 – усилитель; 8 – блок изображения
Принцип работы: электроны, которые поступают от источника 1, с помощью двух электронно-магнитных линз 2 и 3 фокусируются на диаметре приблизительно 500 нм. Отклоняющаяся катушка 4 попеременно перемещает этот луч вверх/вниз, за счёт чего происходит сканирование электронного луча на поверхности образца 5. Там электронный луч встречается и взаимодействует с атомами образца, при этом падающие электроны упруго и неупруго рассеиваются. Возникают рентгеновские и световые лучи, а также вторичные электроны. Все эти сигналы от образца поступают в детектор 6. Усилившись в усилителе 7 в блоке8 фиксируется изображение, при этом используются отражённые электроны, которые выходят из слоя толщиной до 10 мкм и позволяют получить информацию по топографии рельефности и о содержании электронов на этой поверхности. Вторичные электроны в основном абсорбируются(поглощаются). Они выходят из области, непосредственно примыкающей к самой поверхности, и позволяют получить самое высокое разрешение до 10 нм.
85. Термический анализ
К термическим свойствам материалов относятся: теплопроводность, теплоёмкость, огнестойкость, термостойкость, коэффициент термического расширения. Все эти свойства используются при оценке ряда показателей качества материалов и изделий. Для идентификации вещества используют термический анализ – методы, в которых используется зависимость какого-либо параметра системы (масса, теплоёмкость) от температуры при нагревании или охлаждении этой системы, если этот параметр зависит от температуры. Методы термического анализа получили широкое применение для научных исследований и практике, так как они обладают высокой чувствительностью и объективностью при оценке термических характеристик веществ. Эти методы позволяют получить информацию о строении, составе и свойствах твёрдых тел и жидкостей; о физических и химических процессах, которые протекают в веществах при нагревании и охлаждении. Они позволяют с достаточной точностью определить некоторые физико-химические величины(энтальпию-теплосодержание) химических реакций и фазовых превращений, теплоёмкость материалов. Позволяет установить кинетические параметры гомо- и гетерогенных химических реакций, изменение скорости реакции.
Для проведения термического анализа не требуется сложного и дорогостоящего оборудования. При этом часто эти методы технически очень просто осуществлять.
В зависимости от измеряемого параметра методы термического анализа подразделяются:
1)дифференциальный термич. анализ, который основан на изменении энтальпии вещества при нагревании (охлаждении).
2)термогравиметрический анализ, основанный на изменении массы вещества при его нагревании.
3)дилатометрический анализ, основанный на изменении размеров образца при нагревании.
4)термоэлектрометрический анализ, основанный на изменении электрофизических свойств образца при нагревании.
Графическая зависимость определяемого свойства вещества от температуры в термич. анализе – термограмма.
Из перечисленных 4-х методов анализа наибольшее распространение получили 1и 2.