
- •Содержание
- •Предисловие
- •Газовые ионизационные детекторы Введение
- •Ионизационные камеры
- •Токовый режим работы ионизационной камеры (ик).
- •Импульсный режим работы ионизационной камеры.
- •Назначение и особенности ик
- •Пропорциональные счетчики
- •Самогасящиеся счетчики Гейгера - Мюллера (сгм)
- •Особенности и область использования сгм
- •Коронные счетчики медленных нейтронов
- •Особенности и область использования снм
- •Работа 1.1 Изучение ионизационной камеры деления.
- •Содержание лабораторной работы.
- •Порядок выполнения работы
- •1. Изучение шумов в счетном тракте.
- •Построение счетной и дискриминационной характеристик камеры кнт-31-1м.
- •Расчет δn/n
- •Определение разрешающее время счетного канала методом двух источников.
- •2. Спектрометрия гамма-излучения
- •Физические основы гамма спектрометрии
- •Определение энергии гамма кванта
- •Структура и функции спектрометра гамма излучения
- •Основные параметры спектрометра
- •Работа 2.1 Сцинтилляционный спектрометр гамма излучения
- •Введение
- •Неорганические сцинтилляторы
- •Некоторые неорганические сцинтилляторы и их свойства Таблица 2.1.1
- •Органические сцинтилляторы
- •Некоторые органические сцинтилляторы и их свойства Таблица 2.1.2
- •Фотоэлектронные умножители (фэу)
- •Качественная оценка предельной разрешающей способности спектрометра со сцинтилляционным детектором
- •Калибровка спектрометра со сцинтилляционным детектором гамма квантов
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 2.2 Полупроводниковый спектрометр гамма излучения
- •Общие положения
- •Способы увеличения удельного электрического сопротивления (уменьшения проводимости) полупроводниковых материалов
- •Типы полупроводниковых детекторов
- •Энергетическое разрешение полупроводниковых спектрометров
- •Электронные блоки спектрометра с ппд
- •Основные особенности ппд
- •Калибровка спектрометра с полупроводниковым детектором гамма квантов
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 2.3 Оптимизация электронного тракта полупроводникового спектрометра гамма излучения
- •Введение
- •Задание 1. Изучение зависимости энергетического разрешения спектрометра с ппд детектором от величины постоянной времени формирования импульса в луф
- •Порядок выполнения работы
- •Задание 2. Определение загрузочной способности спектрометра
- •Порядок выполнения работы
- •Задание 3. Изучение зависимости энергетического разрешения ппд от рабочего напряжения
- •Порядок выполнения работы
- •3. Детектирование нейтронов активационным методом Введение
- •Основные понятия и соотношения
- •Измерение активности образцов
- •Работа 3.1. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов активационным методом
- •Введение
- •Задание. Определение интегральной плотности потока тепловых нейтронов в графитовой призме
- •Порядок выполнения работы
- •Работа 3.2 Возмущение поля тепловых нейтронов образцами
- •Введение
- •Введение поправок на эффекты возмущения нейтронного поля
- •Возмущение образцом поля тепловых нейтронов
- •Учет возмущения спектра облучающих образец нейтронов
- •Задание 1 Экспериментальное изучение эффектов возмущения поля тепловых нейтронов образцами
- •Изучение депрессии нейтронного поля вследствие введения в него поглотителя.
- •Порядок выполнения работы
- •Приложение Компьютерные программы для сопровождения практикума Программа аср
- •Программа eff
- •Программа dwlpeff
- •Программа tip
- •Программа line
- •Список литературы
- •"Детектирование нейтронов"
- •115409, Москва, Каширское шоссе 31.
Построение счетной и дискриминационной характеристик камеры кнт-31-1м.
Счетная характеристика - зависимость скорости регистрации нейтронов от напряжения на камере при неизменном уровне дискриминации.
Дискриминационная характеристика - зависимость скорости регистрации нейтронов от уровня дискриминации U д при неизменном напряжении на камере.
Поместить камеру в нейтронное поле. Изолировать корпус камеры от соприкосновения с установкой. Результаты измерения числа зарегистрированных нейтронов занести в таблицу Ф1.1.2. Время измерений - 100 с.
Число зарегистрированных нейтронов за 100 с Таблица Ф1.1.2
Уровень дискрими- нации, В |
Напряжение на камере, В |
|
|||||||
100 |
150 |
200 |
250 |
||||||
Число импульсов N за 100 с |
|
||||||||
N |
ln(N) |
N |
ln(N) |
N |
ln(N) |
N |
ln(N) |
||
U д мин |
|
|
|
|
|
|
|
|
+- |
U д мин + 0,5 |
|
|
|
|
|
|
|
|
+- |
U д мин + 1,0 |
|
|
|
|
|
|
|
|
+- |
U д мин + 1,5 |
|
|
|
|
|
|
|
|
+- |
|
+- |
+- |
+- |
+- |
|
По данным таблицы Ф1.1.2 построить в полулогарифмическом масштабе семейства счетных ln(N) = F(UД) и дискриминационных ln(N) = F(UK) характеристик ионизационной камеры деления.
Производные рассчитать методом наименьших квадратов в предположении, что счетная и дискриминационная характеристики - линейные (использовать программу LAB1).
Расчет δn/n
Полагая, что дрейф напряжения и питания и уровня дискриминации есть независимые случайные величины, рассчитать относительную величину нестабильности счетного канала вследствие возможного дрейфа UД и UК на 1% от номинала (10В и 400В, соответственно) по формуле:
. (1.1.1.)
Результаты расчета занести в таблицу Ф1.1.3.
Руководствуясь данными Таблицы Ф1.1.3 выбрать рабочее напряжение на электродах камеры.
Результаты расчета относительного изменения
скорости счета нейтронов Таблица Ф1.1.3
Уровень дискрими- нации, В |
Напряжение на камере, В |
|||||||
100 |
150 |
200 |
250 |
|||||
Относительная нестабильность счетного канала |
||||||||
ΔN/N |
ΔN/N |
ΔN/N |
ΔN/N |
|||||
U д мин |
|
+- |
|
+- |
|
+- |
|
+- |
U д мин + 0,5 |
|
+- |
|
+- |
|
+- |
|
+- |
U д мин + 1,0 |
|
+- |
|
+- |
|
+- |
|
+- |
U д мин + 1,5 |
|
+- |
|
+- |
|
+- |
|
+- |