- •1. Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
- •3. Основы обонятельного анализа.
- •4. Основы вкусового анализа.
- •5. Основы осязательного анализа.
- •6. Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •10. Метод предпочтения.
- •11. Методы сравнения
- •12 Методы балльной оценки.
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •21. Оптически активные вещества.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр. Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен. И количествен. Люминесцентный анализ.
- •50.Оптическая схема возбуждающей ветви фотометра люминисцентного анализа.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •53. Способы атомизации веществ. Дуга
- •54 Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •61.Количественный атомно-эмиссионный анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий
- •62.Фотометрия пламени.
- •65. Электротермические атомизаторы.
- •68 Количественный аа анализ. М-д аас ( атомно- абсорбционной спектроскомии)
- •70. Возбуждение атомных электронов рентгеновским излучателем
- •71. Рентгетно-флуарисцентный анализ
- •72. Рс состоит из:
- •75 Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •88.Комбинированные термопары
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •96.Понятие химический сенсор. Классификация сенсоров.
- •1 .Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
Плазма – частично или полностью ионизированный газ, который образуется в результате термической ионизации атомов и молекул при высоких температурах под действием электромагнитных полей большой напряженности при облучении газа под токами заряженных частиц.
Суммарная концентрация электронов и отрицательных ионов равна концентрации положительных ионов, вследствие чего его результирующий пространственный заряд равен нулю.
Для получения ИСП используют высокочастотный генератор с рабочей частотой 27-56 МГц и с потребляемой мощностью 1-1,5 КВт с использованием специальной горелки, которая называется трехтрубчатый плазматрон.
Основные достоинства спектроскопии с ИСП:
1) возможность определения в аргоновой плазме практически всех элементов
2) возможность определять как основные элементы, так и следовые количества элементов примесей с помощью единых градуировочных графиков
3) возможность проведения многоэлементного анализа одновременно (20-40 элементов)
4) для анализа используют малые объемы пробы
5) низкие пределы обнаружения
6) хорошая атомизация метода и воспроизводимость результатов.
Недостатки:
1) полученные спектры имеют большое количество линий, которые принадлежат атомам, а также одно- и двухзарядным ионам
2) для анализа можно использовать растворы.
56.Анализаторы (монохроматоры)
Это устройства, предназначенные для разделения светового пучка на составляющие монохроматические компоненты.
Основными элементами анализаторов являются призмы и дифракционные решетки. В самых простых приборах применяется узкая полоса пропускания.
Основной задачей спектрального прибора является выделение характеристических спектральных линий, принадлежащих отдельным элементам, и которые входят в состав анализируемого вещества.
Устройство и принцип работы анализаторов
Дисперсионные спектральные приборы (анализаторы) состоят из трех основных частей:
1) входного коллиматора
2) диспергирующего элемента
3) выходного коллиматора с фиксирующим объективом
Принципиальная оптическая схема анализатора:
1 – источник света
2 – входная щель
3 – коллиматорный объектив
4 – призма
5 – фокусирующий объектив
6 – фокальная плоскость
Принцип работы:
Свет от источника 1 проходит через входную щель 2, в виде расходящегося пучка попадает на коллиматорный объектив 3. Пройдя объектив, лучи становятся параллельными. Эти параллельные лучи, пройдя через призму 4 распадаются на множество параллельных пучков света различной длины волны.
Как известно, показатель преломления призмы с увеличением λ уменьшается, поэтому призма отклоняет короткие волны больше, чем длинные, т.е. можно сказать, что призма диспергирует лучи света.
Фокусирующий объектив 5 собирает лучи каждой длины волны в соответствующих местах своей фокальной плоскости 6, на которой получается ряд изображений освещенного участка входной щели 2 в виде узких прямоугольников, параллельных друг другу. Эти узкие полоски и являются спектральными линиями.
В качестве диспергирующего элемента кроме призм используют дифракционные решетки, которые представляют собой совокупность большого числа регулярно расположенных штрихов (каналов, щелей, выступов), нанесенных на плоскую либо вогнутую поверхность.
