
- •1.1. Основные понятия
- •1.2. Виды технологических процессов.
- •1.3. Этапы разработки технологических процессов.
- •Анализ и расчет технологичности электронного узла.
- •Выбор техпроцесса сборки электронного узла.
- •Анализ объема выпуска изделия.
- •Разработка технологических операций.
- •1.4. Технологические процессы и качество эа.
- •Методы оценки точности.
- •Методы получения заданной точности.
- •1.8. Выбор наиболее экономичного варианта тп по себестоимости.
- •2.1. Общие сведения о микросхемах и технологии их изготовления.
- •2.2. Изготовление монокристалла полупроводникового материала
- •2.3. Резка монокристалла и получение пластин
- •2.4. Изготовление фотошаблонов
- •2.5. Полупроводниковые микросхемы
- •2.6. Легирование методом термической диффузии примесей
- •2.7. Легирование методом ионной имплантации
- •2.9. Фотолитография
- •Подготовка поверхности
- •Нанесение фотослоя
- •Совмещение и экспонирование
- •2.10. Расчет топологических размеров областей транзистора
- •2.11. Осаждение тонких пленок в вакууме
- •2.12. Тонкопленочные резисторы
- •2.13. Основы толстопленочной технологии
- •Толстопленочные пасты
- •2.14. Коммутационные платы микросборок
- •Тонкопленочные платы
- •Тонкопленочные платы на основе анодированного алюминия
- •Толстопленочные платы
- •2.16. Электрический монтаж кристаллов имс на коммутационных платах микросборок
- •Проволочный монтаж
- •Ленточный монтаж
- •Монтаж жесткими объемными выводами
- •Микросварка
- •Изготовление системы объемных выводов
- •3.1. Общие сведения о печатных платах
- •Конструктивные характеристики печатных плат
- •3.2. Материал печатных плат
- •3.3. Изготовление оригиналов и фотошаблонов
- •3.4. Технологические процессы изготовления печатных плат
- •3.5. Основные технологические этапы в производстве печатных плат Получение заготовок печатных плат
- •Получение монтажных и переходных отверстий в печатных платах
- •Подготовка поверхности
- •Металлизация печатной платы
- •Получение защитного рельефа
- •Травление меди с пробельных мест
- •Обработка по контуру
- •Прессование
- •Контроль
- •4.1. Обработка резанием деталей эа
- •Обработка деталей на токарно-револьверных станках
- •Обработка деталей на токарных автоматах
- •Обработка деталей фрезерованием
- •Обработка деталей на сверлильных станках
- •Обработка деталей шлифованием
- •4.2. Изготовление деталей эа методом литья
- •4.3. Изготовление деталей эа холодной штамповкой
- •4.4. Изготовление деталей из пластмасс для эа
- •4.5. Электрофизические и электрохимические методыобработки деталей
- •5.1. Сборочно-монтажные операции
- •5.2. Сборка и монтаж модулей первого уровня
- •Комплектация устанавливаемых на пп элементов
- •Подготовка элементов к монтажу
- •Установка элементов на печатную плату и их фиксация
- •Пайка элементов на печатной плате
- •5.3. Технология монтажа объемных узлов
- •Технология жгутового монтажа
- •Технология монтажа с использованием ленточных проводов
- •6.1. Технологические операции регулировки и настройки.
- •Критерии оценки качества рно.
- •6.2. Виды неисправностей эа и их устранение. Общие положения
- •Уровни и способы поиска неисправностей персональных эвм.
- •Средства локализации неисправностей, ремонт и отладка системных плат.
- •6.3. Испытания эа. Испытания как основная форма контроля эа
- •Испытания эа на механические воздействия.
- •Испытание эа на климатические воздействия.
- •2.17. Герметизация микросхем и микросборок
- •Бескорпусная герметизация
- •Контроль герметичности
Критерии оценки качества рно.
Для того чтобы судить о качестве выполнения РНО, необходимо иметь критерий оценки качества, описание которого представляется некоторой функцией качества одного из рассмотренных видов.
Характеристикой качества РНО могут служить функции распределения погрешностей регулировки изделий или распределения их параметров с учетом установленного поля допуска. Поле рассеяния параметров изделий должно быть меньше или равно допустимому полю рассеяния:
Выполнение
этого условия можно осуществить двумя
путями: отбором деталей
(элементов, узлов) из общего поля допуска
БΔ3 укладывающихся в допустимое
поле допуска
;
организацией технологического
процесса производства
деталей (элементов, узлов), позволяющего
выполнить условие
.
