
- •Основа метрологии и измерительной техники
- •§1 Основные метрологические понятия
- •§2 Характеристики измерений и их виды
- •§3 Структурные схемы средств измерительной техники
- •§4 Измерительные установки и системы
- •§5 Измерительные преобразователи
- •§6 Основные характеристики сит
- •§7 Метрологические характеристики сит
- •§8 Погрешности измерений. Систематические погрешности
- •§9 Случайные погрешности
- •§10 Погрешность косвенных измерений
- •§11 Суммирование погрешностей
- •§12 Правила выполнения измерений и представления результатов
- •§13 Определение аналитических зависимостей по экспериментальным данным
- •§14 Метрологический надзор за сит
- •§15 Лаборатории измерительной техники и их оборудование
- •§16 Магнитоэлектрические приборы
- •Амперметры
- •Вольтметры
- •Гальванометры
- •§17 Электромагнитные приборы
- •Амперметры
- •Вольтметры
- •§18 Электродинамические приборы
- •Амперметры
- •Вольтметры
- •§19 Ферромагнитные приборы
- •§20 Электростатические приборы
- •§21 Индукционные приборы
- •§22 Логометры
- •§23 Термоэлектрические приборы
- •§24 Выпрямительные приборы
- •§25 Измерительные генераторы. Генераторы сигналов низкочастотные
- •§26 Генераторы сигналов высокочастотные
- •§28 Генераторы шумовых сигналов
- •§29 Генераторы качающейся частоты
- •§30 Измерение параметров электро- и радиоцепей
- •§31 Резонансный метод
- •Измерение индуктивности катушки
- •Измерение емкости конденсатора
- •§32 Измерение частоты. Метод перезаряда конденсатора
- •§33 Резонансный метод
- •§34 Осциллографический способ сравнения частот
- •§35 Метод дискретного счёта
- •§36 Измерение интервалов времени с помощью цифровых частотомеров.
- •§37 Измерение мощности
- •§38 Измерение поглощаемой мощности.
- •Термоэлектрический метод
- •§39 Измерение проходящей мощности.
- •Осциллографы
- •§ 40 Электронные осциллографы
- •§41 Развёртки осциллографов
- •§42 Основные технические характеристики осциллографа
- •§43 Техника осциллографических измерений.
- •§44 Измерение амплитудно-частотных характеристик Общие сведения
- •§45 Структурные схемы измерителей ачх
- •§46 Устройства измерителей ачх. Генератор качающейся частоты.
- •§47 Линеаризация модуляционной характеристики гкч
- •§48 Стабилизация амплитуды напряжения гкч
- •§49 Детекторные головки
- •§50 Измерение фазового сдвига
- •§51 Фазовращатели
- •§52 Осциллографический метод измерения фазового сдвига Способ линейной развёртки
- •Способ синусоидальной развёртки
- •§53 Компенсационный метод
- •§54 Метод преобразования фазового сдвига в импульсы тока
- •§55 Измерение параметров цепей свч
- •§56 Измерительные линии
- •§57 Измерение коэффициента стоячей волны и коэффициента отражения
- •§58 Автоматический измеритель ксв
§7 Метрологические характеристики сит
Метрологическими характеристиками (МХ) называют характеристики СИТ оказывающие влияние на результаты и погрешности измерения. МХ нормируются, т.е. им предписываются определенные числовые значения для данного вида средств измерений, работающих в определённых условиях.
К нормированным МХ относятся:
1. Пределы измерений (шкалы);
2. Цена деления равномерной шкалы аналогового прибора;
3. Выходной код и число разрядов цифрового прибора;
4. Вариация показаний;
5. Погрешности прибора;
6. Входные и выходные сопротивления;
7. Время установления показаний.
§8 Погрешности измерений. Систематические погрешности
Погрешности измерения включают в себя составляющие, отличающиеся по характеру их проявления.
Систематической называется составляющая абсолютной погрешности, остающаяся постоянной или закономерно изменяющейся при повторном измерении одной и той же величины.
Случайной составляющей называется составляющаяся абсолютной погрешности, изменяющаяся случайно при повторных измерениях одной и той же физической величины.
Систематическая погрешность по причинам возникновения делится на методические, аппаратурные, субъективные.
Методические погрешности появляются в следствие несовершенства разработанного метода измерения данной величины, неточности формул выведенных с некоторыми допущениями и влиянию измерительного прибора на объект измерения.
Аппаратурная погрешность обусловлена несовершенством СИТ (изменением показаний при изменении напряжения питания, или температуры окружающей среды, неточностью группировки, неправильным расположением прибора, влиянием одного прибора на другой и наличием внешнего электромагнитного поля ).
Субъективные погрешности связаны с индивидуальными особенностями наблюдателя.
Промахи проявляются вследствие неправильных действий оператора. Например: записаны показания со шкалы, не относящейся к данному измерению, не учтена запятая при расчёте.
Систематическая погрешность может быть постоянной и переменной. Постоянная остается неизменной в интервале времени измерения.
При одновременном
измерении одной и той же величины рабочим
и образцовым приборами получают показания
и
,
разность между ними является абсолютной
погрешностью
.
Далее вводятся напряжения равные абсолютной погрешности с обратным знаком:
Результатом измерения считают сумму:
Уменьшение постоянной систематической погрешности возможно двумя методами:
1.Метод замещения
заключается в замене измеряемой величины
известной
величиной
известной величиной
т.о., чтобы состояние измерительного
прибора осталось неизменным, тогда
.
Например: стрелочным
омметром измеряли сопротивление
резистора и получили показания
,
-
системная погрешность.
Затем вместо измеряемого
резистора включают магазин сопротивлений
и путём регулировки добиваются прежнего
показания
,
очевидно что
2.Метод компенсации по знаку.
Выполняют два наблюдения так, чтобы в результате погрешность входила с разными знаками.
Переменные систематические погрешности разделяют на прогрессирующие и периодические.
Прогрессирующие возрастают или убывают в функции некоторого аргумента, их вызывающего.
Периодические изменяются в интервале времени наблюдения с определением периода.
Для уменьшения переменных систематических погрешностей необходимо выявить закон их изменения и вычислить поправки.