
- •1.1. Основные понятия
- •1.2. Виды технологических процессов.
- •1.3. Этапы разработки технологических процессов.
- •Анализ и расчет технологичности электронного узла.
- •Выбор техпроцесса сборки электронного узла.
- •Анализ объема выпуска изделия.
- •Разработка технологических операций.
- •1.4. Технологические процессы и качество эа.
- •Методы оценки точности.
- •Методы получения заданной точности.
- •1.8. Выбор наиболее экономичного варианта тп по себестоимости.
- •2.1. Общие сведения о микросхемах и технологии их изготовления.
- •2.2. Изготовление монокристалла полупроводникового материала
- •2.3. Резка монокристалла и получение пластин
- •2.4. Изготовление фотошаблонов
- •2.5. Полупроводниковые микросхемы
- •2.6. Легирование методом термической диффузии примесей
- •2.7. Легирование методом ионной имплантации
- •2.9. Фотолитография
- •Подготовка поверхности
- •Нанесение фотослоя
- •Совмещение и экспонирование
- •2.10. Расчет топологических размеров областей транзистора
- •2.11. Осаждение тонких пленок в вакууме
- •2.12. Тонкопленочные резисторы
- •2.13. Основы толстопленочной технологии
- •Толстопленочные пасты
- •2.14. Коммутационные платы микросборок
- •Тонкопленочные платы
- •Тонкопленочные платы на основе анодированного алюминия
- •Толстопленочные платы
- •2.16. Электрический монтаж кристаллов имс на коммутационных платах микросборок
- •Проволочный монтаж
- •Ленточный монтаж
- •Монтаж жесткими объемными выводами
- •Микросварка
- •Изготовление системы объемных выводов
- •3.1. Общие сведения о печатных платах
- •Конструктивные характеристики печатных плат
- •3.2. Материал печатных плат
- •3.3. Изготовление оригиналов и фотошаблонов
- •3.4. Технологические процессы изготовления печатных плат
- •3.5. Основные технологические этапы в производстве печатных плат Получение заготовок печатных плат
- •Получение монтажных и переходных отверстий в печатных платах
- •Подготовка поверхности
- •Металлизация печатной платы
- •Получение защитного рельефа
- •Травление меди с пробельных мест
- •Обработка по контуру
- •Прессование
- •Контроль
- •4.1. Обработка резанием деталей эа
- •Обработка деталей на токарно-револьверных станках
- •Обработка деталей на токарных автоматах
- •Обработка деталей фрезерованием
- •Обработка деталей на сверлильных станках
- •Обработка деталей шлифованием
- •4.2. Изготовление деталей эа методом литья
- •4.3. Изготовление деталей эа холодной штамповкой
- •4.4. Изготовление деталей из пластмасс для эа
- •4.5. Электрофизические и электрохимические методыобработки деталей
- •5.1. Сборочно-монтажные операции
- •5.2. Сборка и монтаж модулей первого уровня
- •Комплектация устанавливаемых на пп элементов
- •Подготовка элементов к монтажу
- •Установка элементов на печатную плату и их фиксация
- •Пайка элементов на печатной плате
- •5.3. Технология монтажа объемных узлов
- •Технология жгутового монтажа
- •Технология монтажа с использованием ленточных проводов
- •6.1. Технологические операции регулировки и настройки.
- •Критерии оценки качества рно.
- •6.2. Виды неисправностей эа и их устранение. Общие положения
- •Уровни и способы поиска неисправностей персональных эвм.
- •Средства локализации неисправностей, ремонт и отладка системных плат.
- •6.3. Испытания эа. Испытания как основная форма контроля эа
- •Испытания эа на механические воздействия.
- •Испытание эа на климатические воздействия.
- •2.17. Герметизация микросхем и микросборок
- •Бескорпусная герметизация
- •Контроль герметичности
Толстопленочные платы
Для пояснения сущности процесса воспользуемся рис. 2.25. Вместо циклов "осаждение тонкой пленки в вакууме - фотолитография" в данном случае используются циклы "нанесение пасты через трафарет - сушка - вжигание", а подложку заменяют на керамическую - термостойкий прочный материал.
Для формирования многоуровневой системы используют проводящую и диэлектрическую пасты. Поскольку толщина межслойной изоляции в 2-3 раза превышает толщину проводящего слоя, для получения качественных контактных переходов проводят предварительно одно- или двукратное нанесение проводящей пасты в окна изолирующего слоя по циклу Ћнанесение пасты через трафарет - "сушка" (без вжигания). На заключительном этапе изготовления платы аналогичный прием используют для формирования монтажных площадок, которые впоследствии облуживают лудящей пастой.
