- •1. Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
- •3. Основы обонятельного анализа.
- •4. Основы вкусового анализа.
- •5. Основы осязательного анализа.
- •6. Подбор дегустаторов. Требования, предъявляемые к ним.
- •10. Метод предпочтения.
- •11. Методы сравнения
- •12 Методы балльной оценки.
- •13.Классификация оптических методов. Их характеристики.
- •14.Физические основы рефрактометрии.
- •15. Определение строения вещества с помощью коэффициента преломления.
- •16.Принцип действия рефрактометров.
- •17.Схема прохождения света в рефрактометре Аббе.
- •18. Схема рефрактометра ран. Принцип работы.
- •19.Практическое применение рефрактометров.
- •20.Поляризованный свет.
- •21. Оптически активные вещества.
- •23.Схема прохождения света при проведении поляриметрического анализа.
- •25. Приборы для нефелометрического анализа.
- •26. Применение нефелометрического и турбидиметрического анализов.
- •27. Устройство и принцип работы фотонефелометра.(фн-р)
- •28. Основы спектроскопии.
- •29. Классификация спектр. Методов:
- •30. Основы теории оптических атомных спектров. Строение оптических спектров.
- •31.Схема энергетических состояний атомов.
- •32. Спектр поглощения и излучения химических элементов.
- •33.Основы теории молекулярных спектров.
- •34. Физические основы фотометрии
- •35. Виды спектров в фотометрии.
- •36. Количественный фотометрический анализ.
- •37. Приборы для фотометрического анализа
- •38. Применение фотометрии.
- •39. Физические основы ик-спектроскопии.
- •40.Основные характеристики ик-спектров.
- •41.Подготовка проб к анализу в ик-спектроскопии.
- •42.Особенности конструкций ик-спектрометров.
- •43.Интерпритация ик-спектров.
- •44.Физические основы люминисценции.
- •45.Люминисцентный анализ.
- •46.Возникновение люминисценции.
- •47.Электронные спектры поглощения и спектры люминесценции (излучения)
- •48. Выход и гашение люминесценции
- •49. Качествен. И количествен. Люминесцентный анализ.
- •50.Оптическая схема возбуждающей ветви фотометра люминисцентного анализа.
- •51.Блок-схема атомно-эмиссионного спектрометра
- •52.Устройство атомизации вещества и возбуждения спектров
- •53. Способы атомизации веществ. Дуга
- •54 Лампа с полым катодом
- •55.Индуктивно-связанная плазма (исп)
- •56.Анализаторы (монохроматоры)
- •57.Способы детектирования излучения.
- •58.Фотоэлектрическое детектирование.
- •59.Расшифровка спектров атомной эмиссии.
- •60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
- •61.Количественный атомно-эмиссионный анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий
- •62.Фотометрия пламени.
- •65. Электротермические атомизаторы.
- •68 Количественный аа анализ. М-д аас ( атомно- абсорбционной спектроскомии)
- •70. Возбуждение атомных электронов рентгеновским излучателем
- •71. Рентгетно-флуарисцентный анализ
- •72. Рс состоит из:
- •75 Детекторы, газоразрядная трубка, полупроводниковый детектор.
- •76, Качественный и количественный рентгеноспектральный анализ и его применение
- •77.Оптическая микроскопия. Подготовка образцов.
- •78. Устройство и принцип действия оптических микроскопов.
- •79. Разрешающая способность микроскопа.
- •80. Количественная металлография. Точечный, линейный и плоскостной анализы структуры материала
- •81. Устройство и принцип действия электронного микроскопа
- •82. Получение изображения в электронном микроскопе
- •83. Подготовка образцов для просвечивающей микроскопии
- •84. Схема растрового электронного микроскопа
- •85. Термический анализ
- •86. Дифференциальный термический анализ.
- •87. Дифференциальные кривые нагревания.
- •88.Комбинированные термопары
- •89.Термогравиметрический анализ.(тгма)
- •90. Диф. Термогравиметрическая кривая (дтг)
- •96.Понятие химический сенсор. Классификация сенсоров.
