
- •Федеральное агентство по образованию
- •1. Основы электрических измерений
- •1.1. Основные понятия и определения
- •1.2. Точностные характеристики средств измерений
- •1.3. Анализ статических погрешностей электронных схем
- •2. Простейшие электронные цепи и методы их анализа
- •2.1. Основные понятия и определения
- •2.2. Применение операторного метода к расчету электрических цепей
- •2.2.1. Прямое преобразование Лапласа
- •2.2.2. Обратное преобразование Лапласа
- •3. Типовые структуры электронных устройств и их свойства
- •3.1. Последовательная структура и ее свойства
- •3.2. Параллельная структура и ее свойства
- •3.3. Встречно-параллельное соединение
- •3.4. Задачи
- •4. Пассивные полупроводниковые компоненты электронных цепей
- •4.1. Полупроводниковые диоды и стабилитроны
- •4.2. Примеры применения полупроводниковых диодов
- •4.3. Светодиоды
- •4.4. Фотодиоды
- •5. Активные полупроводниковые компоненты электронных цепей
- •5.1. Биполярные транзисторы и их применение
- •5.1.1. Структура и принцип действия биполярных транзисторов
- •5.1.2. Характеристики и параметры биполярных транзисторов
- •5.1.3. Обеспечение усилительного режима бт в схемах
- •В результате получаем
- •5.1.4. Малосигнальные эквивалентные схемы и усилительные параметры бт
- •5.1.5. Амплитудно-частотные характеристики бт
- •5.1.6. Элементы транзисторной схемотехники
- •5.2. Полевые транзисторы и их применение
- •5.2.1. Классификация и общие особенности полевых транзисторов
- •5.2.2. Статические характеристики и дифференциальные параметры
- •5.2.3. Способы задания смещения в усилительных каскадах на пт
- •5.2.4. Малосигнальные эквивалентные схемы и усилительные параметры пт
- •5.2.5. Температурная стабильность параметров пт
- •5.2.6. Передаточная функция и динамические свойства пт Инерционные свойства пт описываются передаточной функцией вида
- •5.3. Задачи
- •6. Интегральные микросхемы и их классификация
- •7. Аналоговые интегральные микросхемы и их применение
- •7.1. Операционные усилители и их применение
- •7.1.1. Понятие идеального операционного усилителя
- •7.1.2. Принципы и примеры расчета схем с операционными усилителями
- •7.1.3. Динамические свойства устройств на операционных усилителях
- •7.1.4. Точностные характеристики устройств на операционных усилителях
- •7.1.5. Применение операционных усилителей
- •7.1.6. Задачи
- •7.2. Компараторы
- •7.3. Аналоговые ключи и коммутаторы
- •7.4. Устройства выборки-хранения
- •7.5. Интегральный таймер
- •7.5.1. Задачи
- •7.7. Справочные данные на оу
- •8. Цифро-аналоговые и аналого-цифровые преобразователи
- •8.1. Цифро-аналоговые преобразователи (цап)
- •8.2. Аналого-цифровые преобразователи (ацп)
- •9. Цифровые интегральные микросхемы и их применение
- •9.1. Элементы алгебры логики
- •9.2. Основные типы цифровых имс
- •9.3. Параметры цимс
- •9.4. Комбинационные логические цепи
- •9.4.1. Основные разновидности комбинационных логических цепей
- •9.4.2. Синтез комбинационных логических цепей
- •9.5. Последовательностные логические цепи
- •9.5.1. Классификация последовательностных логических цепей
- •9.5.2. Триггеры
- •9.5.3. Регистры
- •9.5.4. Счетчики импульсов
- •9.6. Применение цифровых имс в импульсных цепях
- •9.7. Задачи
- •10. Микросхемы полупроводниковых запоминающих устройств
- •10.1. Классификация полупроводниковых запоминающих устройств
- •10.2. Построение модулей памяти микропроцессорных систем
- •11. Элементы микропроцессорной техники
- •11.1. Общие сведения о микроконтроллерах семейства piCmicro
- •1. Ядро микроконтроллера
- •2. Периферийные модули
- •3. Специальные особенности микроконтроллеров
- •Ядро микроконтроллера
- •Порты ввода-вывода
- •Периферийные модули
- •11.2. Примеры применения микроконтроллеров piCmicro
- •11.2.1. Устройство управления четырьмя светодиодами
- •Incf portb, f ; включить крайний справа светодиод
- •11.2.2. Управление жки с помощью последовательного адаптера
- •11.2.3. Аналого-цифровое преобразование
- •11.3. Общие сведения о микроконтроллерах семейства avr
- •Режимы адресации программ и данных.
