Добавил:
Upload Опубликованный материал нарушает ваши авторские права? Сообщите нам.
Вуз: Предмет: Файл:
Primer_kursovogo.doc
Скачиваний:
0
Добавлен:
01.03.2025
Размер:
861.7 Кб
Скачать

1.2 Розрахунки параметрів і характеристик діода

Вихідні дані для розрахунків напівпровідникового діода представлено в таблиці 1.2.1, а графічні пояснення до них на рисунку 1.2.1. Використовую такі позначення:

A — ширина й довжина кристала (кристал квадратний), см;

h — товщина пластини, см;

б — товщина бази, см;

Nбконцентрація домішкових атомів у базі діода, см-3;

Nэконцентрація домішкових атомів в емітері діода, см-3;

бчас життя нерівноважних носіїв заряду, с;

Rt тепловий опір корпуса діода, К/Вт

Рисунок 1.2.1 — Напівпровідникова структура діода й

пояснення до вихідних даних

Таблиця 1.2.1 Вихідні дані

А, см

h, см

б, см

Nб, см-3

Nэ, см-3

б, с

Rt,К/Вт

0,5

0,025

0,023

2·1014

1018

510-6

4

У розрахунках відходжу від системи СІ: у якості одиниць довжини (та похідних від неї), у даному випадку, вигідніше використовувати сантиметри. Розмірність інших величин залишаю у системі СІ.

Використовую позначення Iобр та Uобр замість Iзвор та Uзвор відповідно.

Крім вихідних даних у розрахунках присутні наступні величини:

— заряд електрона, Кл;

— електрична постійна, Ф/см,

— діелектрична проникність кремнію;

— постійна Больцмана, Дж/К;

— власна концентрація носіїв заряду в кремнії, см-3;

— температура корпуса діода, К;

— максимальна температура кристала, К.

1) По графічних залежностях рухливості носіїв заряду від концентрації домішки (додаток А, рис. А.1) при відомій концентрації домішки в базі діода Nб визначаємо рухомість основних (електронів) і неосновних (дірок) носіїв заряду в базі:

- рухомість електронів

- рухомість дірок

2) Питомий опір бази діода

3) Площа р-n переходу

4) Опір бази діода

5) Тепловий потенціал

6) Коефіцієнт дифузії дірок у базу діода залежить від рухливості дірок у базі й теплового потенціалу

7) Тепловий струм переходу

8) Робочу зворотню напругу діода можна визначити як 70% від напруги лавинного пробою цього діода, при цьому напруги тунельного пробою й проколу можна не розраховувати, оскільки вони суттєво вище.

Напругу лавинного пробою визначаємо по емпіричній формулі через питомий опір бази діода, знайдений раніше

Тоді

9) Контактна різниця потенціалів

10) Товщина збідненого шару

;

11) Коефіцієнт лавинного множення носіїв заряду при максимальній зворотній напрузі на діоді (величина n приймається рівної 5)

Знаючи діапазон зміни зворотної напруги на діоді від 0 до , можна побудувати графік залежності коефіцієнта лавинного множення від зворотної напруги по формулі

Результати розрахунків наведено в таблиці 1.2.2, а побудована по них залежність на рисунку 1.2.2.

Таблиця 1.2.2 Залежність

Uобр, В

0

30

90

150

210

270

330

390

450

М

1

1

1

1.001

1.004

1.013

1.036

1.088

1.197

Uобр, В

М

Рисунок 1.2.2 — Залежність коефіцієнта лавинного множення носіїв заряду від зворотної напруги

12) Генераційний струм переходу

13) Зворотний струм діода при максимальній зворотній напрузі на діоді

14) Дифузійна довжина нерівноважних носіїв заряду (дірок) у базі

15) Відносна товщина бази

16) Співвідношення рухливостей електронів і дірок

17) Струм

18) Далі необхідно визначити максимальне значення прямого струму через діод і максимальне пряме спадання напруги на діоді . Ці величини знаходять із умови рівності електричної потужності, яка визначається їхнім добутком, і теплової потужності, яка передається від кристала до корпуса діода.

Теплова потужність, яка може бути відведена від кристала рівна

Таким чином, умова правильного розрахунку величин

Для знаходження та використовую функції математичного пакету Mathcad.

Рівняння прямої гілки вольт-амперної характеристики діода має вигляд

Оскільки опір бази діода, який є в другій частині залежить від струму, що протікає через діод, а цей струм у першій частині знаходиться у логарифмі — розв'язок не може бути отриманий в аналітичному вигляді. А оскільки ще є умова балансу потужностей, використовується чисельний метод розв'язку, який мі проводимо в Mathcad. При цьому треба зробити додаткові розрахунки.

Розрахунковий коефіцієнт

Опір бази

;

;

Максимальне пряме падіння напруги на діоді

19) Щільність струму в p-n переході

20) Розраховуємо пряму гілка вольт-амперної характеристики діода. Для цього в рівняння ВАХ діода

підставляємо значення струму від 0 до , результати розрахунків заношу в таблицю 1.2.3, а побудована залежність на рисунку 1.2.3.

Таблиця 1.2.3 Пряма гілка ВАХ

Uпр, В

0.506

1.165

1.183

1.194

1.201

1.207

1.212

1.216

1.219

1.222

1.223

Iпр, А

0

2.5

5

7.5

10

12.5

15

17.5

20

22.5

23.102

Iпр, А

Uпр, В

Рисунок 1.2.3 — Пряма гілка ВАХ діода

21) Розраховую зворотну гілку ВАХ діода. При цьому слід урахувати, що генераційний струм, який стоїть у формулі зворотної гілки ВАХ і коефіцієнт лавинного множення не є постійними величинами, а залежать від зворотної напруги.

Визначаємо розрахунковий коефіцієнт

Залежність розрахована раніше, тому результати можна взяти з таблиці 1.2.2.

Підставляємо у формулу значення зворотної напруги від 0 до й розраховуємо генераційний струм, а потім зворотний струм діода. Результати розрахунків заношу у таблицю 1.2.4, а зворотну гілку ВАХ діода зображую на рисунку 1.2.4.

Таблиця 1.2.4 Залежність

Uобр, В

0

30

60

120

180

240

300

360

450

М

1

1

1

1

1,002

1,007

1,022

1,057

1,197

Iг, мкА

0,012

0,080

0,112

0,159

0,194

0,224

0,250

0,274

0,306

Iобр, мкА

0,012

0,080

0,112

0,159

0,194

0,225

0,256

0,290

0,367

Uобр, В

Iобр, мкА

Рисунок 1.2.4 — Зворотна гілка ВАХ діода

Соседние файлы в предмете [НЕСОРТИРОВАННОЕ]