Следует подчеркнуть, что в многоуровневых системах вжигание паст в керамику происходит лишь на границе нижнего проводящего и нижнего изолирующего слоев с подложкой. Прочность сцепления последующих слоев друг с другом обеспечивается за счет расплавления в них низкотемпературного стекла и затем отвердения.
Платы на основе многослойной керамики. В отличие от предыдущих типов плат, все слои которых формируют на общей подложке, в данном случае каждый проводящий слой наносят на собственную индивидуальную подложку из необожженной ("сырой") керамики. Впоследствии отдельные листы керамики с проводящим рисунком собирают в пакет.
Исходными заготовками платы являются листы пластичной керамики толщиной 0,1 мм, полученные методом экструзии (выдавливанием пластичной керамической массы через щелевидный фильер). В отдельных листах керамики пробивкой или сверлением получают базовые отверстия, а затем (базируя листы по этим отверстиям) - отверстия под контактные переходыдиаметром не менее 0,1мм (рис. 2.27, а). Используя те же базовые отверстия на каждой заготовке, через сетчатый трафарет заполняют отверстия под переходы проводящей пастой, а затем с помощью другого трафарета наносят проводящий рисунок и сушат.
Следует подчеркнуть, что вследствие высоких температур (1400...1700 АС) последующего обжига керамики приходится отказываться от высокоэлектропроводных серебряно-палладиевых паст и использовать пасты на основе частиц тугоплавких металлов (вольфрама или молибдена).
Рис. 2.32. Коммутационная плата на основе многослойной керамики:а - отдельные керамические подложки с проводящим рисунком; б - плата в сборе
Затем, используя те же базовые отверстия, отдельные листы собирают в пакет (рис. 2.27, б), подпрессовывают и штамповкой отделяют периферийную часть с базовыми отверстиями. Пакет подвергают высокотемпературной обработке. При этом протекают два параллельных процесса: вжигание проводящего рисунка в керамику и спекание (взаимодиффузия) частиц окислов, из которых состоит керамическая масса. На первой стадии обжига также происходит разложение и удаление пластификатора (технологической связки).
Выходящие на поверхность платы монтажные площадки на основе вольфрама или молибдена не допускают сварки и не смачиваются припоем. Для возможности облуживания таких площадок и последующей их пайки на них предварительно создают слой никеля путем химического осаждения из раствора.
2.15. Крепление подложек и кристаллов
Метод крепления подложек и кристаллов на основании корпуса, кристаллов и других компонентов на подложках зависит от выбора материала присоединительного слоя - клея, стекла, припоя и т. д.
В
свою очередь, материал присоединительного
слоя должен обеспечивать
эффективный отвод теплоты в подложку
или корпус в зависимости от
выделяемой мощности, согласование
температурных коэффициентов расширения
(ТКР) соединяемых элементов в широком
диапазоне рабочих температур
(обычно -60...+125 АС), стойкость к динамическим
воздействиям
(с ускорением до 150g)
в условиях воздействия вибраций и
ударов. В отдельных
случаях присоединительный слой должен
быть электропроводным. Отвод
теплоты от кристалла (компонента) в
полых корпусах осуществляется
главным образом через присоединительный
слой за счет механизма теплопроводности.
Эффективность отвода теплоты зависит
прежде всего от удельной
теплопроводности материала
присоединительного слоя, а также его
геометрии - толщины и площади. Если
считать кристалл и основание под
ним изотермическими, а площадь слоя
равной площади кристалла, то тепловой
поток через слой однороден и тепловое
сопротивление слоя, К/Вт,
гдеλ - коэффициент теплопроводности материала слоя, Вт/(см-К) ; h - толщина слоя, см; s - площадь слоя, см2.
Достаточно
малые тепловые сопротивления (десятые
доли К/Вт) имеют
присоединительные слои на основе
металлических припоев. Тепловое
сопротивление спая на основе стекла
составляет 60...200 К/Вт. Наибольшим
сопротивлением обладают клеевые
соединения (вследствие малого коэффициента
теплопроводности). Так как перегрев
кристалла, т. е. перепад температур
в системе "кристалл- основание",
зависит от мощности, выделяемой кристаллом
,
то присоединительные слои с большим
тепловым сопротивлением можно применять
для компонентов, выделяющих малую мощность.
