- •Классификация и принципы построения восп.
- •Типовая структурная схема восп.
- •Способы увеличения трафика.
- •Оптический передатчик. Передающий оптический модуль(пом).
- •Светоизлучающий диод с торцевым излучением.
- •Суперлюминесцентный светоизлучающий диод(слд).
- •Полупроводниковый лазер.
- •Методы модуляции оптического излучения.
- •Оптические приемники. Приемный оптический модуль.
- •Вывод излучения из оптического волокна и ввод в фотодиод.
- •Ретрансляционные устройства.
- •Устройства соединения компонентов восп. Оптические соединители.
- •Оптические разветвители.
- •Другие устройства.
- •Оптические аттенюаторы.
- •Оптические переключатели.
- •Термооптические , акустооптические, электрооптические переключатели.
- •Современные информационные технологии и аппаратура восп.
- •Синхронная и плезеохронная цифровые иерархии.
- •Виды синхронных мультиплексоров.
- •Послойное построение сети.
- •Выравнивание.
- •Мультиплексирование или группообразование.
- •Размещение четверичного потока e-4 в контейнер c-4.
- •Размещение третичного цп pdh со скоростью 34368 кбит/с в контейнере c-3
- •Байт типа z со структурой s2iiiiiii
- •Формирование vc-12
- •Топология сетей sdh.
- •Архитектура сетей sdh
- •Волновое мультиплексирование.
- •Рис(оптический линейный тракт со спектральным уплотнением).
- •Рис(схема гибридного несимметричного частотного плана).
- •Вторая схема гибридного несимметричного частотного плана.
- •Основы управления сетями sdh.
Оптические приемники. Приемный оптический модуль.
Оптический приемник осуществляет преобразование оптического сигнала в электрический.
В состав оптического приемника входит:
Фотодетектор(фотодетектор)
Приемное оптическое устройство
электронные схемы усиления и обработки технического сигнала
схемы стабилизации или АРУ
Основные требования к фотодетектору:
должен обладать высокой чувствительностью
высокое быстродействие
должен вносить минимальные шумы в приемную систему
должен иметь высокую стабильность рабочих характеристик
иметь небольшие размеры, быть высоконадёжным и недорогим
На длине 0,85 мкм используется кремний (Si). Для других диапазонов –германий.
В основном используется p-i-n фотодиоды и ABD – лавинные фотодиоды. В основе работы этих устройств лежит явление внутреннего фотоэффекта в полупроводниковом материале заключается в образовании пары носителей зарядов при поглощении фотона энергия «j» > = ширине запрещенной зоны.
Рис. Схема структуры p-i-n фотодиода.
Структура pin-фотодиода схематично показана на рис. 4.9. Между тонкими слоями сильно легированных полупроводников р+- и n+- типа (знак «+» означает сильное легирование) расположен слаболегированный полупроводник n-типа. При обратном напряжении смещения в последнем образуется обедненная область. Электрическое поле в основном сосредоточено в этой области, поскольку ее сопротивление значительно больше, чем сопротивления р+ и n+ -слоев.
В результате поглощения фотонов падающего излучения в pin-структуре образуются электронно-дырочные пары. В -области под действием сильного электрического поля происходит быстрое разделение носителей зарядов (дрейфовое движение), что обеспечивает высокую скорость процесса преобразования оптического излучения в электрический ток. Поскольку -область достаточно широка, достигается и высокая эффективность процесса преобразования.
В р+ - и n+ - слоях электрическое поле практически отсутствует. Вследствие этого движение носителей зарядов в них возможно, в основном, за счет диффузии, скорость которой примерно на три порядка ниже скорости дрейфового движения. Таким образом, диффузионный ток ухудшает быстродействие ФД. Кроме того, поскольку разделение носителей происходит медленно, часть из них рекомбинирует, и эффективность работы ФД снижается. Чтобы уменьшить эти нежелательные эффекты, при разработке конструкции ФД р+ - слой стремятся сделать как можно тоньше, а толщину слоя выбирают достаточно большой, чтобы обеспечить полное поглощение падающего излучения. Основными параметрами ФД являются квантовый выход (эффективность), токовая чувствительность S и темновой ток IТ.
Токовая чувствительность — это отношение среднего значения фототока в нагрузке RH к среднему значению мощности падающего оптического излучения: S = Iф/Р, А/Вт.
Типичное значение S на рабочей длине волны S = (0,5...0,8) А/Вт.
В отсутствие падающего на ФД оптического излучения при обратном смещении через нагрузку протекает ток, который называется темновым.
Величина «М» составляет несколько десятков. Поэтому токовая чувствительность ЛФД значительно превышает токовую чувствительность p и n фотодиода.