- •1 .Органолептический анализ. Классификация его видов.
- •2. Основы визуального органолептического анализа.
60.Структура атласа спектров и таблиц спектральных линий. Аналитические линии спектра элемента.
Для того, чтобы установить принадлежность спектральной линии химическому элементу, используют таблицы спектральных линий и атласы спектров. Таблицы содержат перечень линий спектров химических элементов с указанием длин волн и интенсивности спектральной линии, выраженной в относительных единицах по 10-ти балльной системе. Атласы спектральных линий содержат увеличенные фотографические изображения спектров химических элементов, на которых в виде шкалы указаны длины волн. В нижней части планшета изображена шкала длин волн спекторгафа. Выше расположен спектр чистого железа. Длину волны любой линии железа можно грубо определить по этой шкале и при необходимости уточнить её длину по таблице спектральных линий. Над спектром железа расположены вертикальные прямые линии на этом же планшете, которые показывают положение наиболее интенсивных спектральных линий других элементов относительно линии спектра железа.
Около символа химического элемента сверху справа приведена интенсивность спектральной линии: для золота – 5, меди – 3 в баллах. Снизу под символом дана длина волны. В нижней части символа справа римскими цифрами указывают состояние ионизации. Например, I – неионизирующий элемент, II – однозарядный, III – двухзарядный.
Аналитические линии спектра элемента. Т.к. число линий в спектре некоторых элементов очень велико, то для качественного анализа нет необходимости определять длины волн всех спектральных линий в спектре пробы. Достаточно установить наличие или отсутствие в спектре аналитических линий, которые ещё называют последними линиями. Аналитические линии – спектральные линии, которые при уменьшении содержания элемента в пробе исчезают последними. Длины волн и интенсивности этих линий приводятся в таблицах и атласах спектров. В таблицах их обозначают буквами , , или , , , где цифра внизу означает: 1 – линия исчезает последней, 2 – предпоследней и т.д.
61.Количественный атомно-эмиссионный анализ. Способы оценки интенсивности спектральных линий
В основе определения количества элемента в анализируемой пробе атомно-эмиссионным методом лежит взаимосвязь между интенсивностью спектральных линий определяемого элемента и его концентраций в пробе. Т.к. величина навески пробы в атомно-эмиссионном анализе невелика, то для проведения количественного анализа требуется специальная подготовка пробы. Твёрдую пробу растворяют соответствующим растворителем. В некоторых случаях пробу смешивают с различными добавками, которые называются буферными смесями либо внутренними стандартами. Иногда пробу растворяют, иногда концентрируют.
Способы оценки интенсивности спектральных линий: 1)визуальный – оценка производится на глаз; 2)фотографический – оценка производится по величине почернения фотопластинки; 3)фотоэлектрический – интенсивность спектральных линий изменяется с помощью фотоэлемента или фотоумножителя.
В зависимости от способа оценки интенсивности спектральных линий различают 3 метода анализа: 1)визуальный – применяют в полуколичественном анализе, когда спектр наблюдают в окуляре либо на фотопластинке. Основное преимущество – экспрессность и простота аппаратурного оформления, но точность его невелика. 2)фотографический – анализируемые спектры регистрируются на фотопластинке. Интенсивность спектральных линий оценивают по почернению фотоэмульсии, т.е. по логарифму отношения интенсивности света, прошедшего через незатемнённый участок фотопластинки к интенсивности света, прошедшего через затемнённый участок. Недостаток – большая длительность определений, т.к. для определения необходимо сфотографировать спектр, обработать фотопластинку и провести фотометрирование. 3)фотоэлектрический – наиболее экспрессный. В фотоэлектрических установках свет после диспельгирующего элемента попадает через специальную щель на фотоэлемент, который соединён с накопительным конденсатором и регистрирующем потенциометром. Шкала прибора показывает логарифм относительной интенсивности спектральной линии либо концентрацию анализируемого вещества. Недостаток: высокая стоимость оборудования и невозможность одновременно регистрировать широкие области спектра.