Различие температурных коэффициентов расширения кристалла (подложки) и основания в условиях нагрева или охлаждения вызывает в них внутренние напряжения (растягивающие или сжимающие в зависимости от соотношения ТКР). Эти напряжения имеют максимальные значения на контактных поверхностях присоединительного слоя. При хорошей адгезии напряжения могут превышать предел прочности материала слоя на растяжение или сжатие, так как его прочность обычно ниже прочности соединяемых деталей. Например, слой стекла, имеющий высокую адгезию со многими материалами (до 100 МПа), плохо выдерживает напряжения растяжения.
Температурные деформации на границах слоя уменьшаются, если ТКР слоя имеет промежуточное значение между ТКР материалов соединяемых деталей . В этом случае слой выполняет роль своеобразного буфера. Наилучшие условия согласования ТКР создаются при плавном изменении состава (а следовательно, и ТКР) присоединительного слоя. Такие условия, в частности, возникают при пайке контактным плавлением.
При вибрациях, ударах и статических перегрузках на элементы конструкции МС действуют распределенные нагрузки, причем пиковые значения результирующих сил определяются массой элемента и ускорением (F = та). Эти силы в зависимости от направления стремятся сдвинуть или оторвать элемент. Благодаря малой массе, элементы МС (включая подложку) хорошопротивостоят действию статических перегрузок и одиночных ударов. Например, при действии ускорения 150g в плоскости керамической подложки размером 30x24 мм сдвиговое усилие составляет около 40 Н, а соответствующее напряжение в присоединительном слое 60 кПа, что примерно в 100 раз меньше предела прочности на сдвиг (адгезии) для соединений на основе современных клеев (единицы МПа).
Более существенное влияние на прочность соединения оказывают длительные вибрационные воздействия (частотой 5...5000 Гц при ускорениях до 40g), которые могут привести к усталостным разрушениям в слое. Развитию усталостных разрушений способствуют и температурные деформации, возникающие при изменении температуры во время эксплуатации, а также остаточные температурные деформации в результате нагрева в процессе выполнения операции соединения. Наименее стойкими к вибрационным воздействиям являются соединения стеклом, обладающие хрупкостью и пониженной прочностью на растяжение.
Процесс крепления подложек и кристаллов к основанию можно условно разделить на три этапа:
1) подготовка поверхности основания и нанесение присоединительного материала (клея, стекла, припоя);
2) ориентированная установка кристалла (подложки) на основание;
3) собственно присоединение (в общем случае выполняется под давлением и с нагревом).
Сеткографический способ является наиболее точным и производительным способом нанесения присоединительного материала, обладающего свойствами пасты (клей, суспензия стекла, лудящая паста). Этот способ позволяет обеспечить точную дозировку присоединительного материала, а следовательно, высокую воспроизводимость геометрических размеров соединения. Конструкция корпуса МС должна при этом обеспечивать возможность плотного прилегания сетки к основанию.
Ориентация кристалла непосредственно на основании нежелательна, предварительно кристаллы должны быть ориентированы и уложены в кассеты, откуда вакуумным пинцетом их переносят к месту соединения.
Собственно присоединение можно выполнять индивидуально для каждого кристалла на специальных технологических установках (обычно при соединении пайкой) или групповым способом в кассетах под необходимым давлением с общим нагревом в печах или термостатах (соединения стеклом или склеиванием).
Клеевые соединения используют для МС и компонентов пониженной мощности. Технология клеевых соединений проста и применяется для широкого круга материалов (с использованием клеев на эпоксидной основе) и диапазона рабочих температур (-60...+150 АС, кратковременно до 450 АС). Клеевые соединения стойки к вибрациям.
Основным
недостатком эпоксидных смол является
высокий ТКР и пониженная
теплопроводность, поэтому клеи на основе
этих смол всегда содержат наполнители
(минеральные или металлические), снижающие
значение а и увеличивающие
.
Клеевые соединения характеризуются
наличием внутренних напряжений,
возникающих вследствие первичной усадки
при полимеризации (уплотнение структуры),
усадки при охлаждении
(при горячем отвердении), разницы ТКР
соединяемых деталей
и клея.
При склеивании большинство клеев допускают варьирование температуры и времени в широких пределах, причем при повышении температуры время отвердения клея резко сокращается. Режим холодного отвердения осуществляется при комнатной температуре, но требует длительной выдержки (до 48 ч). Поэтому склеивание, как правило, выполняют с подогревом до 60...200 АС в зависимости от марки клея.