- •11.4. Примеры применения микроконтроллеров avr
- •11.4.1. Ик дальномер
- •Библиографический список
- •Оглавление
4. Пассивные полупроводниковые компоненты электронных цепей
4.1. Полупроводниковые диоды и стабилитроны
Полупроводниковый диод – конструктивная совокупность p-n-перехода и контактов, обладающая свойствами односторонней проводимости. Под p-n-переходом понимается область объемного заряда, образующаяся по обе стороны границы раздела двух полупроводниковых слоев n- и p-типа (см. рис. 4.1).
K n p A
p-n-переход
Рис. 4.1. Структура и обозначение полупроводникового диода
Контакт, присоединенный к p-слою, называется анод, а к n-слою – катод. Основными материалами для изготовления диодов служат кремний, германий, арсенид галлия, карбид кремния и ряд других. Введение специальных примесей позволяет создать в n-слое избыток свободных отрицательно заряженных носителей – электронов, а в p-слое избыток свободных положительно заряженных носителей – дырок. При соединении слоев n- и p-типов происходит рекомбинация свободных носителей заряда так, что по обе стороны от металлургической границы формируются нескомпенсированные ионы атомов акцепторной примеси в p-слое и донорной примеси в n-слое. Так как ионы неподвижны и в p-слое имеют отрицательный заряд, а в n-слое положительный, то такая система может рассматриваться как плоский заряженный конденсатор. Внутри такого конденсатора свободные носители заряда отсутствуют, его сопротивление велико. Таким образом, p-n-переход представляет собой область, обедненную носителями заряда и обладающую внутренним потенциальным барьером. При включении диода во внешнюю цепь с источником напряжения и ограничивающим сопротивлением возможны две ситуации. Прямое включение, когда + источника приложен к p-слою, характеризуется уменьшением высоты потенциального барьера на величину приложенного напряжения и соответственно увеличением тока диода. При обратном включении, когда + источника приложен к n-слою, высота потенциального барьера увеличивается на величину приложенного напряжения, обкладки конденсатора как бы раздвигаются и ток диода уменьшается. Внешне указанные явления отражаются в нелинейной форме ВАХ диода (рис. 4.2):
I = I0 (exp( U/t) – 1), (4.1)
где I0 – тепловой ток перехода, имеющий порядок 10-12 А для кремния; t – температурный потенциал; U – напряжение на диоде.
Тепловой ток изменяется при изменении температуры со скоростью примерно 16 %/K. Температурный потенциал прямо пропорционален абсолютной температуре T:
t = kT/q, (4.2)
где k = 1,38.10-23 Дж/К – постоянная Больцмана; q = 1,6.10-19 Кл – заряд электрона. При комнатной температуре (T = 300 K) t 26 мВ. На прямой ветви ВАХ диода (1 квадрант, U > 0) прямой ток возрастает в 10 раз при каждом увеличении U на 60 мВ. В этом случае в формуле (4.1) exp(U/t) >> 1 и можно пренебречь единицей. В обратном включении (U < 0) экспоненциальный член в уравнении (4.1) становится малым по сравнению с единицей и ток диода I = - I0. Если для крутого участка прямой ветви ВАХ диода провести касательную до ее пересечения с осью напряжений, то получим точку U* 0,6 В.
