
- •История развития техники электронных приборов. Закономерности развития. Особенности современного состояния.
- •Классификация полупроводников. Собственный полупроводник. Понятие о дырке.
- •Энергетические зоны полупроводников. Распределение электронов и дырок по энергиям. Распределение Ферми-Дирака, Максвелла-Больцмана. Зависимость концентрации носителей заряда от температуры.
- •Примесные полупроводники p и n типов. Зонная модель. Зависимость энергии Ферми примесного полупроводника от концентрации примесей и температуры.
- •Основные и неосновные носители заряда в примесных полупроводниках. Закон действующих масс.
- •Зависимость концентрации носителей заряда примесных полупроводни-ков от материала, температуры и концентрации примесей. Вырожденный полупроводник.
- •Электропроводность собственного и примесного полупроводников. Зависимость электропроводности от температуры.
- •Механизмы процессов генерации свободных носителей заряда в полупроводниках: тепловая, фото-, ударная, электростатическая генерация.
- •В ах идеального и реального p-n перехода. Вольт-фарадная характеристика перехода.
- •Полупроводниковые диоды. Классификация по конструкции, материалу, назначению. Маркировка диодов. Основные свойства и применение.
- •Выпрямительные диоды. Классификация. Влияние материала, степени легирования и температуры на вах выпрямительных диодов. Основные параметры. Особенности применения.
- •Работа диода с нагрузкой. Понятие нагрузочной прямой, методы ее построения. Графоаналитический метод решения задачи преобразования диодом гармонического сигнала..
- •Варикапы. Принцип работы, основные параметры и применение.
- •Эквивалентные схемы полупроводниковых диодов для малого переменного сигнала, низкой и высокой частоты. Физическое содержание элементов схемы, методы определения.
- •Определение и классификация транзисторов.
- •Биполярный бездрейфовый транзистор. Устройство и степени легирования областей. Схемы включения транзисторов. Коэффициенты усиления - Кi, Ku, Kp.
- •Эффект модуляции толщины базы. Определение, следствия.
- •Зависимости коэффициентов передачи по току (, ) транзистора от напряжения коллектора, тока эмиттера и температуры.
- •Входные характеристики транзистора в схеме с общей базой. Их зависимость от напряжения коллектор-база и температуры.
- •Выходные характеристики транзистора в схеме с общей базой. Их зависимость от тока эмиттера и температуры.
- •Общая характеристика транзистора в схеме включения с общим эмиттером. Понятие сквозного тока транзистора. Коэффициент усиления по току транзистора в схеме с общим эмиттером .
- •Входные характеристики транзистора в схеме с общим эмиттером. Их зависимость от напряжения коллектор-эмиттер и температуры.
- •2.1. Входные характеристики
- •Выходные характеристики транзистора в схеме с общим эмиттером. Их зависимость от тока базы и температуры.
Зависимость концентрации носителей заряда примесных полупроводни-ков от материала, температуры и концентрации примесей. Вырожденный полупроводник.
Вырожденный
полупроводник
— это полупроводник, концентрация
примесей в котором настолько велика,
что собственные свойства практически
не проявляются, а проявляются в основном
свойства примеси. У вырожденного
полупроводника уровень Ферми лежит
внутри разрешённых зон или внутри
запрещённой зоны на расстояниях не
более kT от границ разрешённых зон.
Вырожденные полупроводники получают
путём сильного легирования собственных
полупроводников.
Зависимость концентрации носителей заряда примесных полупроводников от материала, температуры и концентрации примесей
Рисунок 1.1 – График зависимости ln n от 1/T для примесного полупроводника
В широком диапазоне температур и для различного содержания примесей имеют место температурные зависимости концентрации носителей заряда в полупроводнике n-типа, показанные на рисунке 1.1. Проанализируем его:
а) NД1 – малая концентрация доноров. В области низких температур увеличение концентрации электронов при нагревании полупроводника обусловлено возрастанием степени ионизации доноров (участок 1–4). Каждый ионизированный донор можно рассматривать как центр, захвативший дырку, наклон прямой на участке 1–4 характеризует энергию ионизации примесей.
При дальнейшем повышении температуры при некоторой температуре (точка 4) все электроны с примесных уровней будут переброшены в зону проводимости. При этом вероятность ионизации собственных атомов полупроводника еще очень мала. Поэтому в достаточно широком температурном диапазоне (участок 4–6) концентрация носителей заряда остается постоянной и практически равной концентрации доноров. Этот участок называется областью истощения примесей.
При относительно высоких температурах (участок кривой за точкой 6) происходит переход в область собственной проводимости (перебросы электронов из валентной зоны через запрещенную в зону проводимости).
Крутизна кривой определяется шириной запрещенной зоны.
При повышении NД (NД2>NД1) кривые температурной зависимости смещаются вверх.
Механизм проводимости. Понятие подвижности носителей заряда. Зависимость подвижности от типа заряда, материала полупроводника, концентрации примесей, температуры, напряженности электрического поля.
Механизм электрической проводимости
Полупроводники характеризуются как свойствами проводников, так и диэлектриков. В полупроводниковых кристаллах атомы устанавливают ковалентные связи (то есть, один электрон в кристалле кремния, как и алмаза, связан двумя атомами), электронам необходим уровень внутренней энергии для высвобождения из атома (1,76·10−19 Дж против 11,2·10−19 Дж, чем и характеризуется отличие между полупроводниками и диэлектриками). Эта энергия появляется в них при повышении температуры (например, при комнатной температуре уровень энергии теплового движения атомов равняется 0,4·10−19 Дж), и отдельные атомы получают энергию для отрыва электрона от атома. С ростом температуры число свободных электронов и дырок увеличивается, поэтому в полупроводнике, не содержащем примесей, удельное сопротивление уменьшается. Условно принято считать полупроводниками элементы с энергией связи электронов меньшей чем 1,5—2 эВ. Электронно-дырочный механизм проводимости проявляется у собственных (то есть без примесей) полупроводников. Он называется собственной электрической проводимостью полупроводников.
Дырка
Во время разрыва связи между электроном и ядром появляется свободное место в электронной оболочке атома. Это обуславливает переход электрона с другого атома на атом со свободным местом. На атом, откуда перешёл электрон, входит другой электрон из другого атома и т. д. Это обуславливается ковалентными связями атомов. Таким образом, происходит перемещение положительного заряда без перемещения самого атома. Этот условный положительный заряд называют дыркой.
Обычно подвижность дырок в полупроводнике ниже подвижности электронов.
Энергетические зоны
Между зоной проводимости Еп и валентной зоной Ев расположена зона запрещённых значений энергии электронов Ез. Разность Еп−Ев равна ширине запрещенной зоны Ез. С ростом ширины Ез число электронно-дырочных пар и проводимость собственного полупроводника уменьшается, а удельное сопротивление возрастает.
Подвижность
Основная статья: Подвижность носителей заряда
Подвижность электронов (верхняя кривая) и дырок (нижняя кривая) в кремнии в зависимости от концентрации атомов примеси
Подвижностью называют коэффициент пропорциональности между дрейфовой скоростью носителей тока и величиной приложенного электрического поля
При этом, вообще говоря, подвижность является тензором:
Подвижность электронов и дырок зависит от их концентрации в полупроводнике (см. рисунок). При большой концентрации носителей заряда, вероятность столкновения между ними вырастает, что приводит к уменьшению подвижности и проводимости.
Размерность подвижности — м²/(В·с).
П
одвижность
- коэффициент пропорциональности μ,
между скоростью дрейфа и напряженностью
электри-ческого поля, характеризует
среднюю добавочную (к тепловой) скорость.