
- •Глава 6. Основные характеристики средств микропроцессорной техники 82"
- •Глава 8. Структуры и алгоритмы аналого-цифровой части иис . . 126-
- •Глава 9. Измерительно-вычислительные комплексы 143
- •Глава 10. Системы измерения независимых входных величин . . . 153"
- •Глава 11. Многомерные и аппроксимирующие и с 172
- •Глава 12. Статистические измерительные системы 182'
- •Глава 13. Теоретические основы автоматического контроля . . . . 216-
- •Глава 14. Системы автоматического допускового контроля .... 242
- •Глава 1
- •1.1. Основные определения. Области применения иис
- •1.2. Обобщенная структурная схема иис
- •1.3. Описание функционирования иис. Содержательные логические схемы алгоритмов
- •Глава 2
- •2.1. Разновидности входных величин
- •2.2. Разделение иис по виду выходной информации
- •2.3. Классификация иис по принципам построения. Роль эвм
- •Глава 3
- •3.1. Государственная система приборов. Основные положения
- •3.2. Агрегатный комплекс средств электроизмерительной техники
- •Глава 4
- •4.1. Индикация в иис
- •4.2. Запись и хранение информации в иис
- •Глава 5
- •5.1. Основные разновидности структур и интерфейсов
- •5.2. Протоколы и типовые алгоритмы обмена информацией
- •5.3. Интерфейс с последовательным выполнением операций обмена информацией
- •5.4. Приборный стандартный интерфейс
- •5.5. Интерфейс камак
- •5.6. Интерфейсы периферийной части эвм
- •5.7. Сопоставление алгоритмов стандартных интерфейсов
- •5.8. Об аналоговых интерфейсах измерительной части иис
- •Глава 6
- •6.1. Эвм и средства микропроцессорной техники в иис
- •6.2. Микро-эвм
- •6.3. Микропроцессоры
- •6.5. Программируемые клавишные эвм
- •6.6. Табличные методы преобразования информации
- •Глава 7
- •7.2. Унифицирующие преобразователи
- •7.3. Измерительные коммутаторы амплитудно-модулированных сигналов
- •7.4. Защита входных измерительных цепей иис от помех
- •Глава 8
- •8.1. Основные структуры аналого-цифровой части
- •8.2. Алгоритмы функционирования аналого-цифровой части иис
- •Глава 9
- •Глава 10
- •10.1. Основные разновидности систем измерения независимых входных величин
- •10.2. Многоточечные ис с резистивными датчиками
- •10.3. Мультиплицированная ис с термопарами
- •10.4. Сканирующие системы для расшифровки графиков
- •10.5. Акустическая система для измерения координат графических изображении
- •10.6. О голографических измерительных системах
- •Глава 11
- •11.1. Многомерные ис (системы для раздельного измерения взаимосвязанных величин)
- •11.2. Аппроксимирующие ис
- •Глава 12
- •12.1. Особенности измерения статистических характеристик случайных процессов
- •12.2. Системы для измерения законов распределения вероятностей случайных процессов
- •12.3. Корреляционные измерительные системы
- •12.4. Спектральные измерительные системы
- •13.1. Функция и основные видь! систем автоматического контроля
- •13.2. О выборе контролируемых величин и областей их состоянии
- •13.3. Ошибки контроля
- •13.4. Объем выборки при контроле
- •13.5. Организация статистического контроля
- •13.6. Дискретизация непрерывной контролируемой величины
- •13.7. Оценка эффективности и стоимости систем автоматического контроля
- •Глава 14
- •14.1. Каналы контроля
- •14.3. Системы автоматического контроля параллельного и последовательного действия
- •114,4. Системы автоматического контроля с общей образцовой величиной
- •14.5. Основные алгоритмы работы систем параллельно-последовательного действия
- •14.6. Системы автоматического контроля параллельно-последовательного действия
- •XI (iMxHi) I (ch : kAxa!, || Дси, Ac2i) ]} X
- •Глава 15
- •Глава 17
- •17.1. Особенности и основные характеристики телеизмерительных систем
- •17.2. Линии связи 1
- •17.3. Разделение сигналов в тис
- •Глава 18
- •18.1. Аналоговые тис
- •18.2. Цифровые тис (системы с кодоимпульсными сигналами]
- •18.3. Об адаптивных тис
- •18.4. Краткий обзор основных характеристик промышленных тис