Монтаж кристаллов и подложек, предназначенных для работы в герметизированных корпусах, допускается только клеями, не содержа щими активных компонентов, которые при температуре эксплуатации выделяются из клеевой прослойки и заполняют объем корпуса. В связи с этим широкое применение находят клеи марок ВК-2, ВК-4, ВК-8 и ВК-9. Основные данные по клеям повышенной теплопроводности (в том числе и электропроводящим) для крепления кристаллов приведены в табл. 2.7.
Качество поверхности соединяемых элементов оказывает большое влияние на прочность клеевого слоя. Поэтому с поверхностей перед склеиванием тщательно удаляют загрязнения и жировые пленки, причем следы используемых органических растворителей должны быть полностью удалены сушкой.
При отвердении клея остаточный растворитель создает пористость и внутренние напряжения, снижающие прочность слоя. Для удаления растворителей, входящих в состав клея, проводят сушку на воздухе в течение 1... 1,5 ч, после чего проводят термообработку в соответствии с выбранным режимом отвердения.
Прочность клеевого слоя в объеме зависит от совершенства структуры полимера. Количество дефектов увеличивается с толщиной слоя и прочность соединения падает. Рекомендуется слой ограничивать толщиной 0,05... 0,1мм.
Таблица 2.7.Свойства электро- и теплопроводящих клеев на эпоксидной основе.
Марка клея |
Диапазон рабо- чих температур, 0С |
Жизнеспо- собность, ч (не менее) |
Отвердение (при темпера- туре), ч |
Коэф.тепло- проводности, Вт/(см*К) |
Удельное объемное сопро- тивление,Ом*см |
ЭЧТ тепло- проводящий |
-60...+125 |
10 |
6(60 0С) |
0,005 |
|
2,5 (80 0С) |
|||||
1 (120 0С) |
|||||
ЭЧВТ тепло- проводящий |
-60...+200 |
10...12 |
3(230...250 0С) |
0,008...0,01 |
|
400 (30 мин) |
3(150...180 0С |
||||
450 (15 мин) |
с ускорителем) |
||||
ЭВТ электро- |
-60...200 |
10...12 |
3(230...250 0С) |
0,04 |
(2...8)*10-4 |
Точную дозировку по толщине и площади клеевого слоя обеспечивают пленочные клеи. Эти клеи представляют собой неполимеризованный подсушенный клей в виде пленки, которую можно разрезать на заготовки нужных размеров и формы. Такие пленки выпускают специализированные заводы в виде лент на основе различных клеев. Широкое применение для крепления подложек гибридных МС к основанию корпуса нашли, в частности, пленки на основе метилполиамиднофенольного клея МПФ-1. Непосредственно перед монтажом для активации поверхности заготовки пленочного клея ее погружают на 1...2 с в этиловый спирт. Далее установленные пленку и подложку помещают в прижимное приспособление с резиновой прокладкой, где выдерживают 1...2 мин. После сушки на воздухе не менее 30 мин изделие подвергают термообработке в термостате (температуру повышают до 150 АС в течение 1 ч, выдерживают 2 ч и охлаждают вместе с термостатом до 30... 40 АС).
Пайка
стеклами позволяет
достичь хорошего согласования соединяемых
материалов по ТКР, так как, варьируя
состав стекла, можно изменять
его ТКР в широких пределах. К легкоплавким
стеклам относят стекла, температура
размягчения которых не превышает 550 АС.
Эти стекла имеют более
высокий ТКР (С84-1, С88-1, С89-3, С90-1, для которых
ТКР соответственно равны (8,4; 8,8; 8,9 и
9,0)
).
Для часто используемых сочетаний
материалов "ковар - ситалл, поликор,
кремний" применяют стекла сТКР
порядка (5... 7)
,
т. е. тугоплавкие (например, С-50).
Использование относительно тугоплавких стекол практически исключает возможность припайки кристаллов стеклом на подложках гибридных пленочных МС и микросборок. Пайку стеклом в основном применяют для крепления керамических, поликоровых и ситалловых подложек. Наилучшая адгезия стекла и, следовательно, прочность соединения обеспечиваются с материалами, представляющими собой смеси окислов (ситалл, поликор, керамика 22ХС), или с металлами, имеющими на поверхности прочный слой окисла.
Технология пайки стеклом сводится к нанесению суспензии (пасты) стеклянного порошка в деионизованной воде на очищенную поверхность, сжатию соединенных деталей в приспособлении-кассете, сушке и последующему оплавлению в печи с контролируемой атмосферой.