
- •1. Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
- •3. Основы обонятельного анализа.
- •4. Основы вкусового анализа.
- •5. Основы осязательного анализа.
- •6. Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •10. Метод предпочтения.
- •11. Методы сравнения
- •12 Методы балльной оценки.
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •21. Оптически активные вещества.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр. Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен. И количествен. Люминесцентный анализ.
- •50.Оптическая схема возбуждающей ветви фотометра люминисцентного анализа.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •53. Способы атомизации веществ. Дуга
- •54 Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •61.Количественный атомно-эмиссионный анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий
- •62.Фотометрия пламени.
- •65. Электротермические атомизаторы.
- •68 Количественный аа анализ. М-д аас ( атомно- абсорбционной спектроскомии)
- •70. Возбуждение атомных электронов рентгеновским излучателем
- •71. Рентгетно-флуарисцентный анализ
- •72. Рс состоит из:
- •75 Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •88.Комбинированные термопары
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •96.Понятие химический сенсор. Классификация сенсоров.
- •1 .Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
79. Разрешающая способность микроскопа.
Разрешающая способность микроскопа определяется как расстояние d между двумя соседними деталями объекта, которые могу быть непосредственно раздельно отличимы друг от друга. Разрешающую способность микроскопа можно также рассчитать по уравнение Аббе:d=λ/A, где λ- длина волны света, которая используется для освещения объекта. А- цифровая апертура объектива. А=n*sinα, где n-оптический коэффициент преломления среды между объективом и объектом. α - половинный угол раскрытия пучка лучей поступающих в объектив.
Разрешающая способность микроскопа тем лучше, чем больше апертура А, и чем меньше длина волны света. Как известно λ видимого света находится в пределах между 0,4-0,8 мкм, половинный угол раскрытия имеет максимальное значение 72 о, коэффициент приломления воздуха n=1, если подставить эти величины в уравнение то получиться величина разрешающей способности объектива порядка 0,2 мкм d= λ/ n*sinα. Величина цифровой апертуры А имеет значение при выборе окуляра или
С помощью закона Аббе находят полезное увеличение оптических микроскопов. Оно как правило в 500-1000 раз больше цифровой апертуры. Применение больших увеличений нецелесообразно, так как при этом более мелкие подробности остаются незамеченными.
80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
Cв-ва металлов и кристаллических материалов зависят от количества, размеров, формы и расположения структурных составляющих. Изучаемую структуру можно оценивать количественно. Для получения количественных характеристик структуры материала используют 3 группы способов: точечный, линейный, плоскостной анализы
Точечный анализ служит для определения объёмных долей одной из фаз в многофазных материалах. Этот анализ можно применить в тех случаях, когда объёмная доля определённой фазы не превышает 15%. При точечном анализе определяют число точек на структурном поле, приходящиеся на поверхность определённой фазы Рх, а затем определяют общее количество точек Р.Объёмная доля V=PxP×100%.
Линейный анализ используется чаще. Для его проведения в поле зрения размещают большое количество прямых линий с известной общей длиной L, затем посчитывают число зёрен в плоскости шлифа, которые пересекают эти прямые линии. Отношение общей длины линии L к числу пересечений nL даёт размер зерна l=LnL.
Для количественной характеристики структуры используют анализ площадей. Этот анализ наряду с распределением отдельных фаз по объёму позволяет получить данные о средней площади поперечного сечения зёрен. С этой целью используют метод круга. На фотке шлифа рисуют произвольно окружность с диаметром D и выражают его 1 мм. Затем, учитывая масштаб фотки(изображения), который обозначается В, который представляет собой размерность [мкммм] – количество мкм, содержащееся в 1 мм изображения шлифа. Если D в мм умножить на масштаб →реальный действительный диаметр круга в мкм. Затем рассчитывают S круга, ограниченную этой окружностью S=π(D)24 [мкм2].
Затем подсчитывают количество зёрен, которые полностью находятся внутри круга(Z). Потом подсчитывают число зёрен, пересечённых окружностью(n). Общее число зёрен N, которые находятся внутри круга, равно 0,67хn+Z, где 0,67 – коэффициент, который учитывает ту часть пересечённых зёрен, которая находится внутри круга. Средняя площадь зерна t=SN [мкм2].