- •Глава 19
- •19.1. Стадии проектирования иис
- •19.2. О проектировании программного обеспечения иис
- •19.3. Об автоматизации системотехнического проектирования
- •19.4. Учебное задание на системотехническое проектирование
- •20.1. Критерии оценки погрешностей измерения входной величины
- •20.2. Оценка полной погрешности
- •20.3. О распределении погрешностей между звеньями системы
- •20.4. О погрешностях квантования по уровню и округления при вычислениях
- •20.5. Информационные оценки
- •Глава 21
- •21.1. Определение интервалов равномерной дискретизации
- •21.2. Об адаптивной дискретизации
- •21.3. Оценка времени измерительных преобразований аналоговой части
- •21.4. Оценка времени работы цифровой части иис. Выбор эвм по быстродействию
- •Глава 22
- •22.1. Общие положения
- •22.2. Нормируемые метрологические характеристики ис
- •22.3. Технические средства метрологических поверок
- •22.4. Автоматическая коррекция погрешностей ис
- •Глава 23
- •23.1. Оценка эффективности иис
- •23.2. Планирование измерительных экспериментов
Глава 12
СТАТИСТИЧЕСКИЕ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ СИСТЕМЫ
12.1. Особенности измерения статистических характеристик случайных процессов
Статистический анализ случайных величин и процессов широко применяется во всех отраслях науки и техники.
Для специалистов ИИТ необходимо не только уметь пользоваться статистическими характеристиками при проектировании и анализе погрешностей технических средств, но и знать методы и
принципы построения аппаратуры, предназначенной для экспериментального измерения таких характеристик. Ввиду особой важности статистических измерительных систем здесь целесообразно привести в весьма сжатом виде основные сведения о принципах построения таких систем и дать примеры их реализации.
Для более глубокого изучения теории статистических измерений, методов и средств измерения статистических характеристик специалистам в области ИИТ можно рекомендовать в первую очередь [12.1, 12.2].
Для изучения материала по статистическим измерениям от читателя требуется твердое знание и понимание основ теории вероятностей в объеме [12.3].
При экспериментальном измерении характеристик случайных ■процессов имеется возможность оперировать с временной реализацией Xi(t), ансамблем реализаций {лГг(0К=Ь2, ...,т При О^^Г
Реализации случайного
Рис. 12.1. процесса
или ансамблем реализаций {xi(^)}i=b2...,m, взятых в опреде-ленный момент времени t3 (рис. 12.1).
Нужно подчеркнуть, что рассмотренное далее приложимо и к .анализу случайных функций, у которых в качестве аргумента могут быть время, пространственные координаты и т. п. Заметим, что при фиксированных значениях аргумента значения функции — случайные величины.
Случайные процессы могут быть заданы в непрерывном или в квантованном по времени виде. В последнем случае функция задается выборкой N дискретных значений непрерывной функции, взятых через определенный интервал времени At.
При анализе ансамбля реализаций, конечно, получается наиболее полная информация о случайном процессе. В ряде практически важных случаев можно ограничиться определением характеристик случайного процесса по одной его роализации или по ансамблю значений—это оказывается возможным, если случайный процесс является стационарным и эргодическим.
В дальнейшем остановимся на экспериментальном измерении характеристик стационарных эргодических процессов [12.4].
Полученные в результате измерения эмпирические характеристики случайных процессов принято называть оценками истинных характеристик Q*. Эти оценки сами по себе являются случайными величинами. Поэтому при планировании статистического измерительного эксперимента необходимо решать задачи получения оценок характеристик с заданной погрешностью при ограничениях, накладываемых на объем исходных данных, на время измерения, на. возможности аппаратуры и т. п.