Рис. 4.2. Вольт-амперная характеристика диода
Это напряжение называется напряжением отпирания диода (для диодов с барьером Шоттки U* (0,4-0,5) В, для германиевых диодов U* (0,2-0,3) В). Для упрощения расчетов схем с диодами принято, что прямая ветвь при достижении напряжения отпирания идет параллельно оси тока. Это означает, что диод в прямом включении эквивалентен источнику напряжения с малым внутренним сопротивлением. Значение внутреннего сопротивления оценивается по формуле r = dU/dI, поэтому r еще называют дифференциальным сопротивлением. Учитывая, что из (4.1) U = t Ln (I/ I0 – 1), имеем
r = t/I. (4.3)
Так, например, при прямом токе I = 10 мА дифференциальное сопротивление диода составляет 26 мВ/10 мА = 2,6 Ом. При напряжениях, меньших U* 0,6 В, ток диода резко падает, поэтому можно считать, что прямая ветвь практически совпадает с осью напряжений. Напряжение отпирания изменяется от температуры со скоростью примерно –2мВ/K, т.е. с увеличеним температуры ВАХ "прижимается" к оси тока, причем dI/dT = (dU/dT)/r = (–dU*/dT)/r . Для предыдущего примера имеем dI/dT = (2мВ/2,6 Ом)/K 0,7 мА/K. Таким образом, с увеличением температуры прямой ток диода довольно существенно увеличивается. Этот факт необходимо учитывать при разработке схем с диодами.
На ход обратной ветви ВАХ реального диода оказывают влияние два обс-тоятельства. Во-первых, обратный ток диода больше теплового примерно на два порядка за счет наличия тока термогенерации: Iобр = – (I0 + Iтг) Iтг 10-10 А. Явление термогенерации заключается в возникновении в области объемного заряда электронно-дырочных пар в результате флуктуаций температуры и разделении носителей полем p-n–перехода. Во-вторых, при увеличении обратного напряжения до некоторого критического значения Us происходит электрический пробой p-n-перехода, подобный электрическому пробою диэлектрика обычного конденсатора. В результате обратный ток диода увеличивается до значений, соизмеримых со значениями прямого тока (единицы–десятки миллиампер). При этом обратная ветвь ВАХ резко изгибается вниз и идет почти параллельно оси тока. Если при наступлении электрического пробоя выделяющаяся мощность превысит допустимую мощность рассеяния диода, наступает тепловой пробой, в результате которого диод выходит из строя. В отличие от теплового, электрический пробой является обратимым, когда при снятии внешнего напряжения свойства диода полностью восстанавливаются. Явление электрического пробоя используется в стабилитронах – диодах, предназначенных для стабилизации и ограничения напряжения на уровне Us (3–100) В. В режиме электрического пробоя дифференциальное сопротивление стабилитрона имеет такой же порядок, что и при прямом включении, и составляет единицы–десятки Ом. Еще одним важным параметром стабилитрона является температурный коэффициент напряжения стабилизации ТКст = dUs/dT, В/K. ТКст показывает, на сколько вольт изменится напряжение Us стабилизации при изменении температуры на 1 оС.
Модель p-n–перехода как своеобразного полупроводникового конденсатора, расстояние между обкладками которого можно "регулировать" с помощью внешнего напряжения, нашла применение в специальных диодах – варикапах. Емкость диода имеет две составляющие: барьерную и диффузионную. Барьерная емкость отражает перераспределение зарядов в переходе и характеризует изменение ширины перехода под действием обратного напряжения. Общий вид зависимости барьерной емкости от напряжения – гиперболический: Cб A/U, где А – некоторая постоянная, диапазон изменения которой лежит от единиц до сотен пикофарад. Диффузионная емкость отражает перераспределение зарядов в базе (p-слое) и характеризует накопление избыточного заряда при протекании прямого тока: чем больше прямой ток, тем больше диффузионная емкость. Именно диффузионная емкость определяет инерционные свойства диода, ограничивая его быстродействие как на высоких частотах, так и при работе с импульсными сигналами. Наиболее эффективно проблема уменьшения диффузионной емкости решается в диодах Шоттки. Вместо классического p-n–перехода и носителей двух типов (электронов и дырок), в диодах Шоттки потенциальный барьер с областью, обедненной носителями заряда, создается на границе раздела "металл-полупроводник" за счет разной работы выхода. Поскольку и в металле, и в полупроводнике присутствуют только основные носители одного знака – электроны, то эффекты накопления и рассасывания неосновных носителей практически отсутствуют и, следовательно, диффузионная емкость минимизируется. В то же время ВАХ диодов Шоттки более точно, чем у обычных диодов, описывается формулой (4.1) с напряжением отпирания (0,4–0,5) В. Другим достоинством диодов Шоттки является их высокая технологичность. Поэтому эти диоды нашли самое широкое распространение в интегральной и гибридной схемотехнике.