Установлены некоторые закономерности формирования выходных параметров в зависимости от особенностей электрических схем. Только небольшую часть распределений выходных параметров можно считать нормальными. Реальные распределения выходных параметров отличаются между собой и от нормальных главным образом из-за асимметричности и островершинности. Эти качественные характеристики распределений, оцениваемые коэффициентами асимметрии и эксцесса, использованы в качестве критериев при анализе электрических схем и выполнении РНО с учетом получаемых распределений.
В электрических схемах, где РНО осуществляются элементами настройки с плавно изменяющимися параметрами (потенциометры, переменные конденсаторы, подстроенные индуктивности), функции распределения выходных параметров хорошо согласуются с законом нормального распределения. Математическое ожидание таких распределений при отсутствии систематических погрешностей аппаратуры близко к нулевому номинальному значению параметра. Разброс выходных параметров настроенных изделий, характеризующийся средним квадратическим отклонением, во многом определяется случайными погрешностями измерений. Значения коэффициентов асимметрии и эксцесса близки к нулю.
При РНО электрических схем парным подбором элементов, имеющих дискретные и плавно изменяющиеся параметры, получаемые распределения характеризуются заметными асимметричностью и эксцессом. Поля рассеяния параметров на 25...35 % меньше поля установленного допуска.
Еще большую асимметричность и островершинность могут иметь распределения выходных параметров изделий, в которых РНО осуществляются подбором элементов с дискретными параметрами.
Взаимозависимые РНО выполняют посредством подбора параметров двух или более элементов, один из которых может быть общим для нескольких независимых электрических цепей. Сюда входят разнообразные многопредельные схемы делителей сигналов с частотной компенсацией, различные схемы генераторов фиксированных частот, имеющие общие элементы колебательных контуров, многопредельные задающие временные устройства. В таких схемах перестройка или замена элементов отражается на всех параметрах изделия, зависящих от этих элементов. Эта особенность взаимозависимых регулировочных операций - одна из причин значительного отклонения получаемых распределений от нормальных. Математическое ожидание выходных параметров может сильно отличаться от номинального значения. Асимметричность распределений явно выражена и может быть как право-, так и левосторонней. В большинстве слу чаев знак асимметрии определяется порядком проведения настройки схемы, который при взаимозависимых РНО строго определен технологическими инструкциями. Эксцесс, как и в предыдущих случаях, как правило, положителен, что может быть объяснено стремлением регулировщика установить параметры схемы как можно ближе к номинальному значению. Характерно и то, что при взаимозависимых РНО практически исчезает разница между шириной поля допуска и фактическим рассеянием параметров после настройкиизделий.
Выборочные асимметрии и эксцесс распределения сами по себе величины случайные и поэтому даже для нормального распределения могут быть равными нулю. Для оценки значимости отклонения коэффициентов асимметрии и эксцесса от своих математических ожиданий используем дисперсии этих величин, определяемые по формулам
где D(A),D(E) - дисперсии выборочных асимметрии и эксцесса соответственно; N - объем выборки.
Начальные
распределения выходных параметров
изделия, прошедшего РНО, являются
усеченными распределениями, поле
рассеяния которых в ряде
случаев существенно меньше поля
установленного допуска. Оценку полей
рассеяния параметров при выполнении
РНО проведем с помощью безразмерной
величины
.
Здесь Δ1, Δ2 - границы допуска, установленного ТУ на параметр; δ- границы поля рассеяния параметров после регулировки изделия.
При решении практических задач, если асимметричность и островершинность реальных распределений являются существенными, хорошее аналитическое приближение можно получить, воспользовавшись рядом Грама-Шарлье
- где fA(U) - плотность
нормированной и центрированной величины,
- значение
выходного параметра после проведения
РНО;
- математическое ожидание и
среднее квадратичное отклонение
параметров;
-
I производная
по U:
Hi(U) - полином Эрмита.
Из вышесказанного можно сделать следующие выводы и обобщения:
на формирование распределений выходных параметров изделий существенное влияние оказывают особенности электрических схем и РНО. Выходные параметры могут быть сгруппированы по принципу подобия получаемых распределений с установлением пределов изменения их численных характеристик;
при двустороннем ограничении параметров допусковыми значениями получаемые распределения в большинстве своем представляют собой одномодальные усеченные распределения, отличающиеся от нормальных асимметричностью и островершинностью;
обособленные РНО, осуществляемые элементами с плавно изменяющимися параметрами, характеризуются распределениями, близкими к нормальным, ширина поля рассеяния которых существенно меньше ширины поля установленного допуска