Как известно, оценки характеристик должны быть состоятельными, несмещенными и эффективными. Состоятельной называется оценка, вероятность отклонения значения которой от оцениваемой величины при увеличении объема статистического материала N стремится к нулю, т. е. P{\Qr?*—Q|^e}=0. Оценка называется
/V-»oo
несмещенной, если разность ее математического ожидания и истинного значения оцениваемой величины приближается к нулю, т. е. фактически при этом требуется, чтобы отсутствовала систематическая ошибка. Смещение оценки Q* определяется как AQ*= =M[Q*]—Q. Оценка называется эффективной, если несмещенная оценка обладает наименьшей дисперсией: minZ)[Q*] = =minM{M[Q*]—Q}2. Погрешность оценки Q* обычно определяется доверительной вероятностью и и доверительным интервалом Q±e:
P(Q*-e<Q<Q*+e)=cz.
Типовой алгоритм измерения характеристик стационарного' случайного процесса по его реализации x(t) может быть представлен в следующем виде:
<2*=М{ЯФ[*(0]},
где H4[x(t)]—соответствующее данной оценке преобразование исследуемого процесса. Если x(t) представлено в виде непрерывной функции, то типовой алгоритм реализуется в интегральном т
виде: QH* =— \ H¥[x(£)]d£, если же исследуемый процесс пред-
6 ставлен в виде N дискрет, то
N
/=i
где At—интервал равномерного квантования x{t) по времени. Результат преобразования Нф[л:(<)] при измерении математического ожидания равен Ylm[x(t)]=x{t), дисперсии — HR[x(t)] =[x(t) — —Мх]2, дискрет корреляционной функции HR[x{t)] = [x(t) — —Мх] [x(t+x)—Mx] и т. д.
Большинство характеристик, получаемых по описанному алгоритму, состоятельны, несмещенны и эффективны. Исключение составляет оценка дисперсии, и для устранения смещенности она должна быть представлена в виде
Я* = Ге [*«,)-Мх]
L/=i
/N
[NKN-1)].
Основными источниками методической погрешности при реализации этого алгоритма являются конечное время анализа T=NAt или конечный объем выборки N=T/lS.tr квантование x(t)
по уровню и способ построения статистических функций по измеренным их дискретам.
Если задача статистических измерений заключается в получении параметров статистических функций, к которым относятся законы распределения вероятностей, корреляционные и спектральные функции, то их определение может быть также реализовано через измерение коэффициентов аппроксимирующих многочленов
г
о
к с получением оценки изучаемой функции @*~2 ^k?k^)-
Основными источниками методических погрешностей в этом случае будут конечное число членов разложения и, как и в предыдущем способе, конечное время анализа или конечный объем выборки.
Чаще всего при статистическом анализе используются законы распределения вероятностей и моментные характеристики, корреляционные и спектральные функции.
Перейдем к рассмотрению структур и алгоритмов статистических измерительных систем, предназначенных для измерения законов распределения вероятностей, корреляционных и спектральных функций. Средства и алгоритмы измерения математического ожидания и дисперсии читателям предлагается изучить по [12.2].
Считаем полезным привести соотношения, необходимые для ориентировочного определения объемов выборок при измерении Мх и Dx. При измерении Мх некоррелированных выборок (А^>ТкоР) o2Mtt{l/N){Dx/M2x)=K2/N, где ткор—интервал корреляции, G/л—средняя квадратическая погрешность измерения сред< него значения, %—коэффициент изменчивости. Конечно, это выражение справедливо при Мх¥=0. Средняя квадратическая погрешность определения Dx связана с объемом некоррелированных выборок так:
o2Dtt2/N.
Подчеркнем, что приведенные соотношения пригодны для грубых, ориентировочных расчетов. При слабо коррелированных выборках объем N должен быть увеличен.